-3000(128/256/512/1024)系列導(dǎo)通測(cè)試儀采用微處理器控制,及新現(xiàn)代化的軟硬件設(shè)計(jì)而成,主要特點(diǎn)有:

1)        采用貼片式電子元器件,具有功耗低,體積小,重量輕,性高；

2)        存儲(chǔ)器采用R FLASH閃存記憶體,無(wú)壞塊了數(shù)據(jù)的，且體積小,容量大(可存儲(chǔ)128組測(cè)試數(shù)據(jù))，不須使用備用電池,資料保存丟失；

3)        采用320*240圖型液晶顯示器,具有顯示范圍大,信息多的優(yōu)點(diǎn)；

4)        全中文操作介面,九個(gè)快捷功能鍵（測(cè)試、搜索、學(xué)習(xí)、通訊、文檔、模式、自檢、設(shè)置、記錄清除），可以方便快速的在各個(gè)功能之間切換；方便操作人員使用,信息一目了然；

5)        可設(shè)置長(zhǎng)達(dá)20位的文件名，方便資料管理；

6)        可設(shè)置、機(jī)器編號(hào)，方便設(shè)備管理；

7)        通過(guò)U接口與PC通信,速度快、上傳或資料方便,交互；

8)        PC端軟件大，配合測(cè)試機(jī)使用可大大降低編程人員的工作量，避免資料編輯及資料傳輸過(guò)程中可能出現(xiàn)的風(fēng)險(xiǎn)；

9)        ,除具有一般導(dǎo)通測(cè)試儀之功能外,還具備下列功能:

a.      多種測(cè)試模式

1. 循環(huán)測(cè)試模式

正常測(cè)試方式,采用時(shí)時(shí)重復(fù)掃描方式.

2.累加測(cè)試模式

在治具試制階段或治具按觸不良的情況下,請(qǐng)選擇累加測(cè)試.這個(gè)功能可逐點(diǎn)逐組探測(cè),實(shí)時(shí)顯示丟失點(diǎn)數(shù)及坐標(biāo)，等待測(cè)試完成后PASS通過(guò).

3. 觸點(diǎn)測(cè)試模式

在治具按觸不良的情況下，請(qǐng)選擇觸點(diǎn)測(cè)試；

     4．多路測(cè)試模式

       可循序測(cè)試多路（單路分別采用循環(huán)測(cè)試模式）；

5．網(wǎng)絡(luò)測(cè)試模式

適用于網(wǎng)絡(luò)化管理,測(cè)試結(jié)果通過(guò)以太網(wǎng)傳輸?shù)胶笈_(tái)進(jìn)行分析和統(tǒng)計(jì)（采用循環(huán)測(cè)試模式）.

b.  異常點(diǎn)擴(kuò)展信息顯示功能

通過(guò)編輯可分別對(duì)被測(cè)點(diǎn)添加附加信息,例如此線(xiàn)所在的區(qū)域,線(xiàn)色和所屬的接插件名稱(chēng),這樣出現(xiàn)異常時(shí),可找出異常位置.

  *c.可升級(jí)導(dǎo)通測(cè)試機(jī)通過(guò)以太網(wǎng)聯(lián)接,由后臺(tái)服務(wù)器統(tǒng)計(jì)和管理生產(chǎn)任務(wù).