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X-顯微熔點(diǎn)儀
型號：x-4
應(yīng)用范圍：應(yīng)用范圍：測定物質(zhì)的熔點(diǎn)。用于、化工、紡織、染料等晶體化合物之測定，顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測定，又可用載玻片-蓋玻片法（熱臺法）測定。
【產(chǎn)品詳情】
性能指標(biāo)
熔點(diǎn)測量范圍：室溫至320℃
小讀數(shù)：0.1℃
測量重復(fù)性：&plun;1℃（在<200℃時）
&plun;2℃（在200～300℃時）
配雙目體視顯微鏡
光學(xué)放大倍數(shù)：40X-100X連續(xù)可調(diào)
