測量原理
高頻率的微波脈沖沿著一根纜、棒或包含一根棒的同軸套管運行，接觸到被測介質(zhì)后，微波脈沖被反射回來，并被儀表的電子部件接收，且分析計算其運行時間。微處理器識別物位回波，分析計算后將它轉(zhuǎn)換成物位信號給出。由于其測量原理簡單，VEGAFLEX可以不帶料調(diào)整，從而節(jié)省了大量的調(diào)試費用。測量纜和棒可以截短，使之更加適應(yīng)現(xiàn)場的應(yīng)用。

對于蒸汽不敏感

即使在煙霧、噪音、蒸汽很強烈的情況下，測量也不受影響。
 
不受介質(zhì)特性變化的影響
　被測介質(zhì)的密度變化或介電常數(shù)的變化不會影響測量。

不受被測介質(zhì)粘附影響
　在測量探頭或容器壁上粘附介質(zhì)不會影響測量結(jié)果。

容器內(nèi)安裝物

  如果采用同軸套管式的VEGAFLEX，測量不受容器內(nèi)安裝物的影響，比如：加熱管或支撐物等，且不需要調(diào)試。

VEGAFLEX的不同應(yīng)用

由于VEGAFLEX導(dǎo)波雷達物位計提供了不同形式的微波導(dǎo)向傳播途徑，測量的量程及介質(zhì)受其影響，按其提供的形式分以下幾種：

形式      測量介質(zhì)                    量程

纜式      用于測量液體或固體介質(zhì)      ≤60m

桿式      用于測量液體或固體介質(zhì)      ≤6m

同軸套管  用于測量低黏度的液體介質(zhì)    ≤6m

界面的測量

VEGAFLEX67專門用于測量液體介質(zhì)的界面。為了這個的應(yīng)用，不但從機械結(jié)構(gòu)上，而且從電子部件上都進行了優(yōu)化。

界面測量的前提條件

上層介質(zhì)(L2)：

1.       可以為不導(dǎo)電介質(zhì)；

2.       須知道L2的介電常數(shù)（為了使其測量準(zhǔn)確，調(diào)試時需要輸入）。小介電常數(shù)：棒式1.7，同軸管式1.4；

3.       L2須穩(wěn)定，且介質(zhì)不能更換，混合比列不能改變；

4.       上層介質(zhì)須是同質(zhì)的，內(nèi)部沒有分層；

5.       上層介質(zhì)的厚度至少100mm；

6.       上層介質(zhì)和下層介質(zhì)分層要明顯，沒有乳化狀，沒有腐化層；

7.       上層介質(zhì)盡量不要有泡沫。

下層介質(zhì)（L1）：

1.       L1介電常數(shù)比L2介電常數(shù)至少大10，是導(dǎo)電的。

界面測量的輸出信號

界面可以通過傳感器直接進行分析處理。模擬量輸出（4…20mA）將界面的高度（h1）轉(zhuǎn)換成百分數(shù)。這個數(shù)值也正是要被調(diào)整的數(shù)值。儀表在供貨時已經(jīng)設(shè)定好傳感器長度和上部的區(qū)（0%/100%）。PLICSCOM顯示調(diào)整模塊和調(diào)試軟件PAware顯示出界面的距離和到上一層介質(zhì)表面的距離。HART協(xié)議可以傳輸?shù)浇缑娴木嚯x和到上一層介質(zhì)表面的距離。這些數(shù)據(jù)可以通過信號處理儀表VEGAMET625或任何基于HART通訊的分析處理系統(tǒng)進行分析處理，不如：接口模塊。VEGAMET625還可以計算兩個數(shù)值的差值。差值即為上層介質(zhì)的厚度。

主要性能參數(shù)