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昆山華乃爾電子科技有限公司

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X射線熒光分析儀EDX-GP的詳細(xì)介紹

華東總代理

EDX-GP是適合用于RoHS/ELV/無鹵素法規(guī)限制的有害元素篩選分析的X射線熒光分析裝置。

　　次使用，也能輕松操作，操作簡便且以更高的進(jìn)行微量分析，達(dá)到靈敏度與分辨率的完美結(jié)合。

　　標(biāo)準(zhǔn)配置RoHS/ELV/無鹵素分析所需的所有必要功能，用戶無需購買特殊選購件，使可以獲得RoHS/ELV/無鹵素分析系統(tǒng).

測試步驟：

操作簡便，一個指令即可開始全自動測定。
測定條件的選擇過去一直依賴操作者的判斷，現(xiàn)在改由裝置自動判斷，即使初學(xué)者也可簡便·高地測定。

放置樣品

●	將樣品放在分析位置，利用樣品圖像觀察裝置確認(rèn)分析位置。
●	選擇分析區(qū)域。
●	關(guān)閉樣品室。

選擇分析條件／輸入樣品名稱

●	一個畫面中可以同時顯示樣品圖像、選擇分析條件、輸入樣品名稱。
●	點(diǎn)擊開始。

顯示分析結(jié)果

●	測定結(jié)束后，畫面上將清楚顯示5種元素的［合格判定］、［含量］、［3σ（測定偏差）］。
●	點(diǎn)擊即可顯示［結(jié)果列表］或［創(chuàng)建書］。

只需1次點(diǎn)擊，便可根據(jù)預(yù)先登錄的分析條件，
自動執(zhí)行從測定到結(jié)果的一系列操作。

■ 校準(zhǔn)曲線自動選擇功能

不含有害元素時，測定過程中能夠判定結(jié)果時，即自動終止測定，縮短分析時間。

■ 省時功能

不含有害元素時

不含有害元素時，測定過程中能夠判定結(jié)果時，即自動終止測定，縮短分析時間。

■ 適用省時功能的縮短時間示例

含量低于檢出下限值時，判斷不含有，測定自動結(jié)束。上述樣品中Pb、Cd的含量均低于檢出下限，與設(shè)定的200秒（=100秒＋100秒）分析時間相比，僅用了50秒（=25秒＋25秒）即結(jié)束分析，大幅度節(jié)約了時間。

有害元素含量高時

由設(shè)定的目標(biāo)管理自動決定測定時間。
在測定達(dá)到管理值時結(jié)束測定。

■ 適用省時功能的縮短時間示例

測定高濃度元素時，在比設(shè)定的測定時間更短的時間內(nèi)即可獲得高強(qiáng)度，而且誤差變小，由此可以大幅縮短時間。上述樣品中Pb：7600ppm、Cd：52ppm,設(shè)定的分析時間為200秒（=100秒＋100秒），實(shí)際僅用了40秒（=15秒＋25秒）即結(jié)束分析，大幅度節(jié)約了時間。

EDX-GP標(biāo)準(zhǔn)配備了RoHS/ELV/無鹵素分析所需的所有必要功能，用戶無需購買特殊選購件，就可以獲得RoHS/ELV/無鹵素分析系統(tǒng)。

標(biāo)準(zhǔn)配置改變照射直徑的準(zhǔn)直器＆樣品圖像觀察組件

測定異物或者測定包含多個部位的樣品時，通過樣品圖像觀察組件在觀察樣品的同時，可以簡單的設(shè)定分析位置。測定小樣品或樣品中特定位置時，可以使用準(zhǔn)直器，更改X射線照射區(qū)域。
（1, 3, 5, 10 ｍｍφ）

10mmφ圖像（塑膠）

3mmφ（金屬）

形狀校正功能

即使含量相同的樣品，在形狀和厚度不同時，X射線強(qiáng)度將發(fā)生變化，得到的定量值也會受到影響，EDX-GP通過使用BG內(nèi)標(biāo)法*，可以排除形狀和厚度的影響，取得高結(jié)果。

※	BG內(nèi)標(biāo)法通過散射X射線強(qiáng)度使各元素的X射線熒光強(qiáng)度標(biāo)準(zhǔn)化的一種校正方法。