可測試參數(shù)
單向可控硅整流器（普通晶閘管）SCR
測試參數(shù)名稱 | 電壓范圍 | 電流范圍 | 分辨率 | |
IDRM、IRRM、 IGKO | 0.10V-2kV 0.10V-20V(80V)2 | 1nA(20pA)1-50mA 1nA(20pA)1 | 1nA(1pA)1 | 1%+10nA+20pA/V (1%+200pA+2pA/V)1 |
VDRM、VRRM BVGKO | 0.10V-2kV 0.10V-20V(80V)2 | 1nA-50mA 1nA | 1mV 1mV | 1%+100mV 1%+10mV |
VTM | 0.10V-5.00V -9.99V | 10uA | 1 mV | VT:1%+10mV IT:1%+1nA |
I GT VGT | VD:5V-49.9V VGT:0.10V-20V(80V)2 VT:100mV-49.9V | IGT:1nA RL:12Ω/30Ω/100Ω /EXT | 1mV 1nA | 1%+10mV 1%+5nA |
IL(間接參數(shù)) | VD:5V-49.9V | IL:100μA IGT:1nA RL:12Ω/30Ω/100Ω /EXT | N/A | N/A |
IH | VD:5V-49.9V | IH:10uA IGT:1nA RL:12Ω/30Ω/100Ω /EXT (IAK初值由RL設(shè)置) | 1uA | 1%+2uA |
雙向可控硅開關(guān)器件（雙向晶閘管）Triac
測試參數(shù)名稱 | 電壓范圍 | 電流范圍 | 分辨率 | |
IDRM IRRM IGKO | 0.10V-2kV 0.10V-20V(80V)2 | 1nA(20pA)1-50mA 1nA(20pA)1 | 1nA(1pA)1 | 1%+10nA+20pA/V (1%+200pA+2pA/V)1 |
VD+、VD- BVGKO | 0.01V-2kV 0.10V-20V(80V)2 | 1nA-50mA 1nA | 1mV | 1%+100mV 1%+10mV |
VT+ | 0.10V-5.00V -9.99V | 10uA IGT:1nA | 1mV | V:1%+10mV IT:1%+1nA IGT:1%+5nA |
I GT VGT | VGT:0.10V-20V(80V)2 VT:100mV-49.9V | IGT:1nA RL:12Ω/30Ω/ 100Ω/EXT | 1mV 1nA | 1%＋10mV 1%＋5nA |
IL+、IL- (間接參數(shù)) | VD:5V-49.9V | IL:100μA IGT:1nA RL:12Ω/30Ω/100Ω /EXT | N/A | N/A |
IH+、IH- | VD: 5V-49.9V | IH:10uA IGT:1nA RL:12Ω/30Ω/100Ω /EXT (IAK初值由RL設(shè)置) | 1uA | 1%+2uA |
西安誼邦電子引進美國的先進半導體測試技術(shù)，在此基礎(chǔ)上研制生產(chǎn)了YB6000系列半導體分立器件測試系統(tǒng)，該測試系統(tǒng)擁有功率大、速度快、高、測試種類全等技術(shù)特點，各項技術(shù)指標均達到國際水平。其雄厚的技術(shù)實力，多年的開發(fā)產(chǎn)品經(jīng)驗和獨特嚴謹?shù)脑O(shè)計方案使誼邦電子YB系列測試系統(tǒng)性能更加超群，品質(zhì)更為可靠穩(wěn)定。誼邦電子研發(fā)技術(shù)涉及高端集成電路測試、半導體分立器件測試和各種客戶產(chǎn)品測試等領(lǐng)域。產(chǎn)品主要應用于、汽車、飛機、船舶制造、能源等行業(yè)領(lǐng)域。
西安誼邦憑借較強的技術(shù)實力和完善的科學管理，能夠給用戶提供完善的售前售后技術(shù)支持。科技創(chuàng)新、服務無限，是我們工作的宗旨。
