- 品牌/商標(biāo)：森力普/ETE
- 企業(yè)類型：制造商
- 新舊程度：全新
- 原產(chǎn)地：廣東
基于CCD自動(dòng)化視覺檢測(cè)-ATE測(cè)試系統(tǒng)
基于高分辨率工業(yè)CCD和NI Vision的視覺測(cè)試系統(tǒng)，用于焊點(diǎn)判別，尺寸測(cè)量，角度測(cè)量，字符識(shí)別等。采用雙峰積分法，二值法處理圖片，運(yùn)用幾何工具量取尺寸，運(yùn)用特征碼識(shí)別對(duì)比圖片，具有較高的準(zhǔn)確度。
基于CCD自動(dòng)化視覺檢測(cè)治具設(shè)計(jì) Fixture design
治具下方是一個(gè)由汽缸控制的滑軌，用來傳送產(chǎn)品。上方是CCD，用步進(jìn)電機(jī)控制，以便其能夠在X,Y軸方向移動(dòng)。操作按鈕包括雙手啟動(dòng)按鈕和一個(gè)停止按鈕，操作簡(jiǎn)單，安全。
ATE測(cè)試系統(tǒng) 測(cè)試結(jié)果 Test results
所有測(cè)試結(jié)果無論PASS還是FAIL都將被保存，同時(shí)還將保存產(chǎn)品的條碼，測(cè)試時(shí)間，測(cè)試項(xiàng)目及結(jié)果。如果客戶需要，還可以同時(shí)保存測(cè)試圖片。對(duì)不良圖片，可以標(biāo)示不良位置。測(cè)試數(shù)據(jù)可以以文本或者Excel報(bào)表的格式保存，也可以直接上傳Oracle，MDB數(shù)據(jù)庫?？膳浜?/span>IT SFC系統(tǒng)進(jìn)行管控。
ATE非標(biāo)測(cè)試系統(tǒng)
原理簡(jiǎn)介
根據(jù)客戶的測(cè)試要求、圖紙及參考方案，采用MCU、PLC、PC基于VB、VC開發(fā)平臺(tái)，利用美國(guó)國(guó)家儀器儀表公司（NI）的軟件TestStand&LabVIEW和JTAG/Boundary Scan等技術(shù)開發(fā)、設(shè)計(jì)各類自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備。
ATE其他測(cè)試內(nèi)容
單片機(jī)測(cè)試系統(tǒng)，MCU測(cè)試系統(tǒng)，圖像識(shí)別系統(tǒng)，電阻電容分選機(jī)測(cè)試系統(tǒng)，邊界掃描測(cè)試系統(tǒng)，遙控控制測(cè)試系統(tǒng)，TV電視測(cè)試系統(tǒng)，電源測(cè)試系統(tǒng)以及MIC測(cè)試系統(tǒng)，揚(yáng)聲器測(cè)試系統(tǒng)，RF測(cè)試系統(tǒng)，音頻測(cè)試系統(tǒng)及數(shù)字音頻測(cè)試系統(tǒng)，FPC軟板測(cè)試，圖像方面的CVBS，SVIDEO，RGB的測(cè)試，ITU656的測(cè)試，HDMI信號(hào)的測(cè)試，電壓電流的測(cè)試，USB，串口，GPIB接口的儀器通信，I
