技術(shù)參數(shù)：
●測(cè)定原理 X射線(xiàn)熒光分析法
●測(cè)定方法 能量色散型
●測(cè)定對(duì)象 固體、液體、粉體
●樣品形狀 150mm× 150mm× 40mmH
●X射線(xiàn)管 Rh靶
●檢測(cè)器 Si（Li）半導(dǎo)體檢測(cè)器（μEDX-1200/1300型）
Si漂移半導(dǎo)體檢測(cè)器（μEDX-1400型）
●測(cè)定范圍 13Al ~ 92U （μEDX-1200型）
11Na ~ 92U （μEDX-1300型）
13AL ~ 92U （μEDX-1400型）
主要特點(diǎn)：
μEDX系列X射線(xiàn)熒光光譜儀可以高靈敏度地分析很小的樣品。對(duì)于需要高分辨率同時(shí)高X射線(xiàn)強(qiáng)度才能進(jìn)行測(cè)定的電子部件、電路板以及材料中的異物等微小局部的測(cè)定，本裝置可進(jìn)行高靈敏度、高分辨率，分析直徑小至50μm的分析。
