| 品牌 | ED |
平面平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ),利用平晶的測(cè)量面與試件的被測(cè)量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測(cè)量被測(cè)量面的平面度。
*平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測(cè)量面、工作面的平面度。亦可用于檢定高的平面件,例如,平面光學(xué)件、平臺(tái)、平板、導(dǎo)軌、密封件等。平面平晶適用于計(jì)量單位、實(shí)驗(yàn)室作為標(biāo)準(zhǔn)平面和樣板。
咨詢電話SERVICE LINE
0574-65539830
13095956698

掃一掃
進(jìn)入手機(jī)店鋪
寧海三豐計(jì)量檢測(cè)儀器有限公司
免企業(yè)未認(rèn)證證營(yíng)業(yè)執(zhí)照未上傳
經(jīng)營(yíng)模式:工廠
所在地:浙江
主營(yíng)產(chǎn)品:五金工具 長(zhǎng)度量?jī)x檢測(cè)設(shè)備 材料分析檢測(cè)儀器 力學(xué)試驗(yàn) 無損檢測(cè)儀器 金相設(shè)備 環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備 表面處理及形狀測(cè)量?jī)x器 齒輪檢測(cè)設(shè)備 軸承檢測(cè)設(shè)備 閥門檢測(cè)設(shè)備 綜合檢測(cè)儀器 專用機(jī)加工設(shè)備 精密工量具
掃一掃
進(jìn)入手機(jī)店鋪
| 品牌 | ED |
平面平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ),利用平晶的測(cè)量面與試件的被測(cè)量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測(cè)量被測(cè)量面的平面度。
*平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測(cè)量面、工作面的平面度。亦可用于檢定高的平面件,例如,平面光學(xué)件、平臺(tái)、平板、導(dǎo)軌、密封件等。平面平晶適用于計(jì)量單位、實(shí)驗(yàn)室作為標(biāo)準(zhǔn)平面和樣板。