x-ray膜厚測(cè)量?jī)x可測(cè)元素范圍：鋁(AL) –鈾(U)。
可測(cè)量厚度范圍：原子序22-25，0.1-0.8μm26-40，0.05-35μm43-52，0.1-100μm72-82，0.05-5μm。
自動(dòng)測(cè)量功能：編程測(cè)量，自定測(cè)量修正，測(cè)量功能。
底材修正：已知樣品修正。
可測(cè)量厚度范圍：原子序22-25，0.1-0.8μm26-40，0.05-35μm43-52，0.1-100μm72-82，0.05-5μm。
自動(dòng)測(cè)量功能：編程測(cè)量，自定測(cè)量修正，測(cè)量功能。
底材修正：已知樣品修正。
定性分析功能：光譜表示，光譜比較。
定量分析功能：合金成份，分析數(shù)據(jù)。
x-ray膜厚測(cè)量?jī)x作為一種在線測(cè)量厚度的精密儀器，在電鍍工藝生產(chǎn)中占有重要的，直接影響到電鍍產(chǎn)品的質(zhì)量。鍍層控制系統(tǒng)接收到膜厚儀提供的實(shí)事厚度偏差信號(hào)對(duì)物料擠出機(jī)、物料加熱器進(jìn)行控制。信號(hào)的準(zhǔn)確和靈敏程度直接影響了鍍層產(chǎn)品厚度的。
x射線膜厚儀通過(guò)吧高壓直流電壓加在x射線的兩，產(chǎn)生不同能級(jí)的x射線穿過(guò)被測(cè)物，比較被測(cè)物兩端x射線的強(qiáng)度來(lái)進(jìn)行在線厚度測(cè)量。
