1.FEI ESEM(環(huán)境掃描電鏡)技術(shù), 可在高真空、低真空和環(huán)境真空條件下對(duì)各種樣品進(jìn)行觀察和分析。
2.所有真空條件下的二次電子、背散射電子觀察和微觀分析。
3.先進(jìn)的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)平臺(tái),全數(shù)字化系統(tǒng)。
4.可同時(shí)安裝能譜儀、波譜儀和EBSP系統(tǒng)。
5.可安裝低溫冷臺(tái)、加熱臺(tái)、拉伸臺(tái)等進(jìn)行樣品的原位、動(dòng)態(tài)觀察和分析








