| 品牌 | 博豐 | 型號(hào) | |
| 類(lèi)型 | 鑄鐵方箱 | 材質(zhì) | 鑄鐵 |
| 測(cè)量范圍 | 1000 | 尺寸 | 100*100——4000*2000（cm） |
T型槽方箱按/T3411.56—99標(biāo)準(zhǔn)制造，材料才度HT200或HT250
T型槽方箱同樣用于部件平行度、垂直度的檢驗(yàn)和劃線,用于檢驗(yàn)或劃精密工件的任意角度線。T型槽方箱主要規(guī)格：150mm×150mm×150mm、200mm×200mm×200mm、250mm×250mm×250mm、300mm×300mm×300mm、400mm×400mm×400mm、500mm×500mm×500mm、1000mm×1000mm×1000mm除以上規(guī)格都可訂做.都由客戶來(lái)要求.技術(shù)參數(shù):
| T型槽方箱規(guī)格（mm） | 工作面的平面度 | 工作面的垂直度、平行度及V型槽對(duì)底面和側(cè)面的平行度 | ||||
| 等級(jí)（um） | ||||||
| 0級(jí) | 1級(jí) | 2級(jí) | 0級(jí) | 1級(jí) | 2級(jí) | |
| 100*100*100 | 3.5 | 7 | 15 | 7 | 15 | 30 |
| 150*150*150 | 4 | 9 | 17 | 8 | 18 | 35 |
| 200*200*200 | 4.5 | 10 | 20 | 9 | 20 | 40 |
| 250*250*250 | 5 | 11 | 22 | 10 | 22 | 45 |
| 300*300*300 | 12 | 25 | 25 | 50 | ||
| 400*400*400 | 15 | 30 | 30 | 60 | ||
| 500*500*500 | 35 | 70 | ||||
鑄鐵方箱主要用于部件平行度、垂直度的檢驗(yàn)和劃線時(shí)支撐工件，一般為邊長(zhǎng)相同的正方體或長(zhǎng)方體，可根據(jù)用戶要求制作各種規(guī)格和等高方箱及長(zhǎng)方筒。 鑄鐵方箱：按/T3411.56-99標(biāo)準(zhǔn)制造，材料HT200。 1. 用途：方箱主要用于部件的平行度、垂直度等的檢驗(yàn)和劃線。方箱是用鑄鐵制成的具體6個(gè)工作面的空腔正方體，其中一個(gè)工作面上有V型槽。方箱檢定的環(huán)境條件：常溫、常濕。 2. 要求：方箱各工作面不能有銹跡、劃痕、裂紋、凹陷以及影響計(jì)量性能的其他缺陷。非工作面應(yīng)清砂涂漆，棱邊倒角。在方箱內(nèi)壁應(yīng)有標(biāo)牌，并標(biāo)有規(guī)格尺寸，級(jí)別出廠編號(hào)、制造廠名稱(chēng)。 3. ：對(duì)于刮研制方箱除檢定平面度外，還要用涂色法檢定接觸斑點(diǎn)。在邊長(zhǎng)為25mm任意正方形內(nèi)斑點(diǎn)數(shù)為：1級(jí)、2級(jí)不少于25點(diǎn)；3級(jí)不少于20點(diǎn)。 4.鑄鐵方箱檢定方法：對(duì)于邊長(zhǎng)為300mm及以下的方箱，檢定時(shí)在方箱被檢面的兩端各放置1mm的量塊，把刀口尺放在量塊工作面上，然后在其各被檢點(diǎn)處用量塊試塞，當(dāng)量塊組剛剛?cè)霑r(shí)的尺寸與兩端量塊尺寸之差為該被檢點(diǎn)對(duì)兩端之間的偏差。這一檢定還應(yīng)在方箱工作面的縱向、橫向和對(duì)角線方向的幾個(gè)截面上進(jìn)行。在測(cè)得的各個(gè)位置的直線中誤差方向一致時(shí)取其值，當(dāng)誤差方向不一致時(shí)取其正差與負(fù)差值之和，為該受檢面平面的平面度。
工作面硬度
硬度為HB107-240。經(jīng)過(guò)兩次人工處理（人工退長(zhǎng)600度—700度和自然時(shí)效2—3年）使用該產(chǎn)品的精密穩(wěn)定。性良好。
材質(zhì)
度鑄鐵HT200-300
鑄鐵平板的誤差評(píng)定
平面度誤差是指被測(cè)實(shí)際表面對(duì)理想平面的變動(dòng)量。在確定變動(dòng)量大小時(shí)，理想平面相對(duì)于實(shí)際表面的具體方位起著決定性作用，因?yàn)椴煌轿坏睦硐肫矫媾c實(shí)際表面上各點(diǎn)的距離是不同的。用于確定理想平面方位的原則如下： 1、小條件原則 用兩個(gè)平行的理想平面包容實(shí)際表面，并使兩理想平面間的距離為小，此小距離為平面度誤差值。 2、貼切原則 用一個(gè)理想平面與實(shí)際表面相切，且與實(shí)際表面之間的距離為小，此距離為平面度值 3、小二乘方原則 將一個(gè)理想平面按實(shí)際表面的趨向，置于實(shí)際表面的中部，并使實(shí)際表面上各點(diǎn)到理想平面的距離平方和為小，以這個(gè)小二乘方中心平面作為評(píng)定基面，各測(cè)點(diǎn)對(duì)此平面偏差中值與小值之差為被測(cè)表面平面度誤差值。 4、對(duì)角線原則 以通過(guò)被測(cè)表面的一條對(duì)角線而平行于另一條對(duì)角線的平面作為評(píng)定基面，各測(cè)點(diǎn)對(duì)此平面偏差中值與小值之差為被測(cè)面平面度誤差值。 5、環(huán)線法原則 利用測(cè)量閉合環(huán)的平差原理，使各被測(cè)點(diǎn)平差后的新位置到測(cè)量基面的距離變?yōu)楦鼽c(diǎn)相對(duì)于理想平面的距離。這時(shí)理想平面就是通過(guò)原點(diǎn)的自然水平面。 6、三點(diǎn)法原則 規(guī)定理想平面通過(guò)實(shí)際表面上相距遠(yuǎn)且不在一條直線上的三點(diǎn)形成的平面為評(píng)定基面，以各測(cè)點(diǎn)距此平面偏差中值與小值之差為所求被測(cè)表面的平面度誤差值。 7、直線度原則 以實(shí)際表面任一截面直線度誤差作為平面度誤差值。