儀器簡介：

BWS435高性能共聚焦顯微拉曼光譜儀是B&W TEK公司新出品的高性能共聚焦顯微拉曼光譜儀系統(tǒng)，它采用先進(jìn)可靠的Olympus BX61顯微鏡平臺，性能優(yōu)異，配置靈活，提供豐富的附件來滿足客戶的不同的應(yīng)用需要。共聚焦技術(shù)消除了非焦點(diǎn)區(qū)域的雜散光，大大提高了信噪比，并保證了觀察區(qū)域與檢測區(qū)域的一致性。光譜檢測系統(tǒng)采用了本公司的BTC661E高性能光譜儀，它采用了獨(dú)有的光路設(shè)計和TE致冷背照明式CCD陣列，具有極高的信噪比和分辨率。該系統(tǒng)還采用了本公司具有美國的窄帶寬高穩(wěn)定性激光器，激發(fā)波長532nm和785nm可選，激光帶寬<0.02nm,且功率可調(diào)，是拉曼光譜檢測的理想激發(fā)光源。另外全系列產(chǎn)品可加配XYZ向電動平移臺進(jìn)行Raman Mapping檢測。該系統(tǒng)性能優(yōu)異，性價比高，操作方便，是拉曼光譜檢測的理想選擇。

技術(shù)參數(shù)：

光學(xué)系統(tǒng)           正置
光學(xué)放大倍數(shù)   5X, 10X, 20X, 40X, 80X長工作距離物鏡
                           100X 長工作距離物鏡可選

調(diào)焦系統(tǒng)
載物臺垂直運(yùn)動范圍： 25mm
載物臺配有粗調(diào)限位器
粗調(diào)旋鈕張力調(diào)節(jié)
載物臺裝配位置可變
高靈敏度微調(diào)對焦旋鈕
(小調(diào)節(jié)步長：1 微米)

拉曼光譜檢測系統(tǒng)
光譜覆蓋范圍     BWS435-785   100-2600 cm-1(標(biāo)準(zhǔn)) 
                                                         (65cm-1可選)
                             BWS435-532  100-3050 cm-1(標(biāo)準(zhǔn))
                                                        (65cm-1可選)
分辨率                 BWS435-785    3.5cm^-1
                             BWS435-532    3.5cm^-1
光學(xué)系統(tǒng)             Dual pass transmission
激發(fā)波長             532 or 785±1nm
激光帶寬             0.1nm(標(biāo)準(zhǔn))，0.2nm() ，單模0.01nm
激光功率             0-20mW (532nm 激發(fā)功率可調(diào))，0-80mw(785nm激發(fā)，功能可調(diào)）
探測器                 背照明致冷 CCD, 2048x122 pixels
探測器溫度         -20°C
長積分時間     16 分種

主要特點(diǎn)：

TE致冷背照式CCD陣列檢測儀器，具有很高的靈敏度與信噪比
的光學(xué)平臺設(shè)計，可提供的系統(tǒng)光通量與分辨率
高性能的共聚焦顯微鏡系統(tǒng)，做到了真正的“所見即所得”
采用高性能拉曼濾光片，檢測波數(shù)可達(dá)65cm-1
采用具有美國的本公司獨(dú)有的窄帶寬高穩(wěn)定激光器，且功率可調(diào)
整機(jī)無移動部件，無需定期校正，使用方便，可靠性高
性能優(yōu)異，性價比高。