| 品牌 | 德國SPERO | 型號 | SPERO LAB |
| 光源 | 激發(fā)光源 | 波長范圍 | 120—800（nm） |
| 焦距 | 750（mm） | 外形尺寸 | 長1400*寬780*高1520mm（mm） |
| 重量 | 凈重約375Kg（g） | 適用范圍 | 在鑄造、金屬制造、加工與回收等行業(yè)持續(xù)保持。 |
特點:
- 多光學系統(tǒng)設(shè)計：每臺儀器設(shè)置3個光學系統(tǒng)。
- 數(shù)字化激發(fā)光源。
- 快速分析：標準檢測時間18秒。
- TRS時間解析光譜技術(shù)。
- 的分析結(jié)果：的光源技術(shù)改進了檢出限和分析。靈敏度可以ppm甚至更。
- SSE單火花測量技術(shù)，分析金屬的夾雜物。例如鋼鐵中的酸溶鋁的酸不溶鋁。
- 降低操作成本：檢測過程中能減少50%的氬氣耗量。
- 減少了維護工作量：自動氬氣沖洗系統(tǒng)可清除樣品激發(fā)殘留粉塵，5000次激發(fā)免清理。
- 操作簡便：SPERO Spark AnalyzerTM軟件便于分析操作，而且每一步操作都簡單直觀。
- 更實用的設(shè)計：設(shè)計時充分考慮了生產(chǎn)過程中的工作空間，儀器占地面積小，儀器底部裝有腳輪。
使用和更換部件方便
- 根據(jù)用戶要求，提供德國原廠校準工作曲線和再校準標樣。
| 技術(shù)參數(shù): |
多光學系統(tǒng) 帕邢-龍格結(jié)構(gòu)，光柵焦距750mm，羅蘭圓 分析波長范圍：120nm—800nm 的充氮氣（UV-PLUS）紫外光學系統(tǒng)，用于分析小于230nm波長；并配有自動循環(huán)氣體凈化系統(tǒng) 光譜分辨率：6pm 每臺儀器可選配3個光室 光柵刻線：3600 g/mm, 2400 g/mm, 1800 g/mm 選用不同光譜靈敏度的光電管，根據(jù)不同分析用途進行優(yōu)化設(shè)計 光電管底座優(yōu)化定位檢測系統(tǒng) 采用的雜護元件 火花臺 優(yōu)化的低氬氣消耗量設(shè)計 易于更換的火花臺蓋板，不需要定位工具 樣品夾可旋轉(zhuǎn)，可快速更換不同幾何形狀的樣品 的光學界面 無需工具可快速清洗入射透鏡 集成電路 激發(fā)光源 全數(shù)字化光源，帶數(shù)字放電限定，數(shù)字脈沖發(fā)生器和數(shù)字離線脈沖控制 32M微處理器 每200μs放電400次 能量分辨率：125mW 單火花放電時間長4000μs 火花激發(fā)能量：4KW 讀出系統(tǒng) 時間解析光譜技術(shù)（TRS），檢出限和分析度 光譜儀控制 計算機控制光譜儀 自診斷功能 通過TCP/IP協(xié)議連接的操作軟件可調(diào)節(jié)和控制功能參數(shù) 軟件 Spark Analyzer Vision軟件包用于分析操作和校準 通過SQL數(shù)據(jù)庫對分析結(jié)果進行存檔管理 通過XML或Windows剪貼板導出分析結(jié)果 SYS-GATE集成數(shù)據(jù)輸出模式 可用樣品的檢測技術(shù)（SATEUS）,可自動檢測出預激發(fā)過程中有缺陷的樣品 自調(diào)整預激發(fā)技術(shù)（SEREPS），可自動優(yōu)化預激發(fā)時間，直至消除樣品缺陷 測量的檢測技術(shù)（SETEME），可自動檢測出分析過程中的有缺陷的樣品 計算機系統(tǒng) 采用目前的計算機，Windows XP操作系統(tǒng) 17″TFT平面顯示器 采用目前的彩色噴墨打印機 光譜儀供電要求 230VAC-15%/+10%,50Hz/60Hz 分析時功率1.5kVA 待機狀態(tài)：0.5 kVA 16A慢熔保險 尺寸規(guī)格 長1400*寬780*高1520mm 重量 凈重約375Kg |
