ATi憑借其內(nèi)置的20個(gè)節(jié)點(diǎn)的開爾文矩陣、測(cè)量范圍廣泛的各種可用測(cè)試參數(shù)、LCR表模式、測(cè)試結(jié)果軟件、用戶友好型處理程序、OLE和條形碼接口以及廣泛的頻率和測(cè)試范圍，ATi代替了之前的測(cè)試低電壓繞線和無源元件所需的許多不同儀表。

特點(diǎn)及優(yōu)勢(shì)：

l        20Hz~3MHz頻率范圍

l        0.05%基本測(cè)量

l        無限序列通過/失敗測(cè)試

l        4-BNC連接器，用于快速前面板測(cè)試

l        內(nèi)置20節(jié)點(diǎn)開爾文矩陣，用于高速生產(chǎn)測(cè)試

l        可編程電壓或電流驅(qū)動(dòng)器

l        大型熒光背光圖形顯示

l        通過直接RS232可輕松升級(jí)軟件

l        內(nèi)置電容式觸摸板

l        寬廣的測(cè)量范圍

l        測(cè)試線補(bǔ)償和夾具補(bǔ)償

l        內(nèi)部存儲(chǔ)超過100個(gè)程序

l        三個(gè)可編程集成設(shè)置

l        獨(dú)有的低成本夾具平臺(tái)

l        快的生產(chǎn)測(cè)試儀

l        OLE驅(qū)動(dòng)器

測(cè)試參數(shù)：

ü        C    繞組間電容

ü        CTY   導(dǎo)通性

ü        R   直流電阻

ü        RLP   交流電阻---并聯(lián)電路

ü         RLS   交流電阻---串聯(lián)電路

ü         Z   阻抗

ü         LP   電感值---并聯(lián)電路

ü         LS   電感值---串聯(lián)電路

ü         LPB   加偏置電流的電感值---并聯(lián)電路

ü         LSB   加偏置電流的電感值---串聯(lián)電路

ü         QL   品質(zhì)因素

ü         ANGL   負(fù)阻抗的幅角

ü         TR   匝比和相位

ü         IR   絕緣電阻（500V）

ü         ZB   加偏置電流的阻抗

ü         D   損失因素

ü         C2   電容匹配

ü         GBAL   總體縱向平衡

ü         L2   電感匹配

ü         ILOS   插入損耗

ü         LL   漏感

ü         LLO   漏感（用戶歸零）

ü         LBAL   縱向平衡

ü         OUT   用戶端口繼電器控制

ü         PHAS   繞組相位

ü         RLOS   反射損失

ü         TRL   電感匝數(shù)比

ü         TRIM   微調(diào)零件

ü         LOVC   低壓開路

        還有很多。。。。。。（包括THD、諧振頻率、邏輯標(biāo)記、阻抗匹配，等等）

如果需要測(cè)量更高電壓或更大功率 ，包括進(jìn)行交流和直流高壓絕緣測(cè)試，請(qǐng)考慮使用AT3600。

AT3600與ATi的區(qū)別：