氧化誘導(dǎo)期測定儀的詳細(xì)信息

 

XYHC—500C氧化誘導(dǎo)期測定儀儀是由計算機(jī)機(jī)控制，研究高分子材料力學(xué)性能的儀器，它能夠測定材料在等速升溫條件下的溫度、變形曲線，從而確定材料的玻璃化溫度Tg和流動溫度Tf（符合國標(biāo)：GB11998）。它能測量各種材料的熱膨脹系數(shù)，從而確定這些材料的變態(tài)點(diǎn)，燒結(jié)過程、收縮率、熱膨脹等特性。可廣泛應(yīng)用于高分子及其合成材料、藥物、陶瓷等材料的科研和生產(chǎn)中。   主要性能指標(biāo)： 1、測量形式： （1）壓縮、彎曲、拉伸、穿透四種受力形式（2）膨脹變形 2、溫度范圍：  （1）低溫爐：-40℃—室溫；（2）高溫爐：室溫— 500℃ 3、升降溫速率： （1）升溫：0.5—5℃/min; 1.2℃，5℃/min常用（高溫爐用） （2）降溫：-0.5— -2℃/min; -1.2℃/min常用（低溫爐用） 4、變形測量范圍： （1）對于壓縮、彎曲、拉伸、穿透四種試驗為0—2.5mm（2）對于膨脹變形試驗為0—0.5mm   系統(tǒng)軟件實現(xiàn)的功能： 1、實時顯示試驗溫度—變形曲線 2、實時顯示試驗溫度—時間曲線 3、對于壓縮試驗與穿透試驗?zāi)軌蜃詣佑嬎愠鰢H規(guī)定的玻璃化溫度TG和流動溫度Tf 4、對于膨脹試驗?zāi)軌蜃詣佑嬎愠銎渑蛎浵禂?shù) 5、打印試驗曲線和試驗 6、隨時存取和查詢歷次試驗曲線 7、試驗曲線計算的TG和Tf可以實時顯示和隱藏 8、查詢各次試驗歷史數(shù)據(jù) 9、正版安裝軟件密碼保護(hù) 10、使用密碼保護(hù) 11、變形測量裝置調(diào)零、上、下限溫度設(shè)置、升、降溫速率設(shè)置 12、由于膨脹試驗的變形量比較小，因此膨脹試驗的變形采集是獨(dú)立的通道，獨(dú)立調(diào)零 13、對于符合國標(biāo)規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)式樣可任意選擇 14、軟件數(shù)字濾波，偽信號自動去除 15、誤差自動修正 16、試驗完成或到達(dá)上限溫度、到達(dá)下限溫度報警 17、系統(tǒng)日期和時間設(shè)置 18、計算機(jī)屏幕分辨率設(shè)置 19、完全實現(xiàn)試驗的功能要求 20、開放性好，便于移植和擴(kuò)展   試驗監(jiān)控： 1、溫度測量為±1℃，溫度分辨率0.1℃。 2、變形測量為±0.01mm,變形分辨率為0.001mm。 3、加熱自動控制裝置控制為升溫速率10%，溫度+0.5℃— -0.5℃。 4、降溫自動控制裝置控制為降溫速率10%，溫度+0.5℃— -0.5℃。 5、當(dāng)試驗開始后，為保證加熱自動控制裝置，“試驗管理”和“試驗監(jiān)控”界面的有關(guān)按鈕和有關(guān)菜單操作被自動禁止。 6、當(dāng)試驗全部完成后，蜂鳴器會響，可用鼠標(biāo)單擊消音子菜單消音。 7、當(dāng)試驗全部完成后，可用鼠標(biāo)單擊試驗菜單下的打印子菜單打印本監(jiān)控界面的有關(guān)數(shù)據(jù)和曲線。