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NAPSON 半自動四點探針Mapping測試儀
描述：CRBOX半自動四探針測試儀可用于測試硅晶片及擴散層、外延層、ITO導 電薄膜、金屬薄膜等材料的電阻率和方塊電阻，具有圖譜軟件功能，可作二維、三維圖形； 具有厚度/邊緣/溫度補償功能；... 立即詢價上海市
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