半導體激光器（LD）綜合參數(shù)測試儀

一、簡要描述

FLDT系列半導體激光器（LD）參數(shù)測試儀是測量半導體激光器主要性能參數(shù)和特性指標的儀器。通過給受試LD提供不同的工作電流，采集不同工作條件下受試LD的各種參數(shù)信號，計算得出該LD的光電轉(zhuǎn)換特性、伏安特性、光譜特性、遠場/近場特性和熱特性。打印測試，保存數(shù)據(jù)。

 二、應用

LD參數(shù)測試儀系列產(chǎn)品測試光功率范圍從0.1mW-1000W以上，光譜測試范圍從400-1700nm，根據(jù)器件封裝形式的不同選擇不同的夾具，包括： TO系列、COS 、C-MOUNT、BAR系列、光纖輸出系列等等。同時可以根據(jù)不同行業(yè)的需要進行設計，滿足科研、生產(chǎn)、教學等需要。

三、特點

l  系統(tǒng)按功能?？旎?/SPAN>, 采用單片機控制, 性能穩(wěn)定可靠，維修使用方便；

l  測試功率覆蓋范圍寬：0.1mW~1000W以上；

l  測試封裝類型：TO系列、光纖輸出系列、Bar系列、管芯系列以及各種組件等等；

l  高質(zhì)量的LD驅(qū)動電源：既可連續(xù)工作，又可脈沖工作，具有LD過流保護、低噪聲、無浪涌和過脈沖保護等功能；

l  自動化程度高：整個測試、數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)處理、顯示及打印都由系統(tǒng)自動完成；

l  操作簡單、測量速度快。

四、功能/技術指標

系統(tǒng)主要功能包括測量LD的光電特性（LI和LI_M）、伏安特性（IV）、光譜特性（SP）、遠場特性（FF）、近場特性（NF）和熱特性（T），具體如下：

l  進行LIV和LI測試，繪制LIV曲線和LI_M曲線，檢測、推算工作電流、輸出光功率、工作電壓、閾值電流、功率效率、斜率效率、微分電阻、背光電流等參數(shù)；

l  進行光譜測試：繪制光譜曲線，推算峰值波長、光譜譜寬；

l  進行遠場測試: 繪制遠場曲線，推算水平發(fā)散角、垂直發(fā)散角；

l  進行熱阻測試；

l  測試數(shù)據(jù)能夠保存、導入，可打印標準測試。

l  可測量參數(shù)：