主要特點和優(yōu)點

• 高達(dá)26Gb/s 的碼型發(fā)生、誤碼分析和BER 測試能力
• 集成的高帶壓力測試信號生成
• • 100MHz 的正弦抖動(SJ)頻率
  • 隨機(jī)抖動(RJ)
  • 有界不相關(guān)抖動(BUJ)
  • 正弦干擾(SI)
• 加壓力的電眼圖測試包括：
• • PCI Express
  • 10/40/100 Gb 以太網(wǎng)
  • SFP+/SFI
  • XFP/XFI
  • OIF/CEI
  • Fibre Channel
  • Serial ATA I/O
  • USB 3.0
  • 更多
• 抖動裕量(Margin)測試、抖動容限一致性模板測試
• 集合模板測試、抖動峰值、BER 輪廓和Q- 因子分析于一身 的物理層測試套件
• 可變深度的眼圖和模板測量s
• 集成的眼圖和BER 相關(guān)分析
• 為滿足XFP/XFI和OIF-CEI等新標(biāo)準(zhǔn)所要求的誤碼率水平 為10-12 的模板性能評估，提供了一致性Contour 測試
• Jitter Map選件系統(tǒng)豐富的抖動解析-使用長碼型(如:PRBS31) 抖動三角形測量法
• 豐富的差分分頻時鐘輸出，提供儀器級的時鐘源
• 的錯誤定位分析技術(shù)

應(yīng)用

• 設(shè)計驗證包括信號完整性、抖動和時序分析
• 對高速串行系統(tǒng)、復(fù)雜設(shè)計的性能測試
• 工業(yè)高速串行數(shù)據(jù)流標(biāo)準(zhǔn)驗證、鑒定測試
• 設(shè)計/ 驗證高速I/O 組件和系統(tǒng)
• 信號完整性分析- 模板、峰值抖動、BER 輪廓、Jitter Map 和Q- 因子分析
• 設(shè)計/ 驗證光發(fā)射接收機(jī)

多域觀測

眼圖一直作為系統(tǒng)性能簡單、直觀的表現(xiàn)，但是很難和BER性能聯(lián)系起來，因為測試儀器從根本上有很大的差別。示波器測量的眼圖是由較少的測試樣本組成，不容易發(fā)現(xiàn)一些罕見偶發(fā)的事件。誤碼儀 (BERT) 能夠?qū)γ恳粋€比特計數(shù)，因此能夠提供基于很大量數(shù)據(jù)集樣本的測試，但是測試結(jié)果缺乏對信息的直觀的表征和故障排查。

BERTScope結(jié)合兩者的優(yōu)勢，允許快速、簡單的觀測眼圖，并比傳統(tǒng)的眼圖測試樣本多至少多兩個數(shù)量級?？梢园凑丈蠄D的例子中所示的那樣，通過簡單的移動BERT 的采樣點，將光標(biāo)放在感興趣的地方，使用強(qiáng)大的誤碼分析能力，獲得更多更深入的信息。例如，檢查碼型對當(dāng)前上升沿影響的敏感程度?；蛘撸褂靡绘I式BER Contour測量，檢驗是否性能問題是有界的，或者可能會導(dǎo)致哪些故障。在每一個例子里，測試樣本碼型可以是2³¹-1的偽隨機(jī)碼，可以幫助建立模型或者故障定位。

簡化Tx 端測試

使用BERTScope模板功能和DCRj12500A參考接收機(jī)測試光模塊Tx 端

無論數(shù)據(jù)通道是光接口還是電接口，BERTScope 都會提供前 所未有的洞察力。除了傳統(tǒng)的視圖和測量之外，BERTScope 能提供更多的信息幫助調(diào)試、性能測試，加速產(chǎn)品的設(shè)計。

數(shù)據(jù)豐富的眼圖

BERTScope測試光接口信號。在這個例子中，使用了Picometrix接收機(jī)，并自動切換光域測量。

正如前面所示，BERTScope 在測量數(shù)據(jù)樣本深度方面與傳統(tǒng)的眼圖測試有著巨大的差異。這個差異意味著你能看到更加真實的情況，無論是什么樣的系統(tǒng)，更多低概率事件將會隨著每次長數(shù)據(jù)碼型運(yùn)行而出現(xiàn)，不管是有隨機(jī)噪聲，還是從VCO引起的隨機(jī)抖動。通過一鍵式的BER Contour、抖動峰值和Q-因子測試，能夠增加對系統(tǒng)更深層次的認(rèn)識，增加對設(shè)計的信心。

深度模板測試

由于可以改變采樣深度，因此BERTScope 即可以利用深度測量，得到高的系統(tǒng)的性能，又可以用少量樣本測試，和取樣示波器的測試結(jié)果匹配。在上圖所示的是光接口的眼圖測試。如果將BERTScope的采樣深度僅設(shè)置為3000 個波形，BERTScope 在1 秒鐘之內(nèi)就能生成眼圖。測量得到的裕量有20%，和取樣示波器的測試結(jié)果一致。下面一點的圖顯示的是使用一致性輪廓測量得到的誤碼率水平為10^-6的結(jié)果，模板裕量減少到17%。

眼圖測試樣本深度優(yōu)勢至少是模板測試的10倍。不像其他誤碼儀提供的“偽”模板測試那樣，BERTScope能對模板邊沿的每一個樣點進(jìn)行采樣，包括在眼圖之上和之下的區(qū)域。不僅如此，每一個點都能看到之前從未看到過的深度。這意味著既是使用工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化模板或自定義模板持續(xù)測試幾秒鐘，也能確保被測設(shè)備沒有隱藏的問題。

為工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)提供高的抖動測試

無論測試碼型的長短，靠推算得到抖動結(jié)果得方法是不能達(dá)到抖動測量的。BERTScope 能快速測量誤碼率水平為10^-9(高速信號可達(dá)10^-10)，或者等待儀器直接測量到10^-12水平。對于這兩種測試方法，BERTScope 的一鍵式測量都嚴(yán)格符合MJSQ 定義的抖動測試方法，并且BERTScope 中內(nèi)部的延遲 控制是誤碼儀中的，可以確保抖動測試的。可使用內(nèi)建的抖動計算模型，包括TJ，RJ，DJ，或者將測試數(shù)據(jù)輸出，進(jìn)行自定義的抖動建模分析。

模板一致性輪廓測試

前許多的測試標(biāo)準(zhǔn)像XFP/XFI和OIF CEI等都定義模板測試，其目的是確保在誤碼率水平為10^-12時眼的張開度。一致性輪廓(等高線)視圖可以方便的了解到在不同誤碼率水平下模板是否通過。

快速選型指南

型號	比特率	帶壓力眼圖 – SJ, RJ, BUJ, SI	類型
BSA260C/CPG	26 Gb/s	Opt. STR	信號發(fā)生器/ 分析器
BSA175C/CPG	17.5 Gb/s	Opt. STR	信號發(fā)生器/ 分析器
BSA125C/CPG	12.5 Gb/s	Opt. STR	信號發(fā)生器/ 分析器
BSA85C	8.5 Gb/s	Opt. STR	信號分析器

靈活的時鐘模式

BERTScope STR 選項的時鐘路徑

BERTScope 非常有特色時鐘產(chǎn)生路徑，為現(xiàn)實世界中不斷涌現(xiàn)出的設(shè)備提供了靈活的測試方案。無論是電腦插卡還是硬盤，通常都需要提供子速率(sub-rate)系統(tǒng)時鐘，例如PCIExpress^?中100MHz的時鐘。為了能使被測系統(tǒng)正常工作，需要提供差分的系統(tǒng)時鐘，而且時鐘的幅度、偏置各有不同；BERTScope 內(nèi)部提供靈活的分頻系數(shù)，其靈活構(gòu)架可以完成各種時鐘的生成。

PCI Express Tx 端測量- 上面的截圖是用BERTScope 進(jìn)行的一致性測量。PCI Express 子卡插在一致性測試板中，BERTScope 提供正確幅度和偏置的100MHz 的差分信號作為時鐘。使用BERTScope CR(時鐘恢復(fù)模塊)為子卡輸出的數(shù)據(jù)信號按照一致性要求的環(huán)路帶寬進(jìn)行時鐘恢復(fù)。左上圖顯示的是被測設(shè)備通過了相應(yīng)的測試模板。右上圖是該信號使用Q- 因子算法得到的去加重平均幅度。下方的兩截圖是對于跳變位所做的同樣的測量。

擴(kuò)頻時鐘(SSC)通常用于串行系統(tǒng)中，以減小EMI 的干擾。BERTScope可以調(diào)節(jié)的SSC的調(diào)制幅度、頻率和調(diào)制的輪廓，如三角波、正弦波等，因此允許測試任何一種使用SSC技術(shù)的一致性標(biāo)準(zhǔn)。還可使用額外的調(diào)制器和信號源產(chǎn)生耦合了高幅度、低頻率的正弦抖動(SJ)的時鐘。

處理閉合的眼圖

BERTScope 的用戶界面設(shè)計友好、操作簡單。上圖顯示的是不同tap權(quán)重對預(yù)加重影響的時域特性。下方的波特圖顯示是濾波器如何補(bǔ)償通道的損耗。

隨著通道中電信號的數(shù)據(jù)率越來越快，通道的損耗經(jīng)常導(dǎo)致信號在Rx端的眼圖閉合。在實際的系統(tǒng)中，常使用Equalization(均衡)補(bǔ)償通道的損傷，以得到“張開的眼圖”。Tektrnoix 提供了強(qiáng)大的工具來幫助設(shè)計者測試和鑒定Tx/Rx組件是否滿足標(biāo)準(zhǔn)。

對于Rx測試，DPP125數(shù)字預(yù)加重器為BERTScope增加了經(jīng)校準(zhǔn)的預(yù)加重輸出，用以模擬Tx 端的預(yù)加重特性。預(yù)加重目前廣泛使用在10GBASE-KR, PCIe, SAS, DisplayPort^?, USB3.0 等標(biāo)準(zhǔn)中。

特點：

• 1-12.5Gb/s 時鐘頻率
• 兩種型號分別支持3- 階或4- 階tap
• 靈活的光標(biāo)位置，允許預(yù)設(shè)光標(biāo)和置后光標(biāo)

PatternVu

PatternVu

PatternVu 選件是一套軟件實現(xiàn)的FIR 濾波器，能夠在眼圖顯示之前使用。在使用均衡的Rx 系統(tǒng)中，PatternVu 能夠觀測、測量在Rx 端均衡之后、判決之前信號的眼圖，即能將均衡的影響包含在測試結(jié)果中。均衡器多允許有32個tap，并且可以選擇每個UI 的tap 分辨率。

PatternVu還包括CleanEye功能，即碼型固定的、經(jīng)過平均處理后的眼圖，可以去除眼圖的非確定性抖動分量。CleanEye能夠在存在大量Rj 的情況下，清晰的看到ISI 對系統(tǒng)的影響。

單次波形數(shù)據(jù)值輸出是PatternVu 的一個部分，能夠顯示所捕獲的固定碼型中的任意一個比特，非常類似實時示波器中的單次捕獲功能。一旦被捕獲，波形數(shù)據(jù)能夠以多種格式輸出，以便使用其他工具進(jìn)行分析。

FIR Explorer Tap Optimizer

FIR Explorer Tap Optimizer

為某一個特定的信道確定優(yōu)的均衡器tap權(quán)重是一項非常單調(diào)的工作，特別是需要手動反復(fù)不斷的摸索。FIR Explorer TapOptimizer 是通過所提供傳輸通道的S 參數(shù)，直接決定FIR tap權(quán)重的工具。這個工具可以直接接受所需響應(yīng)的S 參數(shù)數(shù)據(jù)，或者將實際的通道響應(yīng)取反，以獲得優(yōu)的響應(yīng)。用戶可以選擇tap 的個數(shù)，將精力放如何匹配某一頻段內(nèi)的響應(yīng)，以避免提升不必要的帶外噪聲分量。整個設(shè)置過程通過一個圖形化界 面完成，并將結(jié)果響應(yīng)和目標(biāo)響應(yīng)的系統(tǒng)函數(shù)同時描繪出來。

時鐘恢復(fù)

直觀用戶界面提供了對所有操作參數(shù)的簡單控制。獨特的環(huán)路回饋視圖描繪了環(huán)路帶寬的特性-該圖是真實測量的結(jié)果，而不是數(shù)據(jù)設(shè)置過程

Tektronix的CR125A, CR175A, 和CR280A產(chǎn)品提供了靈活的一致性時鐘恢復(fù)方案。許多標(biāo)準(zhǔn)的抖動測試要求使用指定環(huán)路帶寬的時鐘恢復(fù)。使用不確定或未知的環(huán)路帶寬將帶來錯誤的抖動測量。Tektronix新的時鐘恢復(fù)儀器能夠為各種標(biāo)準(zhǔn)測試提供簡單、的測量。

顯示和測量SSC 抖動波形

SSC Waveform Measurement


Tektrnoix CR 和CRJ 不受到BERTScope 的限制，還可以配合其他儀器使用，如取樣示波器或誤碼儀等?？梢院推渌延械膬x器組成一致性測量系統(tǒng)。

擴(kuò)頻時鐘(SSC)在新的串行標(biāo)準(zhǔn)中經(jīng)常使用到，以減小EMI干擾，例如：SATA，PCI Express和下一代SAS。Tektronix CR家族支持?jǐn)U頻時鐘的恢復(fù)，能夠顯示和測量SSC調(diào)制波形。包括了、小頻率偏差(ppm或ps為單位)、調(diào)制變化率(dF/dT)和調(diào)制頻率等自動化測量項目。也包括了數(shù)據(jù)速率的顯示以及簡單易用的垂直、水平光標(biāo)。

抖動分析

抖動頻譜測量

配有GJ 選項的Tektronix CR125A、CR175A 或CR280A，可以和取樣示波器或者誤碼儀一起使用進(jìn)行DCD 和實時抖動頻譜分析。抖動頻譜顯示頻率范圍從200Hz 到90MHz，可以使用光標(biāo)進(jìn)行測量?？梢允褂糜脩艨稍O(shè)置的頻率限定進(jìn)行抖動的帶限測量(上圖例子中是PCI Express Gen2預(yù)設(shè)的帶寬限制和抖動測量)

Rx 端壓力眼圖測試

像進(jìn)行PCI Express 這類的串行總線一致性Rx 端壓力測試，通常需要用到多臺獨立的儀器和設(shè)備，不得不花幾個小時去設(shè)置儀器、連接被測設(shè)備。通過BERTScope一臺儀器，以及測試向?qū)砜刂扑械慕?jīng)校準(zhǔn)的壓力源，非常方便的進(jìn)行Rx 端的壓力測試- 這些都是在一臺儀器中完成的。該方案不需要外部電纜、混頻器、耦合器、調(diào)制器，減少了校準(zhǔn)過程，大大簡化了壓力測試的校準(zhǔn)和測試。

外部連接的網(wǎng)絡(luò)隨時都在變化，這構(gòu)成了Rx 端測試的一大挑戰(zhàn)。雖然像誤碼測試和Rx靈敏度測試非常的重要，但在現(xiàn)實世界，像10Gb/s的背板系統(tǒng)和其他高速總線的Rx 抖動容限性能必須要考慮到。壓力眼圖測試(Stressed Eye Testing)現(xiàn)在在許多的工業(yè)規(guī)范中變得越來越常見。另外，工程師可以利用壓力眼圖測試來發(fā)現(xiàn)Rx端接收性能的極限，用以檢查系統(tǒng)在設(shè)計和生產(chǎn)過程中的裕量。

靈活的產(chǎn)生信號損傷

各種的壓力損傷


許多標(biāo)準(zhǔn)要求測試在不同頻率、不同幅度、不同調(diào)制的SJ 對Rx 的影響。BERTScope 內(nèi)建的抖動容限功能通過用戶自定義的容限模板，自動的完成這項測試。同時，BERTScope 還提供了許多標(biāo)準(zhǔn)的測試庫供用戶使用。

BERTScope 內(nèi)建了高質(zhì)量、經(jīng)校準(zhǔn)的各種信號損傷源，包括RJ、SJ、BUJ 和SI。

ISI 是許多標(biāo)準(zhǔn)中常見的信號損傷類型。BSA12500ISI 差分ISI板提供了可變的鏈路長度，產(chǎn)生各種ISI 干擾。

壓力眼圖測試選項


BERTScope 碼型發(fā)生器

BSA125CPG, BSA175CPG, 和BSA260CPG 系列碼型發(fā)生器提供了完整的PRBS 碼型發(fā)生功能，支持標(biāo)準(zhǔn)和自定義碼型。STR 選項可以產(chǎn)生集成的、經(jīng)校準(zhǔn)的壓力信號，可以替代傳統(tǒng)多儀器、手動校準(zhǔn)的方案。

碼型捕獲

碼型捕獲

對未知的輸入數(shù)據(jù)有幾種處理方法。對于上面所討論的實時在線數(shù)據(jù)分析，BERTScope 還提標(biāo)配了一個非常有用的功能-碼型捕獲。該功能允許用戶指定重復(fù)碼型的長度，BERTScope連續(xù)的捕獲指定長度的數(shù)據(jù)，長度可達(dá)128Mb。這筆數(shù)據(jù)可以作為新的判決器的參考碼型，可以編輯、保存以便未來使用。

強(qiáng)大的誤碼分析功能- 在這個例子中，眼圖測試結(jié)果和BER 聯(lián)系在一起，發(fā)現(xiàn)并解決了內(nèi)存控制芯片的一個問題。左上角的眼圖顯示了在信號在十字交叉區(qū)域出現(xiàn)比正常眼圖所少見的特征。接著將BER 判決點移動到該區(qū)域上仔細(xì)勘察。誤碼分析結(jié)果顯示出問題特征和碼型中第24 個標(biāo)記位有一定的聯(lián)系。進(jìn)一步調(diào)查發(fā)現(xiàn)和IC 內(nèi)部的時鐘分頻有關(guān)；系統(tǒng)時鐘是輸出數(shù)據(jù)速率的24分頻。重新設(shè)計芯片中增大了對時鐘鏈路的隔離后，就能得到右下角所示的干凈眼圖。

抖動測量

物理層測試套件

數(shù)據(jù)速率在Gb/s 的信號其眼寬就幾百個皮秒，甚至更少。因此的抖動測量是控制抖動預(yù)算的重要部分。BERTScope提供兩套工具來完成這些重要抖動測試。

物理層測試套件使用廣泛認(rèn)可的Dual Dirac方法測試總體抖動(Total Jitter)和對總體抖動的分離，隨機(jī)抖動(RJ)、確定性抖動(DJ)。BERTScope 采用的是誤碼儀的方法采集數(shù)據(jù)，樣本深度遠(yuǎn)大于示波器測試抖動時所采集的樣本深度，并很少采用推算的方法測量抖動。從根本上講，這種方法的測試比高度依靠推算的方法的要高很多。

Jitter Map

Jitter Map 是BERTScope 上新的抖動測量套件。該套件提供了復(fù)雜的分析子集，除了RJ和DJ 之外，還包括了許多更高速的標(biāo)準(zhǔn)一致性測試中定義的抖動測量。Jitter Map 能在長碼型上(例如PRBS31)進(jìn)行抖動測量和分離，也支持非PRBS 的實時在線數(shù)據(jù)抖動分析(需要實時數(shù)據(jù)分析選件)。

主要特性包括：

• DJ 分解為有界不相關(guān)抖動(BUJ)，數(shù)據(jù)相關(guān)抖動(DDJ)，碼間干擾抖動(ISI)，占空比失真抖動(DCD)，包含F(xiàn)/2 抖動在內(nèi)的子速率抖動(SRJ)
• 基于誤碼測試(非推算)的TJ測量，誤碼率水平可以到10-12甚至更小
• 區(qū)分相關(guān)和非相關(guān)性抖動分量，減小對長碼型的DDJ 和RJ測試的混淆
• 可以測量小眼張開度的抖動
• 增加了其他儀器所沒有的抖動測試項目：加重抖動(EmphasisJitter)，非相關(guān)抖動(Uncorrelated Jitter)，數(shù)據(jù)相關(guān)性脈寬損耗(DDPWS)和非ISI 抖動
• 直觀的抖動分離樹顯示

接口卡在線測試

Jitter Peak and BER Contour measurements made on live 數(shù)據(jù).

BERTScope 提供的實時數(shù)據(jù)分析選項可為高速線卡、主板和實時的數(shù)據(jù)提供物理層測量。BERTScope 采用了新型的雙判決(Dual-decision)系統(tǒng)，可以進(jìn)行參數(shù)測量，如一致性標(biāo)準(zhǔn)的眼圖測試、抖動、BER 輪廓和Q- 因子等- 所有的這些測試都需要時鐘信號。Jitter Map 選項能夠?qū)崟r的數(shù)據(jù)進(jìn)行深入的抖動的解析，而無需對不知道碼型長度、或者無法預(yù)知數(shù)據(jù)流中插入的閑散符號而感到無助。故障定位和調(diào)試變得非常的簡單，只要按一個鍵就能洞察被測系統(tǒng)物理層的情況。

性能指標(biāo)

碼型發(fā)生器

輸入/ 輸出指標(biāo)

圖1：幅度范圍。


圖2：允許輸入的端接電壓和偏置電壓組合。幅度擺幅范圍是0.25V到2V，應(yīng)該滿足上圖所示的陰影范圍。例如SCFL使用0V端接，工作在0~-0.9V 之間，如上圖虛線所示，符合工作電壓要求。

時鐘輸出

特性	說明
頻率范圍
BSA85C	0.1-8.5 GHz
BSA125C, CPG	0.1-12.5 GHz*1
BSA175C, CPG	0.5-17.5 GHz*1
BSA260C, CPG	1-26 GHz*1
相噪	<-90dBc/Hz 在10HKz 頻偏處(典型值)
時鐘輸出分頻比	只有STR 選件支持

*¹ 11.2Gb/s 速率以上，時鐘輸出頻率為數(shù)據(jù)率/2。詳見P13 表格

數(shù)據(jù)輸出

特性	說明
數(shù)據(jù)率范圍
BSA85C	0.1-8.5 Gb/s
BSA125C, CPG	0.1-12.5 Gb/s
BSA175C, CPG	0.5-17.5 Gb/s
BSA260C, CPG	1-26 Gb/s
碼型格式	NRZ
極性	正常或反相
可變交叉點電平范圍	25 to 75%
碼型
硬件碼型	工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的PRBS碼型: 2n – 1 where n = 7, 11, 15, 20, 23, 31
RAM 碼型
BSA85C       BSA125C, CPG       BSA175C, CPG       BSA260C, CPG	128b~128Mb。每個A/B 頁面中A 或B各有32Mb，共兩組A/B 頁面。單頁面128Mb
碼型數(shù)據(jù)庫	基于K28.5 或CJTPAT 碼型的SONET/SDH, Fibre Channel 碼型; 2n 碼型，n=3,4,5,6,7,9; 2n標(biāo)記密度碼型, n=7,9,23;其他
誤碼插入
長度	1,2,4,8,16,32,64 長度突發(fā)序列
頻率	單詞或者重復(fù)

數(shù)據(jù), 時鐘 幅度s and Offsets

特性	說明
配置	差分輸出，差分每一路可獨立設(shè)置端接、幅度和偏置
接口	DC 耦合，50 歐姆反向端接。APC-3.5 連接器?？蛇x校準(zhǔn)到75歐姆端接，其他阻抗通過面板輸入?？筛鼡Q的Planar Crown?適配器，可換為其他類型連接器。
預(yù)設(shè)邏輯電平	LVPECL, LVDS, LVTTL, CML, ECL, SCFL
端接電壓	–2V ~ 2 V 預(yù)設(shè)值：1.5V，1.3V，1.0V，-2V，AC 耦合
允許的幅度、端接和偏置電壓	參見圖1 和圖2

數(shù)據(jù)、時鐘波形性能

型號	上升時間	抖動
BSA85C	25 ps (), 23 ps (典型) (10-90%)	<10 ps 峰峰值 (典型值, 對于 ≥1 Gb/s數(shù)據(jù)) <0.025 UI (典型值, 數(shù)據(jù)率 <1 Gb/s)
BSA125C, CPG
BSA175C, CPG
BSA260C, CPG		8 ps 峰峰值 (典型值,數(shù)據(jù)率為 25.078 Gb/s 數(shù)據(jù)率)

時鐘/數(shù)據(jù)延遲

特性	說明
范圍	(以下情況全部大于1比特周期)
≤ 1.1 GHz	30 ns
> 1.1 GHz	3 ns
分辨率	100 fs
自校率	在時間測量時，當(dāng)溫度或者比特率改變，推薦進(jìn)行儀器自校準(zhǔn)。校準(zhǔn)過程小于10s

碼型發(fā)生器輔助連接器

前面板碼型發(fā)生器連接

外部時鐘輸入

特性	說明
允許外部輸入時鐘信號同步BERTScope。 帶有壓力測試選件的模塊可以對輸入的時鐘增加損傷，包括當(dāng)外部輸入時鐘信號 有超過5000ppm 的SSC 的情況。
頻率范圍
BSA85C	0.1 to 8.5 GHz
BSA125C, CPG	0.1 to 12.5 GHz
BSA175C, CPG	0.5 to 17.5 GHz
BSA260C, CPG	1 to 26 GHz
定額功率	900 mVpp (+3 dBm)
功率	2.0 Vpp (+10 dBm)
回波損耗	優(yōu)于 –6 dB
接口	50 歐姆SMA 母頭，DC 耦合，可選的端機(jī)電壓

HF 抖動(僅在STR 選項中有效)

特性	說明
兩個抖動輸入端中的一個?？梢圆迦胨璧腟J、RJ 和BUJ
頻率范圍	DC 到1.0 GHz
抖動輸入幅度	0.5UI
輸入電壓范圍	額定電壓0~2Vpp(10dBm) 非損傷電壓6.3Vpp(20dBm)
數(shù)據(jù)率范圍	8.5Gb/s，11.2Gb/s(BSA125C,CPG)，17.5G 或者22Gb/s
接口	SMA 母頭, 50 歐姆, DC 耦合, 端接電壓0V

子速率時鐘輸出

特性	說明
BERTScope 標(biāo)配型號輸出4 倍分頻時鐘 BERTScope STR 選項提供有額外分頻時鐘輸出的性能
頻率范圍	0.125到3.125GHz(STR 選項可到12.5GHz)
幅度范圍	額定電壓1Vp-p，偏置0V
跳變時間	<500 ps
接口	SMA 母頭, 50 歐姆, DC 耦合, 端接電壓0V

觸發(fā)輸出

特性	說明
提供了脈沖觸發(fā)輸出到外部儀器。有兩種模式： 1. 時鐘分頻模式：每256 個時鐘速率輸出一個脈沖 2. 碼型模型：PRBS 碼型中可編程脈沖輸出位置，或者固定脈沖輸出位置(RAM 碼型) 此模塊被選用安裝后，就可進(jìn)行壓力調(diào)制
小脈沖寬度	128 個時鐘周期(模式1) 512 個時鐘周期(模式2)
跳變時間	<500 ps
抖動(p-p,數(shù)據(jù)到觸發(fā))	<10 ps, 典型值(BSA175C, CPG 和 BSA260C, CPG)
輸出幅度	>300 mVp-p,偏置 650 mV
接口	50 歐姆 SMA 母頭

后面板碼型發(fā)生器接口

碼型啟動輸入

特性	說明
用于多臺儀器同時發(fā)送碼型時使用.
邏輯電平	LVTTL (<0.5 V 低, >2.5 V 高)
門限電平	+1.2 V 典型值
非損傷輸入電壓范圍	–0.5 V to +5.0 V
小脈沖寬度	128 連續(xù)時鐘周期
重復(fù)率	512 連續(xù)時鐘周期
接口	SMA 母頭， >1K 歐姆阻抗，端接到0V

頁面選擇輸入

特性c	說明
在A-B頁面選擇模式中，可以通過外部控制碼型。軟件控制使用上升沿或下降沿觸發(fā)，碼型A 完成后連續(xù)碼型B，或者返回碼型A 運(yùn)行碼型B
邏輯電平	LVTTL (<0.5 V 低, >2.5 V 高)
門限電平	+1.2 V 典型值
非損傷輸入電壓范圍	–0.5 V ~ +5.0 V
小脈沖寬度	一個碼型長度
接口	SMA 母頭， >1K 歐姆阻抗，端接到0V

正弦干擾(Sinusoidal Interference)輸出(僅對STR 選件有效)

特性	說明
正選抖動從內(nèi)部發(fā)生器輸出。可以在外部ISI 干擾后應(yīng)用正弦干擾。
頻率范圍	0.1-2.5 GHz
輸出電壓	0-3 Vp-p
接口	SMA 母頭， >1K 歐姆阻抗，端接到0V

低頻抖動輸入(僅對STR 選件有效)

特性	說明
允許使用外部低頻抖動源對輸出的碼型加損傷
頻率范圍	DC 到 100 MHz
抖動幅度范圍	1.1ns，可以和其他內(nèi)部低頻調(diào)制一起使用
輸入電壓范圍	額定電壓0~2 Vp-p(10 dBm) 非損傷電壓 6.3 Vp-p (20 dBm)
數(shù)據(jù)率范圍	11.2Gb/s(BSA125C，CPG)或者22Gb/s
接口	SMA 母頭，50 歐姆，DC 耦合到0V

低頻正選抖動輸出(僅對STR 選件有效)

特性	說明
允許兩臺BERTScope 定相輸出，一個同步、另一個反相
頻率	通過用戶界面設(shè)定SJ
幅度	2 Vp-p, 偏置 0 V
接口	SMA 母頭

外參考輸入(對XSSC 選件，BSA85C、BSA175C，CPG 或者BSA260C，CPG 有效)

特性	說明
鎖定外部儀器參考時鐘
頻率	10, 100, 106.25, 133.33, 156.25, 166.67, 或 200 MHz
幅度	0.325 ~ 1.25 Vp-p (–6 to +6 dBm)
接口	SMA 母頭 50 歐姆 , AC 耦合

外參考輸出(對XSSC 選件，BSA85C、BSA175C，CPG 或者BSA260C，CPG 有效)

特性	說明
提供頻率參考源輸出
配置	單端(Ref-OUT 未使用)(BSA125C, CPG) 差分(BSA85C, BSA175C, CPG, BSA260C,CPG)
頻率	10, 100, 106.25, 133.33, 156.25, 166.67, 或 200 MHz
幅度	每輸出端口額定輸出1 Vp-p (+4 dBm) 差分2 Vp-p
接口	SMA 母頭 50 歐姆 , AC 耦合

時鐘路徑細(xì)節(jié)

BSA85C

BSA85C 系列帶壓力測試能力模塊的時鐘路徑功能框圖


以數(shù)據(jù)率為單位，使用內(nèi)部時鐘，BSA85C可用時鐘及子速率時鐘輸出分頻比***

BSA125C, CPG, BSA175C, CPG, 和 BSA260C, CPG

BSA125C,CPG, BSA175C, CPG, 和BSA260C, CPGBSA85C系列帶壓力測試能力模塊的時鐘路徑功能框圖

* 該端口也可用于全速帶抖動時鐘的輸出

** 對于相應(yīng)的模塊，壓力可以增加到外部時鐘。工作速率1.5G~11.2Gb/s。外部時鐘的占空比必須是50% ± 2%

*** 在整個速率段內(nèi)，列出的所有的比例對于外部時鐘都是有效的，僅對內(nèi)部時鐘有限制。小的時鐘頻率輸出100MHz。在該頻率下的操作未經(jīng)過校準(zhǔn)

 

當(dāng)時鐘速率≥ 11.2Gb/s 時，BSA125, BSA175, and BSA260型號使用內(nèi)部雙倍數(shù)據(jù)率(DDR)構(gòu)架。時鐘輸出將是數(shù)據(jù)率的1/2。

外部時鐘可指定為全速或半速率。當(dāng)選擇全速率時，并且輸入時鐘頻率大于等于11.2GHz 時，碼型發(fā)生器將工作在DDR 模式。

這些分頻比僅應(yīng)用在內(nèi)部時鐘情況。如果選擇1/2時鐘輸出，或者當(dāng)數(shù)據(jù)率≥ 11.2Gb/s 時，外部時鐘將輸出分頻比將是1/2。

對于主時鐘輸出小的數(shù)據(jù)率要求是500Mb/s。當(dāng)工作在分頻速率低于500Mb/s 時，輸出未經(jīng)過校準(zhǔn)。

可供選擇的主時鐘多速率和子速率分頻比。BSA125C,CPG,BSA175C, CPG, 和BSA260C, CPG 系列

數(shù)據(jù)率 (Gb/s)	主時鐘分頻比	子速率時鐘輸出*2
500-750 Mb/s	1, 2, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 12, 14, 16, 18, 20, 24, 32, 36	1, 2, 4
0.75-1.5 Gb/s	1, 2, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 12, 14, 16, 18, 20, 24, 25, 28, 30, 32, 35, 36, 40, 42, 45, 48, 54, 56, 64, 72, 81	1, 2, 4, 8
1.5-3 Gb/s	1, 2, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 12, 14, 16, 18, 20, 24, 30, 32, 32, 35, 36, 36, 40, 42, 45, 48, 50, 54, 56, 60, 64, 70, 72, 80, 81, 84, 90, 98, 108, 112, 126, 128, 144, 162	1, 2, 4, 8, 16
3-6 Gb/s	1, 2, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 12, 14, 16, 18, 20, 24, 30, 32, 32, 35, 36, 36, 40, 42, 45, 48, 50, 54, 56, 60, 64, 70, 72, 80, 81, 84, 90, 98, 100, 108, 112, 120, 126, 128, 140, 144, 160, 162, 168, 180, 192, 196, 216, 224, 252, 256, 288, 324	1, 2, 4, 8, 16, 32
6-11.2 Gb/s	1, 2, 4, 5, 6, 7, 8, 9, 10, 12, 14, 16, 18, 20, 24, 30, 32, 32, 35, 36, 36, 40, 42, 45, 48, 50, 54, 56, 60, 64, 70, 72, 80, 81, 84, 90, 98, 108, 112, 126, 128, 140, 144, 144, 160, 162, 162, 168, 180, 192, 196, 200, 216, 224, 240, 252, 256, 280, 288, 320, 324, 360, 384, 392, 432, 448, 504, 512, 576, 648	1, 2, 4, 8, 16, 32, 64
11.2-12 Gb/s	2, 4, 8, 10, 12, 14, 16, 18, 20, 24, 28, 32, 36, 40, 48, 60, 64, 64, 70, 72, 72, 80, 84, 90, 96, 100, 108, 112, 120, 128, 140, 144, 160, 162, 168, 180, 196, 200, 216, 224, 240, 252, 256, 280, 288, 320, 324, 336, 360, 384, 392, 432, 448, 504, 512, 576, 648	2, 4, 8, 16, 32, 64
12-26 Gb/s	2, 4, 8, 10, 12, 14, 16, 18, 20, 24, 28, 32, 36, 40, 48, 60, 64, 64, 70, 72, 72, 80, 84, 90, 96, 100, 108, 112, 120, 128, 140, 144, 160, 162, 168, 180, 196, 216, 224, 252, 256, 280, 288, 288, 320, 324, 324, 336, 360, 384, 392, 400, 432, 448, 480, 504, 512, 560, 576, 640, 648, 720, 768, 784, 864, 896, 1008, 1024, 1152, 1296	2, 4, 8, 16, 32, 64, 128

*² 數(shù)據(jù)率小于11.2Gb/s 時，子速率時鐘連接器也輸出全速率帶壓力時鐘；數(shù)據(jù)率大于等于11.2Gb/s 時，輸出半速率帶壓力時鐘。

帶壓力眼圖的碼型發(fā)生器

• 對內(nèi)部或外部時鐘，靈活、集成的施加眼圖損傷
• 隱藏了測試的復(fù)雜性，但有不失靈活簡單的特性
• 支持豐富的標(biāo)準(zhǔn)一致性測試和外部ISI 濾波器:
• • OIF CEI
  • 6 Gb SATA
  • PCI Express^?
  • XFI
  • USB 3.0
  • SONET
  • SAS 2
  • XAUI
  • 10 and 100 Gb Ethernet
  • DisplayPort
• 可以增加同相位或反相的正弦干擾，或者可以輸出到外部同ISI 參考通道合成
• 支持OIF CEI 等規(guī)范要求的正弦抖動(SJ)相位鎖定(兩臺BERTScope 之間同相或反相鎖定)

靈活的外部抖動干擾

• 前面板高頻抖動輸入端口-輸入抖動頻率從DC到1GHz， 幅度0.5UI
• 后面板外部SJ 低頻抖動輸出端口- 輸入抖動頻率從DC 到100MHz，幅度1ns
• 后面板SJ 輸出
• 后面板正弦干擾輸出端口

注意: 內(nèi)部的RJ，BUJ 和外部的高頻抖動輸入合成幅度0.5UI，合成抖動中的每一項幅度0.25UI。后面板低頻抖動輸入可以增加更多的抖動；外部低頻抖動(見第5 頁)，內(nèi)部低正弦頻抖動到10MHz 頻率(見下表)，PCIe LFRJ 和PCIeLFSJ(見第8 頁，XS 選項)抖動幅度限制1.1ns。這些限制對XSSC 選項(見第8 頁)的相位調(diào)制無效。

幅度和ISI 損傷

ISI

外部增加：例如，長的同軸電纜，或者4階Bessel-Thompson濾波器，-3dB 點等于0.75* 數(shù)據(jù)率

需要模擬電路板耗散的應(yīng)用，BSA12500ISI 差分ISI 生成板提供模擬電路板走線損耗

正弦干擾

• 支持BERTScope 全速率范圍的應(yīng)用
• 100 MHz 到 2.5 GHz
• 100 kHz 調(diào)節(jié)步進(jìn)
• 電壓調(diào)節(jié)范圍 0 ~ 400 mV
• 共模或差分
• 可用外部SI 從后面板SMA 輸入，單端幅度0~3V，可在軟件界面中調(diào)節(jié)，和內(nèi)部SI 同樣的頻率和調(diào)節(jié)步進(jìn)

抖動損傷

有界非相關(guān)性抖動(BUJ)

• 支持速率從1.5G 到11.2Gb/s(BSA125C，CPG)或者22Gb/s，622Mb/s 性能受限
• 內(nèi)部PRBS7 發(fā)生器
• 可調(diào)幅度帶0.5UI
• 100 Mb/s 到 2.0 Gb/s
• 可供選擇帶限濾波器(如下表)

BUJ 速率	濾波器
100 到 499	25 MHz
500 到 999	50 MHz
1,000 到 1,999	100 MHz
2,000	200 MHz

隨機(jī)抖動

• 支持速率從1.5G 到11.2Gb/s(BSA125C，CPG)或者22Gb/s，622Mb/s 性能受限
• 可調(diào)幅度帶0.5UI
• 帶寬限制10MHz~1GHz
• Crest factor 為16(其高斯分布至少到8 倍標(biāo)準(zhǔn)偏差范圍，或 誤碼率水平達(dá)到10^–16)

正弦抖動

數(shù)據(jù)率	內(nèi)部SJ 頻率	內(nèi)部SJ 幅度
11.2 Gb/s(BSA85C, BSA125C) 或 17.5 Gb/s	1 kHz 到 10 MHz*3	1100 ps
	10 MHz to 100 MHz	200 ps
17.5-26 Gb/s	1 kHz to 100 MHz	84 ps

*³可以和其他的低頻調(diào)制組合在一起使用。見第13 頁備注

正弦抖動幅度調(diào)節(jié)范圍如上表所示。詳見下邊壓力選項中更多的SJ 性能

其他的壓力選項

Phase 調(diào)制 范圍


SSC 調(diào)制

增強(qiáng)擴(kuò)頻時鐘選項(STR 選項和/ 或XSSC 選項)

特性	說明
直接增加時鐘綜合器調(diào)制輸出-調(diào)制將影響主時鐘和子速率時鐘(忽略子速率時鐘輸出的選擇)，輸出數(shù)據(jù)和觸發(fā)輸出
模式	SSC 或者相位調(diào)制(正弦)
數(shù)據(jù)速率范圍	BERTScope 全速率
SSC 波形形狀	三角波或正弦波
SSC 調(diào)制頻率	20 kHz 到 40 kHz
SSC 調(diào)制范圍	12,500 ppm at 6 Gb/s 6,200 ppm at 12 Gb/s 6,000 ppm at 12.5 Gb/s and above 較低時鐘頻率時請參見SSC調(diào)制圖
SSC 調(diào)制	1 ppm
SSC 調(diào)制類型	向下擴(kuò)展，中間擴(kuò)展，向上擴(kuò)展
PM 頻率范圍	10 Hz ~ 160 kHz
PM 頻率分辨率	1 Hz

PM 調(diào)制范圍- 調(diào)制頻率10HZ~2KHz

數(shù)據(jù)率	調(diào)制
>6 Gb/s	6000 UI
3 to 6 Gb/s	3000 UI
1.5 to 3 Gb/s	1500 UI
0.75 to 1.5 Gb/s	750 UI
375 to 750 Mb/s	375 UI
187 to 375 Mb/s	187.5 UI
100 to 187 Mb/s	93.75 UI
調(diào)制頻率>2KHz 請參見相位調(diào)制范圍圖

F/2 抖動生成選線(F2 選項，需要STR 選項)

特性	說明
在2路及2路以上的復(fù)用系統(tǒng)中，可能會有F/2 或子速率抖動。這種抖動是由于復(fù)用時鐘的不對成型導(dǎo)致，所有偶數(shù)比特脈沖寬度和奇數(shù)比特寬度不一致。不像傳統(tǒng)的DCD，F(xiàn)/2 抖動時和比特的邏輯狀態(tài)時獨立的。F/2 抖動時目前比較新的標(biāo)準(zhǔn)，如802.3ap(10G 背板以太網(wǎng))中所強(qiáng)調(diào)的測試項目
支持的數(shù)據(jù)率	8.0 和 10.3125 Gb/s
調(diào)制范圍	0~5.0% UI

擴(kuò)展壓力產(chǎn)生選項(PCISTR 選項)

特性	說明
該選項增加了兩種PCIe G2 標(biāo)準(zhǔn)要求的Rx 端一致性測試時需要的抖動類型，BERTScope 內(nèi)部產(chǎn)生
時鐘頻率	11.2 Gb/s
LFRJ 調(diào)制范圍	0-1.1 ns*3
LFRJ 頻率范圍	帶限10KHz~1.5MHz，按照PCIE Gen2規(guī)范滾降
LFSJ 調(diào)制范圍	在 5 Gb/s 時0~368 ps*3
LFSJ 頻率范圍	1-100 kHz

*³可以和其他的低頻調(diào)制組合在一起使用。見第13 頁Note

特性	說明
擴(kuò)展壓力選項增加了RJ 生成帶寬的選擇
RJ 頻率, 正常模式	帶限MHz ~ 1 GHz
RJ 頻率, PCIE 模式	帶限 1.5~100MHz，按照PCIE Gen2規(guī)范滾降

誤碼檢測器

時鐘和數(shù)據(jù)輸入

時鐘輸入

特性	說明
配置	Single ended
頻率范圍
BSA85C	0.1-8.5 GHz
BSA125C	0.1-12.5 GHz
BSA175C	0.5-17.5 GHz*4
BSA260C	1-26 GHz*4

*⁴數(shù)據(jù)率大于11.2Gb/s 時可以使用全速或半速時鐘

數(shù)據(jù)和時鐘接口

特性	說明
連接器	APC-3.5 Planar Crown?
阻抗	50 歐姆
門限電壓	–2 to +3.5 V
門限預(yù)設(shè)	LVPECL, LVDS, LVTTL, CML, ECL, SCFL
端接電壓	可調(diào), –2 V 到 +3 V 預(yù)設(shè): +1.5, +1.3, +1, 0, –2 V, AC 耦合
非損傷輸入	–3 Vpeak, +4 Vpeak, a任何連接器情況下

時鐘/數(shù)據(jù) 延遲

特性	說明
范圍	((以下情況全部大于1 比特周期)
≤ 1.1 GHz	30 ns
> 1.1 GHz	3 ns
分辨率	100 fs
自校準(zhǔn)	在時間測量時，當(dāng)溫度或者比特率改變，推薦進(jìn)行儀器自校準(zhǔn)。校準(zhǔn)過程小于10s

數(shù)據(jù)輸入

特性	說明
數(shù)據(jù)率范圍
BSA85C	0.1-8.5 Gb/s
BSA125C	0.1-12.5 Gb/s
BSA175C	0.5-17.5 Gb/s
BSA260C	1-26 Gb/s
配置	差分
格式	NRZ
極性	同相或反相
門限電平對其	自動設(shè)置到差分信號交叉點
靈敏度
單端	100 mVp-p (典型值)
差分	50 mVp-p (典型值)
輸入信號擺幅	2 Vp-p
內(nèi)部跳變時間	16ps(10%-90%)，單端(等效20GHz 檢測器帶寬)。在信號輸入端測量得到，ECL電平
碼型
硬件 碼型	工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的PRBS 碼型. 2n – 1 , n = 7, 11, 15, 20, 23, 31
RAM 碼型
用戶定義	128b to 128Mb, 128b 步進(jìn)
碼型數(shù)據(jù)庫	基于K28.5 或CJTPAT 碼型的SONET/SDH, Fibre Channel 碼型；2n碼型，n=3,4,5,6,7,9；2n標(biāo)記密度碼型，n=7,9,23；其他
RAM 碼型捕獲	捕獲輸入數(shù)據(jù)，多存儲128Mb。編輯所捕獲的數(shù)據(jù)，送到碼型發(fā)生器或者誤碼檢測器，或向二者同時發(fā)送
捕獲 模式
長度捕獲	1 到1,048,576 個字。默認(rèn)1 個字。每個字128bit
觸發(fā)捕獲	當(dāng)后面板的“檢測啟動”置高時開始捕獲，直到存儲滿或“檢測啟動”變低時停止
觸發(fā)捕獲固定長度	當(dāng)后面板的“檢測啟動”置高時開始捕獲，直到所設(shè)定存儲器長度滿時停止
同步
自動重新同步	用戶可指定在字中出現(xiàn)1個或多個誤碼時嘗試重新同步
手動同步	手動發(fā)起重新同步命令
碼型匹配
Grab ‘n’ Go	誤碼檢測器捕獲指定長度信號，并和下采集的數(shù)據(jù)進(jìn)行比較(快速的方法，但可能漏失邏輯錯誤)
Shift-to-Sync	誤碼檢測器比較采集的數(shù)據(jù)和RAM 中的數(shù)據(jù)。通過一個bit 的位移沒有發(fā)現(xiàn)匹配的話，則再次比較(比較速度較慢，但是)
誤碼檢測器基本測量項目	BER, 字節(jié)接收, Re-syncs, 被測碼型發(fā)生器和誤碼檢測器時鐘頻率

誤碼檢測器輔助輸入

前面板誤碼檢測器連接端口

誤碼相關(guān)標(biāo)記輸入(Error Analysis)

特性	說明
允許外部輸入信號在誤碼數(shù)據(jù)集中提供時間標(biāo)記
邏輯電平	LVTTL (<0.5 V 低, >2.5 V 高)
門限電平	+1.2 V
小脈沖寬度	128 時鐘周期
重復(fù)速率	512個連續(xù)的時鐘周期
頻率	<4000 標(biāo)記/s
接口	BNC 母頭, >1 k歐姆 端接到 0 V

消隱輸入

Bertscope 突發(fā)碼流分析時序-BERTScope 字的長度是128 個比特。上圖以PRBS payload 舉例。直到128 比特的邊界字發(fā)生，才開始比特的計數(shù)。這意味著在消隱脈沖跳變后的127 比特將被忽略。對于PRBS，典型的同步需要5 個字，或640 個比特。同樣，當(dāng)消隱脈沖再次跳變后，將繼續(xù)對多127 個位進(jìn)行比特測量RAM 碼型的同步時間將會更長。

特性	說明
用于循環(huán)回路光線試驗，或者當(dāng)鏈路處在訓(xùn)練過程中。在該輸入為有效時可忽略誤碼。自節(jié)計算、誤碼計算和BER都不進(jìn)行計數(shù)。當(dāng)重新計數(shù)開始時，re-sync 將不會發(fā)生。
邏輯電平	LVTTL (<0.5 V 低, >2.5 V 高)
門限電平	+1.2 V
小脈沖寬度	128 時鐘周期
重復(fù)速率	512 個連續(xù)的時鐘周期
接口	BNC 母頭, >1 k歐姆，端接0 V

誤碼輸出

特性	說明
當(dāng)誤碼檢測到后輸出一個脈沖。當(dāng)進(jìn)行長時間觀測時，用以觸發(fā)警報等。
小脈沖寬度	128 時鐘周期
跳變時間	<500 ps
輸出幅度	額定值：1000mV0V(低)到1V(高)
接口	SMA 母頭

觸發(fā)輸出

特性	說明
提供了脈沖觸發(fā)輸出到外部儀器。有兩種模式： 1. 時鐘分頻模式：每256 個時鐘速率輸出一個脈沖 2. 碼型模型：PRBS 碼型中可編程脈沖輸出位置，或者固定脈沖輸出位置(RAM 碼型)
小脈沖寬度	128 時鐘周期 (模式 1) 512 時鐘周期 (模式 2)
跳變時間	<500 ps
輸出幅度	>300 mV 幅度，偏置650 mV
接口	50 歐姆 SMA 母頭

誤碼檢測器后面板連接器

檢測啟動輸入*⁵

特性	說明
用于觸發(fā)采集、檢測開始。高電平有效.
邏輯電平	LVTTL (<0.5 V 低, >2.5 V 高)
門限電平	+1.2 V
小脈沖寬度	128 連續(xù)時鐘周期
重復(fù)率	512連續(xù)時鐘周期
接口	SMA 母頭, >1 k歐姆 端接到0 V

*⁵ BERTScope 碼型發(fā)生器上無該接口

用戶軟件界面

可用性提升到新高度

UI 設(shè)置界面

• 簡單向?qū)?
• 符合使用邏輯的布局和操作
• 界面之間切換方面靈活
• 豐富的測試相關(guān)信息
• 用戶輸入敏感，用顏色提醒用戶輸入數(shù)據(jù)的有效性

編輯界面

編輯界面

• 支持標(biāo)準(zhǔn)碼型的編輯和AB 頁面的選擇，同時支持模板編輯
• 數(shù)據(jù)可以二進(jìn)制、十進(jìn)制和十六進(jìn)制顯示
• 支持可變的賦值，重復(fù)循環(huán)，PRBS 序列初始值
• 捕獲和編輯輸入的數(shù)據(jù)-例如根據(jù)實際的數(shù)據(jù)制作一個重復(fù)的碼型
• • 可以通過觸發(fā)、長度或者觸發(fā)固定長度的方式捕獲數(shù)據(jù)
  • 捕獲數(shù)據(jù)單位是字，一個字是128比特。例如捕獲127個PRBS7(127 比特長)的字，總共比特長度是16,256

BERTScope 內(nèi)建的參數(shù)測量項目

全系列的BERTScope 都支持眼圖和模板測試，以及誤碼檢測

眼圖

• 280×350 像素顯示
• 深度捕獲
• 自動測量項目有：
• • 上升時間
  • 下降時間
  • Unit Interval (數(shù)據(jù)和時鐘)
  • 眼幅度
  • 0 和1 的噪聲電平
  • 眼寬
  • 眼高
  • 眼圖抖動 (峰峰值或有效值)
  • 0 Level, 1 Level
  • 消光比
  • 垂直眼圖閉合代價(VECP)
  • 暗電平校準(zhǔn)
  • 信噪比
  • 峰峰值、電壓、小電壓、交叉點電壓
  • 上升和下降交叉點電平(飛秒)
  • "0" 和"1" 過沖
  • 平均電壓和功率
  • 交叉點幅度、0 和1 噪聲電平
  • 光調(diào)制度(OMA)
  • 采樣測試
  • 偏置電壓
  • 去加重比例

模板測試

• 標(biāo)準(zhǔn)模板庫(例如XFP，用戶可自定義模板)
• 模板裕量測試
• 將測量得到的BER 輪廓作為過程控制的模板
• 比傳統(tǒng)的取樣示波器采集深度至少深1000 倍，確?？吹胶币姷漠惓，F(xiàn)象

光模塊

可在BERTScope 檢測端口外部增加光參考接收機(jī)。通過用戶界面簡單方便的設(shè)置和保存接收機(jī)的參數(shù)。一旦完成設(shè)置物理層，相應(yīng)的物理層參數(shù)單位將轉(zhuǎn)換為dBm、μW 或mW。耦合方式AC 和DC 耦合，可以進(jìn)行暗電平校準(zhǔn)。

對于電信號，如果在外部衰減，可輸入相應(yīng)衰減量適當(dāng)?shù)目s放眼圖比例

可變深度的眼圖的模板測試

對于眼圖和模板測試，測試數(shù)據(jù)的深度可以通過手動調(diào)節(jié)；儀器采集到相應(yīng)的數(shù)據(jù)量的樣本后將會停止。深度范圍從2,000到1,000,000 比特(完整的波形)。默認(rèn)模式是連續(xù)采集，隨著時間逐漸加深眼圖或模板測試深度。

物理層測試選項

BER 輪廓測試

• 為了相關(guān)性，執(zhí)行和眼圖測量一樣的采集
• 為了的樣點提供延時校準(zhǔn)
• 自動比例調(diào)整，一鍵式測量
• 從測量的數(shù)據(jù)中推算輪廓，增加實際數(shù)據(jù)的測試深度，重復(fù)更新輪廓曲線
• 輸出CSV 格式數(shù)據(jù)
• 從10^–6 到10^–16誤碼率水平范圍內(nèi)進(jìn)行輪廓測試

基本抖動測量

• 按照T11.2 MJSQ BERTScan(也稱為“Bathtub jitter”)方法進(jìn)行測試和測量
• 快速的完成用戶可指定誤碼率水平的總抖動推算，或直接測量
• 按照MJSQ 定義的方法分離確定性抖動和隨機(jī)抖動
• 為了的樣點提供延時校準(zhǔn)
• 輸出CSV 格式數(shù)據(jù)
• 自動比例調(diào)整，一鍵式測量
• 用戶指定的幅度的門限或自動選擇門限電平
• 根據(jù)MJSQ 定義，當(dāng)使用長碼型可選擇開始BER 以提高

Q-因子測量

• 一鍵式測量
• 易于觀察系統(tǒng)噪聲影響
• 輸出CSV 格式數(shù)據(jù)

一致性輪廓輸入測試

• 符合標(biāo)準(zhǔn)，例如XFP/XFI 和OIF CEI，驗證Tx 端性能
• 將模板和BER 輪廓測量結(jié)果比較，快速簡單確定被測設(shè)備是否通過BER 性能指標(biāo)要求

實時數(shù)據(jù)分析選項

實時數(shù)據(jù)選項主要用于測試系統(tǒng)在線時數(shù)據(jù)傳輸性能。該選項可用于測試系統(tǒng)傳輸?shù)拇a型未知或非重復(fù)的情況，還包括為匹配時鐘速率而在數(shù)據(jù)流中插入idle位的情況。也可適用于探測線卡信號等等。這個選項使用兩個前端判決電路中的一個，通過放置在眼圖中心，判斷數(shù)據(jù)是0 還是1。另外一個用于探測眼圖外部以決定參數(shù)性能。這種方法不僅解決物理層的問題，而且可以鑒別由于協(xié)議引起的邏輯層問題。

實時數(shù)據(jù)選項可以能夠使得在線數(shù)據(jù)進(jìn)行BER 輪廓、抖動峰值和Q- 因子的測試。眼圖測試可以不需要該選項，只需要提供外部的時鐘即可。

實時數(shù)據(jù)分析選項需要物理層測試選項，必須使用全速率時鐘。

PatternVu 均衡處理選項

PatternVu*⁶選項增加了下列強(qiáng)大的處理功能:

CleanEye是一種眼圖顯示模式，將平均處理后的數(shù)據(jù)進(jìn)行眼圖分析，可消除非數(shù)據(jù)相關(guān)性抖動分量。用戶可以使用CleanEye 測量數(shù)據(jù)相關(guān)性抖動，如ISI 等，提供對復(fù)雜抖動的直觀的表現(xiàn)形式。該選項在任何重復(fù)碼型下有效，碼型長度上限32,768 位。

單次波形數(shù)據(jù)值輸出將CleanEye 輸出以CSV 格式輸出。該輸出文件多包含105 比特位，可以通過Microsoft Excel 或其他仿真軟件處理，如Stateye或MATLAB^?。該功能允許對實時數(shù)據(jù)的離線分析，以實現(xiàn)新在802.3aq 和LRM 10G 以太網(wǎng)標(biāo)準(zhǔn)要求的TWDP 的測試。

The FIR 濾波均衡處理器可以模擬通信鏈路，在數(shù)據(jù)顯示之前應(yīng)用一個軟件線性濾波器，以觀測和測量在Rx 端判決電路前的眼圖性能。例如，F(xiàn)IR 濾波可以模擬背板系統(tǒng)的信號損耗，或者 模擬Rx 端的均衡器，簡化Rx 側(cè)的均衡器設(shè)計和測試。

濾波器的參數(shù)可用通過對一些列tap 的權(quán)重調(diào)節(jié)而改變。至多32個tap，間隔從0.1UI到1UI，可調(diào)整濾波器的形狀。FIR濾波在任何重復(fù)碼型下有效，碼型長度上限32,768 位。

單沿抖動測量能夠?qū)λ俾蚀笥?Gb/s的單個邊沿進(jìn)行深誤碼率抖動測量。單沿抖動峰值測量功能可以計算指定碼型的單獨邊沿的抖動，要求重發(fā)碼型，長度不超過32,768。測量得到的抖 動結(jié)果中，不包含數(shù)據(jù)相關(guān)性抖動，僅顯示出非相關(guān)性抖動分量，如隨機(jī)抖動(RJ)，有界不相關(guān)抖動(BUJ)和正弦抖動(PJ)。

靈活的測量可以讓用戶指定CleanEye波形中確切的位置進(jìn)行高的幅度、上升時間、下降時間和加重比例的測試?？芍匦露x標(biāo)準(zhǔn)(PCI Express 和USB3.0)的測量的算法。

*⁶ PatternVu 工作在數(shù)據(jù)率要求高于900Mb/s

誤碼分析

誤碼分析是一些列和誤碼發(fā)生情況緊密聯(lián)系在一起的的視圖，能夠簡單、快速的發(fā)現(xiàn)潛在的問題?？梢苑浅７奖愕脑谘蹐D的某個區(qū)域內(nèi)放置BERTScope 采樣點，探測在指定位置上的碼型敏感度。例如，直接觀測碼型是否會導(dǎo)致信號邊沿時刻的提前或滯后。

許多視圖都標(biāo)配在BERTScope 系列產(chǎn)品中。

分析視圖

誤碼統(tǒng)計視圖以bit 和burst 的統(tǒng)計來分析鏈路性能.


條狀圖顯示了誤碼和誤包隨時間的變化。例如在做溫度循環(huán)實驗時，可以發(fā)現(xiàn)系統(tǒng)故障出現(xiàn)的規(guī)律。


碼型敏感度視圖時一個強(qiáng)大的工具，用以檢查錯誤事件和碼型之間的關(guān)系。能夠顯示出哪種碼型序列有多的問題，支持PRBS 和用戶自定義碼型。

• 誤碼統(tǒng)計：以表格的形式顯示誤碼和誤幀數(shù)量及速率
• 條狀圖: 以條狀圖的形式顯示誤碼和誤幀速率
• Burst 長度:以直方圖的形式顯示不同碼長的誤碼發(fā)生次數(shù)
• 誤碼間隔: 以直方圖的形式顯示誤碼發(fā)生之間的時間間隔
• 相關(guān)性: ：以直方圖形式顯示誤碼和用戶自定義塊大小，或外部標(biāo)記信號之間的位置關(guān)系
• 碼型敏感度:以直方圖的形式顯示不同碼型位置上出現(xiàn)錯誤 的測試
• Block 錯誤:：以直方圖顯示數(shù)據(jù)間隔的次數(shù)(或用戶指定block 大小)和在block 中出現(xiàn)誤碼次數(shù)的關(guān)系

誤碼定位捕獲

特性	說明
實時分析	連續(xù)
誤碼記錄容量	2GB
誤碼事件/ 秒	10,000
Burst 長度	32 kb

誤碼分析選項

前向誤碼糾錯仿真

BERTScope 因為采用了的誤碼定位技術(shù)，在測試中可以確定每一個誤碼發(fā)生的位置。通過用假設(shè)誤碼糾錯器，仿真內(nèi)存塊典型的糾錯碼，例如Reed-Solomon結(jié)構(gòu)，以通過非相關(guān)數(shù)據(jù)通道的誤碼率測試，確定找到合適的FEC方法。用戶可以設(shè)置誤碼糾錯的力度，交織的深度以及確保符合流行的糾錯硬件結(jié)構(gòu)。

二維誤碼映射

通過發(fā)現(xiàn)到的誤碼，分析繪制出二維誤碼分布圖。誤碼分布基于幀的大小或者復(fù)用器的寬度，分析出誤碼是否容易在幀的某個位置上，或者連接到復(fù)用器的并行總線中的某一個特定的bit位上。這個可視化的工具能夠發(fā)現(xiàn)其他分析方法所無法觀測到的誤碼。

抖動容限模板選項

許多標(biāo)準(zhǔn)要求測試在不同頻率、不同幅度、不同調(diào)制的SJ 對Rx 的影響。BERTScope 內(nèi)建的抖動容限功能通過用戶自定義的容限模板，自動的完成這項測試。同時，BERTScope 還提供了許多標(biāo)準(zhǔn)的測試庫供用戶使用。

標(biāo)準(zhǔn)模板庫：

• 10GBASE LX4 802.3ae 3.125 Gb/s
• 10 GbE 802.3ae 10.3125 Gb/s
• 40 GbE 802.3ba LR4 10.3125 Gb/s
• 100 GbE 802.3ba LR4/ER4 25.78125 Gb/s
• CEI 11G Datacom Rx Ingress (D) 11 Gb/s
• CGE Telecom Rx Egress (Re) 11 Gb/s*⁷
• CEI 11G Telecom Rx Ingress (Ri) 11 Gb/s*⁷
• CEI 11G Total Wander 11.1 Gb/s
• CEI 11G Total Wander 9.95 Gb/s
• CEI 6G Total Wander 4.976 Gb/s
• CEI 6G Total Wander 6.375 Gb/s
• CEI 25G Total Wander 25.78125 Gb/s
• FBB DIMM1 3.2 Gb/s
• FBB DIMM1 4.0 Gb/s
• FBB DIMM1 4.8 Gb/s
• FBB DIMM2 3.2 Gb/s
• FBB DIMM2 4.0 Gb/s
• FBB DIMM2 4.8 Gb/s
• Fibre Channel 1.0625 Gb/s
• Fibre Channel 2.125 Gb/s
• Fibre Channel 4.25 Gb/s
• Fibre Channel 8G 8.5 Gb/s
• Fibre Channel 16G 14.025 Gb/s
• OTN OTU-1 2.666G*⁷
• OTN OTU-2 10.709 Gb/s
• OTN(10BASE-R) 11.1 Gb/s
• SAS (SCSI) 1.5 Gb/s
• SAS (SCSI) 3 Gb/s
• SDH 0.172 STM-1 155M*⁷
• SDH 0.172 STM-16 2.4832 Gb/s*⁷
• SDH 0.172 STM-4 622 Mb/s*⁷
• SDH 0.172 STM-64 9.956 Gb/s*⁷
• SDH STM-16 2.48832 Gb/s*⁷
• SDH STM-64 9.9532 Gb/s*⁷
• SONET OC-48 2.48832 Gb/s*⁷
• SONET OC12 622 Mb/s*⁷
• SONET OC192 9.9532 Gb/s*⁷
• SONET OC192 9.95 Gb/s*⁷
• SONET OC3 155 Mb/s*⁷
• SONET OC48 2.4832 Gb/s*⁷
• USB 3.0 5 Gb/s
• XAUI 3.125 Gb/s
• XFI ASIC Rx In Datacom (D) 10.3125 Gb/s
• XFI ASIC Rx In Datacom (D) 10.519 Gb/s
• XFI ASIC Rx In Telecom (D) 10.70 Gb/s
• XFI ASIC Rx In Telecom (D) 9.95328 Gb/s*⁷
• XFI Host Rx In Datacom (C) 10.3125 Gb/s
• XFI Host Rx In Datacom (C) 10.519 Gb/s
• XFI Host Rx In Telecom (C) 10.70 Gb/s*⁷
• XFI Host Rx In Telecom (C) 9.95328 Gb/s*⁷
• XFI Module Tx In Datacom (B') 10.3125 Gb/s
• XFI Module Tx In Datacom (B') 10.519 Gb/s
• XFI Module Tx In Telecom (B') 10.70 Gb/s*⁷
• XFI Module Tx In Telecom (B') 9.95328 Gb/s*⁷

可調(diào)節(jié)的測試參數(shù):

• BER confidence level
• Test duration per point
• BER threshold
• Test device relaxation time
• Imposition of percentage margin onto template
• Test precision
• Control over A/B Pattern switch behavior

還包括在每一個選擇點上進(jìn)行測試的能力，以及數(shù)據(jù)可以導(dǎo)出為截圖或CSV 文件。

*⁷ 需要XSSC 選項.

Jitter Map 選項

用長碼型抖動三角形測量法自動抖動分離

Jitter Map*⁸擴(kuò)展了以BER為基礎(chǔ)的抖動分離，除了按照Dual-Dirac 方法測量總體抖動(Tj)、隨機(jī)抖動(Rj)和確定性抖動(Dj)，還可以將確定性抖動分析為更加詳細(xì)的抖動類型。該選項也能 測量和分離極長碼型上的抖動，例如PRBS31，假設(shè)系統(tǒng)受限運(yùn)行在較短的同步數(shù)據(jù)碼型上。

特點包括:

• DJ分離為有界非相關(guān)抖動(BUJ)，數(shù)據(jù)相關(guān)性抖動(DDJ)，碼間干擾抖動(ISI)，占空比失真抖動(DCD)，子速率抖動(SRJ)*9和F/2(或F2)抖動
• 基于BER 的直接測試TJ，誤碼率水平可達(dá)10-12 甚至更深
• 分離相關(guān)和非相關(guān)性抖動，減小DDJ 和RJ 的混淆
• 可以在數(shù)據(jù)碼型各自邊沿上可視化RJ RMS 測量結(jié)果
• 支持100GbE 應(yīng)用的J2 和J9 測試
• 支持更多的抖動分離類型：加重抖動(EJ)，非相關(guān)性抖動(UI)，數(shù)據(jù)相關(guān)性脈沖損傷(DDPWS)和非ISI 抖動
• 直觀的抖動分離樹顯示

*⁸ jitter map 要求數(shù)據(jù)率大于900Mb/s

*⁹ 在BSA175 和BSA269 中，SRJ 和F/2 抖動速率支持11.2Gb/s

帶壓力實時數(shù)據(jù)選項

BERTScope 帶壓力實時數(shù)據(jù)選項幫助工程師實時的數(shù)據(jù)上增加各種各樣的壓力，以模擬在現(xiàn)實的環(huán)境中，觀察被測系統(tǒng)的響應(yīng)。使用帶壓力的實時測試數(shù)據(jù)能夠測量系統(tǒng)性能的邊界極限，增加系統(tǒng)設(shè)計的信心。

• 支持全系列BERTScope產(chǎn)品，包括正弦(SJ), 隨機(jī)抖動 (RJ),有界非相關(guān)抖動(BUJ), 正弦干擾 (SI), F/2 抖動和擴(kuò)頻時鐘(SSC)
• 支持的BERTScope 數(shù)據(jù)速率
• 數(shù)據(jù)率小于等于11.2Gb/s 時支持全速率時鐘；高于11.2Gb/s時，支持半時鐘速率

符號過濾選項(包含在STR 選項中)

通常在8b/10 編碼系統(tǒng)中進(jìn)行Rx 端loopback 測試中，對于輸入數(shù)據(jù)流中可能有不確定個數(shù)的補(bǔ)償時鐘符號的情況，BERTScope 的符號過濾支持這樣的異步的BER 測試，包括抖動容限測試在內(nèi)。

• 支持異步Rx 端測試，如USB3.0，SATA 和PCI Express
• 自動過濾用戶指定符號
• 對于高誤碼測量，誤碼檢測支持一定數(shù)量的過濾比特
• 支持?jǐn)?shù)據(jù)率11.2Gb/s

其他

計算機(jī)相關(guān)配置

特性	說明
顯示	顯示TFT 觸摸屏，VGA 640X480
觸摸屏	模擬電阻式
處理器	Pentium? P4 1.5 GHz 或更高
硬盤	40GB 或更高
DRAM	1 GB
操作系統(tǒng)	Windows XP
遠(yuǎn)程控制接口	IEEE-488 (GPIB) 或 TCP/IP

外部接口

• DVI/VGA 顯示接口
• USB2.0(4 個。BSA175 前、后面板各2 個；其他型號前、后面板各一個)
• 100BASE-T 以太網(wǎng)
• IEEE-488(GPIB)
• 并行打印口
• RS232 串口
• PS2 鼠標(biāo)鍵盤接口

物理特點

外觀尺寸	毫米	英寸
高度	220	8.75
寬度	394	15.5
深度	520	20.375
重量	kg	lb.
凈重	25	55
毛重	34.5	76
其他
功耗	<450 W
供電電壓	90 to 240 V AC, 50 to 60 Hz

環(huán)境要求

特性	說明
預(yù)熱時間	20 minutes
工作溫度范圍	10 ~ 40 °C
濕度	無水汽凝結(jié) 40 °C, 15 到 95%
環(huán)保標(biāo)準(zhǔn)	EU EMC Directive (CE-Marked) UL: Underwriters Labs (US) Certification CSA (加拿大)

維護(hù)

特性	說明
保修周期	1 年(可擴(kuò)充3 年維保)
范圍	根據(jù)SyntheSys判斷進(jìn)行硬件維修和替換。包括軟件升級。在Menlo Park，California，USA 工廠修理
校準(zhǔn)間隔	1 年

注意: 除非特別說明之外，都是20%-80% 上升時間。各項指標(biāo)并以在預(yù)熱20 分鐘之后。Tektronix 保留更改指標(biāo)的權(quán)力。

訂貨信息

誤碼率分析儀

BERTScope BSA 系列

型號

型號	說明
BSA85C	單通道BERTScope 8.5Gb/s 誤碼率測試儀
BSA125C	BERTScope 12.5Gb/s 誤碼率測試儀
BSA125CPG	BERTScope 12.5Gb/s 碼型發(fā)生器
BSA175C	BERTScope 17.5 Gb/s 誤碼率測試儀
BSA175CPG	BERTScope 17.5 Gb/s 碼型發(fā)生器
BSA260C	BERTScope 26.0 Gb/s 誤碼率測試儀
BSA260CPG	BERTScope 26.0 Gb/s 碼型發(fā)生器

所有型號包括: 快速指南、電源線、鼠標(biāo)、PS2“Y”型連接線、三條低損耗電纜以及DVI 適配器.

 

 

選項配置

Option	說明	BSA85C	BSA125C	BSA125CPG	BSA175C	BSA175CPG	BSA260C	BSA260CPG
F2	在8.5G/10.3125G 速率的F/2抖動生成(需要STR 選項)	X	X	X	X	X	X	X
STR	壓力信號產(chǎn)生(包括ECC、MAP、PL、XSSC、JTOL 和SF 選項)	X	X	X	X	X	X	X
XSSC	擴(kuò)展SSC 選項(包含在STR 選項中)	X	X	X	X	X	X	X
PCISTR	增加PCIE 擴(kuò)展壓力信號生成	X	X	X	X	X		X
J-MAP	增加抖動分離軟件	X	X		X		X
ECC	增加誤碼糾錯仿真軟件(包含在STR 選項中)	X	X		X		X
JTOL	增加抖動銅線模板測試軟件(包含在STR 選項中)	X	X		X		X
LDA	增加實時數(shù)據(jù)分析軟件(包含在STR 選項中)	X	X		X		X
MAP	增加誤碼映射分析軟件(包含在STR 選項中)	X	X		X		X
PL	增加物理層測試套件(包含在STR 選項中)	X	X		X		X
PVU	增加PatternVu 均衡處理軟件	X	X		X		X
SF	增加符號過濾軟件(包含在STR 選項中)	X	X		X		X
SLD	增加壓力在線數(shù)據(jù)軟件，支持12.5Gb/s	X	X		X		X
CA1	提供單次校準(zhǔn)服務(wù)或在指定校準(zhǔn)間隔時校準(zhǔn)，以先到者為準(zhǔn)	X	X	X	X	X	X	X
C3	三年校準(zhǔn)服務(wù)	X	X	X	X	X	X	X
R3	三年校準(zhǔn)服務(wù)(含包修期)	X	X	X	X	X	X	X
-CA1	提供單次校準(zhǔn)服務(wù)或在指定校準(zhǔn)間隔時校準(zhǔn)，以先到者為準(zhǔn)	X	X	X	X	X	X	X
-R1PW	保修期過后續(xù)保1 年	X	X	X	X	X	X	X
-R2PW	保修期過后續(xù)保2 年	X	X	X	X	X	X	X
-R3DW	保修期3 年(含保修期)從客戶購買機(jī)器算起3 年周期	X	X	X	X	X	X	X

R推薦附件

時鐘恢復(fù)儀器

附件	說明
CR125A	12.5 Gb/s 時鐘恢復(fù)儀器
CR175A	17.5 Gb/s 時鐘恢復(fù)儀器
CR280A	28.4 Gb/s 時鐘恢復(fù)儀器

時鐘恢復(fù)儀器選項

選項	說明	CR125A	CR175A	CR280A
PCIE	PCIE PLL 分析(需要12GJ，僅工作在2.5/5G)	X	X	X
HS	增加高靈敏度時鐘恢復(fù)		X	X
XLBW	增加擴(kuò)展環(huán)路帶寬	X	X	X
12GJ	增加抖動頻率分析	X
17GJ	增加17.5G 時鐘恢復(fù)，帶抖動頻譜分析		X
28GJ	增加28.4G 時鐘恢復(fù)，帶抖動頻譜分析			X
CA1	提供單次校準(zhǔn)服務(wù)或在指定校準(zhǔn)間隔時校準(zhǔn)，以先到者為準(zhǔn)	X	X	X
C3	三年校準(zhǔn)服務(wù)	X	X	X
R3	三年校準(zhǔn)服務(wù)(含保修期)	X	X	X
-CA1	提供單次校準(zhǔn)服務(wù)或在指定校準(zhǔn)間隔時校準(zhǔn)，以先到者為準(zhǔn)	X	X	X
-R1PW	保修期過后續(xù)保1年	X	X	X
-R2PW	保修期過后續(xù)保2年	X	X	X
-R3DW	保修期3 年(含保修期)從客戶購買機(jī)器算起3 年周期	X	X	X

數(shù)字預(yù)加重處理器

附件	說明
DPP125	1-12.5 Gb/s 3階數(shù)字預(yù)加重處理器

數(shù)字預(yù)加重處理器選項

選項	說明
4T	1-12.5 Gb/s 4階數(shù)字預(yù)加重處理器
4T	1-17.5 Gb/s 4階數(shù)字預(yù)加重處理器
4T	1-28 Gb/s 4階數(shù)字預(yù)加重處理器
CA1	提供單次校準(zhǔn)服務(wù)或在指定校準(zhǔn)間隔時校準(zhǔn)，以先到者為準(zhǔn)
C3	三年校準(zhǔn)服務(wù)
R3	三年維修服務(wù)(含保修期)
-CA1	提供單次校準(zhǔn)服務(wù)或在指定校準(zhǔn)間隔時校準(zhǔn)，以先到者為準(zhǔn)
-R1PW	保修期過后續(xù)保1 年
-R2PW	保修期過后續(xù)保2 年
-R3DW	保修期3 年(含保修期)從客戶購買機(jī)器算起3 年周期

附件

選項	說明
100PSRTFILTER	100ps上升時間濾波器
BSA12500ISI	差分ISI 板
PMCABLE1M	高相位匹配電纜，長度1m
SMAPOWERDIV	SMA 功分器
PCIETB5G	PCI Express 測試臺，支持2.5/5GT/s(BERTScope BSA85C，帶CR和電纜、ISI板)
PCIETB125	PCI Express 測試臺，支持12.5GT/s(BERTScope BSA85C，帶CR和電纜、ISI板)
PCIETK	PCI Express 一致性測試接口套件
BSASATATEE	支持OOB 測試的BSA-SATA-Tee
SATATESTSW	SATA 一致性測試自動化軟件
SATATESTPLUG	SATA plug 到SMA 電纜，長度80mm
SATATESTRECPT	SATA receptacle到SMA電纜，長度80mm
DP5400SKCTS	DisplayPort? Sink 端一致性測試方案
DP5400SKG	DisplayPort? Sink 端一致性測試方案， 不含信號發(fā)生器
DPSINKCTSG	DisplayPort? Sink 端一致性測試方案， 不含開關(guān)盒信號發(fā)生器
BSARACK	BSA 上架套件
BARACK	BA 上架套件

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65C-25444-0, 07-JUL-2010