一、產(chǎn)品概述

  1、Bruker公司是手持式X熒光光譜儀的先驅(qū)，2001年在美國(guó)納斯達(dá)克證券交易所上市。2001年次把X射線管應(yīng)用于手持式X熒光光譜儀中；2002年次實(shí)現(xiàn)手持式X熒光光譜儀測(cè)量輕元素；2008年次在手持X熒光光譜儀中使用硅漂移檢測(cè)器(SDD)。S1 TURBOSD使用了XFlash®SDD探測(cè)器技術(shù)，大大了手持式X熒光光譜儀的靈敏度和。 了工業(yè)生產(chǎn)的和產(chǎn)品的質(zhì)量。成為目前世界同類儀器中分析速度快，分析范圍廣的設(shè)備。

  2、功能模塊包括：定量分析、牌號(hào)識(shí)別、混料識(shí)別、合格與否判定、圖譜顯示。

  3、應(yīng)用領(lǐng)域：石油化工、、航空、航天、鋼鐵、電站、電廠、鍋爐、壓力容器、機(jī)械制造與加工、金屬回收與分類、貴金屬、RoHS檢測(cè)（玩具、塑料等）、礦石、土壤等。 

二、技術(shù)參數(shù)

  1、可測(cè)元素：Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Zr、Nb、Mo、Hf、W、Ta、Re、Pb、Ag、Sn、Bi、等25種，Mg、Al、Si、P、S，Delte-X便攜式光譜儀所配置的標(biāo)準(zhǔn)元素還可以增加或更換。

  2、廣泛應(yīng)用于鐵合金、銅合金、鋁合金、銅鐵合金、鉛錫合金等金屬成份的定量分析以及現(xiàn)場(chǎng)的快速材料鑒定和分揀。

  3、規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)：尺寸300×100×280mm/1.5公斤；

  4、X射線管：40KV/4W的銀靶；

  5、探測(cè)器：XFlash®硅漂移檢測(cè)器(SDD), 檢測(cè)速度快；能量分辨率高/145eV, 計(jì)數(shù)率/100 kcps；

  6、操作系統(tǒng)：HP掌上電腦，Windows Mobile5.0 Bruker 軟件；

  7、冷卻系統(tǒng)：Peltier半導(dǎo)體冷卻系統(tǒng)；

  8、電源： 交、直流供電；2塊充電鋰電池，可連續(xù)工作8-12小時(shí)；

  9、工作條件：濕度范圍-20℃～+55℃，濕度范圍0～95%；

  10、電池充電器：交流充電器：110/220V，50/60Hz；

  11、計(jì)算機(jī)/顯示器：240x320彩顯，65,536像素，背景光可調(diào)，觸摸屏；

  12、測(cè)量模式：牌號(hào)識(shí)別、定量分析、顯示測(cè)量譜線、合格與否判定；

  13、樣品表面溫度：使用熱表面適配器，可測(cè)500℃高溫件；

  14、數(shù)輸：U，無(wú)線藍(lán)牙，SD卡；

  15、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)：主機(jī)、512存儲(chǔ)卡、CF/SD卡，2GB，能存儲(chǔ)幾十萬(wàn)個(gè)牌號(hào)和測(cè)量數(shù)據(jù)。