概述:本設(shè)備用來測試器件公子和母座插件的耐插壽命的試驗設(shè)備,模擬人工對試件公子和母座插件,準(zhǔn)確的插拔壽命測試,性高。從而降低客戶的人力資源,產(chǎn)品的質(zhì)量,本設(shè)備深受廣大客戶的好評。插拔力壽命試驗機(jī)適用于手機(jī)充電器、手機(jī)耳機(jī)、CD/MP3充電器/耳機(jī)、SD記憶棒及各類連接器之與拔出試驗。
本測試機(jī)專門測試插頭在經(jīng)過的插拔力試驗后,其插頭之受損情況,及時評估插頭及連接受損的性能,從而改進(jìn)產(chǎn)品質(zhì)量。
主要技術(shù)參數(shù):
型號:ZJ-CBL-01A
1、次數(shù)范圍:0~999999
2、調(diào)速范圍:6~60次/分鐘
3、行程調(diào)節(jié)范圍:0~8cm
4、機(jī)臺尺寸:約520*330*400mm
5、重量:25kg
6、電源:AC220/50HZ








