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EL缺陷測(cè)試儀 · 【設(shè)備用途】 · 該設(shè)備用于檢測(cè)太陽(yáng)能電池組件有無(wú),如隱裂、碎片、虛焊、斷柵及不同轉(zhuǎn)換效率單片電池異?，F(xiàn)象。 · 【設(shè)備簡(jiǎn)介】 · 1、部件（紅外像機(jī)）采用日本原裝進(jìn)口整件，610萬(wàn)像素； 2、采用日本進(jìn)口鏡頭，可有效調(diào)節(jié)聚焦位置，大大提高圖片清淅度； 3、全封閉光路設(shè)計(jì)，確保檢測(cè)儀長(zhǎng)期穩(wěn)定運(yùn)行，對(duì)環(huán)境適應(yīng)能力更強(qiáng)； 4、整機(jī)設(shè)備人性化設(shè)計(jì)，軟件操作簡(jiǎn)捷明了。 參數(shù)及說(shuō)明
| 型號(hào)規(guī)格 | GELD-610 | GELD-140 |
| 檢測(cè)尺寸 | 2000mm x 1400mm | |
| 分辨率 | 3032H x 2016V | 1392H x 1040V |
| 光學(xué)尺寸 | 1.8 Inches | 2/3 Inches |
| 幀 率 | 3 fps | 15fps |
| 像素尺寸 | 7.8um x 7.8um | 6.45um x 6.45um |
| 信 噪 比 | >56dB | |
| 動(dòng)態(tài)范圍 | 60dB | |
| 曝光時(shí)間 | 1Ms - 60Min | 1/5000s - 2s |
| 曝光控制 | 自動(dòng)、手動(dòng) | |
