| 品牌 | 立式光學計 | 型號 | JDG-S2 |
這是我廠新研制的大量程、高的計量儀器。 本儀器是一種采用量塊或標準件與試件相比較的方式測量物體外形尺寸的儀器。主要用于五等量塊，柱型規(guī)及各種圓柱形，球形，線形等物體的直徑或板形物體的厚度的精密測量，對被測件作微小位移測量。亦可用來控制精密件的加工。 技術(shù)參數(shù) 被測件長度 180 mm 直接測量范圍 ≥10 mm 小顯示值 0.0001 mm 測量力 (2±0.2) N 不準確度 比較測量時：±0.00025 mm 直接測量時：0.0005mm 測量誤差 ±(0.5+L/100) μm L是被測長度,以mm 儀器體積 250X150X440mm 儀器重量 18kg 標準配件 可調(diào)帶筋園臺、可調(diào)園平臺 平面測帽、平面測帽、小球面測帽、刃形測帽
