HCC-24（V2.0） 磁阻法測厚儀
1 概述
HCC-24磁阻法測厚儀是一種用電池供電的便攜式測量
儀器，可快速地測量導磁材料表面上非導磁覆蓋層厚
度。例如：鐵和鋼上的銅、鋅、鎘、鉻鍍層和油漆層等。
由于集成電路和微處理器的應用，使本儀器具有操作簡
單、使用方便、穩(wěn)定性好、測量高的優(yōu)點。儀器具有
數(shù)理統(tǒng)計功能，可直接顯示測量次數(shù)、平均值、值及
小值。
本儀器采用電磁感應原理進行測量，合國際標準
ISO2178和標準GB/T4956。當探頭與覆蓋層接觸時，探
頭和磁性基體構成一閉合磁回路，由于非磁性覆蓋層存
在，使磁路磁阻增加，磁阻的大小正比于覆蓋層的厚度。
通過對磁阻的測量，經(jīng)電腦進行分析處理，由液晶顯示器
直接顯示出測量值。
2 技術參數(shù)
1）測量范圍：0 ～1200 um。
2）示值誤差： ((1~3)%H+1 m）H為被測涂層厚度。
3）分 辨 率：1 m。
4）小測量面的直徑： 10 mm。
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5）顯 示：4位LCD顯示測量的次數(shù)、平均值、
大值、小值，同時指示儀器的工作狀
態(tài)及電池使用情況。
6）電 源：一節(jié)6F22型9V電池。
7）外形尺寸：160 mm 80 mm 30 mm。
8）質(zhì) 量：約250g。
9）使用環(huán)境：溫度0℃～40℃；
相對濕度不大于90%。
3 儀器外型
顯示窗
面板
主機
探頭
3
4 按鍵說明
1） 開/關 ：儀器的開關鍵。
2） 統(tǒng)計R ：數(shù)理統(tǒng)計鍵，對測量結(jié)果進行數(shù)理
統(tǒng)計，并順序顯示下述數(shù)據(jù)，即測量的次數(shù)
（N）、平均值（MEAN）、值（MAX）、
小值（MIN）。
3） 清除DEL ：從統(tǒng)計中消除當前測量值的鍵。
4） 校正CAL ：用于校正儀器的鍵。
5） ︿ ：處在校正方式時，遞增顯示數(shù)值的鍵；在
正常測試時，用于普通模式與連續(xù)測量模式轉(zhuǎn)換。
6） ﹀ ：處在校正方式時，遞減顯示數(shù)值的鍵；在
正常測試時，用于普通模式與連續(xù)測量模式轉(zhuǎn)換。
5 儀器的基本使用方法
用本儀器進行測試使用起來簡單：先用螺絲刀
撬開儀器背面的電池盒蓋，裝入電池。然后按 開/關 鍵
開機，儀器顯示 - - - ，2秒鐘后顯示 0 um ，儀器便
進入測量狀態(tài)。此時，用戶只要將儀器的探頭垂直壓在被
測面上（如圖1）。注意，探頭按下時，探頭的尾部會抬
起，手不要碰到探頭的金屬部分，以免影響保持探頭內(nèi)體
自由上下活動。保持探頭放置穩(wěn)定，儀器顯示器上會出現(xiàn)
一個 標志，并顯示測試結(jié)果。儀器便會顯示測試結(jié)
果。如果要再測，往上提探頭使其離開被測面，然后
再按下探頭，儀器隨后就會顯示新的測試結(jié)果。如果被測
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面是弧形的，按圖2的方式，使探頭下端的三角開叉跨在被
測件上，這樣便能穩(wěn)固地放置探頭，測試結(jié)果準確。
圖1 圖2
為了儀器正常工作并獲得工作狀態(tài)，請注意
以下2個使用細節(jié)：
1. 在儀器開機時，使探頭遠離被測件和其它鐵磁性物體
（10cm以上），直到儀器顯示 0 um 為止。否則，儀
器會一直顯示 - - - ，進不了測試狀態(tài)。
2. 每次測試后，盡量上提探頭，使其遠離被測件，這樣會
使儀器處于良好的環(huán)境適應狀態(tài)。
6 正式測試前的準備工作
用戶購買后的新儀器在進行實際使用前，都須要進
行儀器的校正，這是儀器標稱的重要，
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請務重視。
2.0版儀器有多種校正方法，使用很靈活，用戶可根據(jù)
實際需要選擇如下一種方式：
1） 全范圍高準確度的傳統(tǒng)校
用戶通過隨機配備的三個不同厚度的試片和裸基體完
成校正，具體步驟如下：
步驟一
在儀器處于開機后的狀態(tài)時，按一下 校正CAL
鍵，儀器屏上會出現(xiàn) CAL ，同時會顯示一個數(shù)值，該
數(shù)值如果不為 0 ，按 ﹀ 鍵，直到該數(shù)值由大到小變
到 0 為止。然后將探頭放在裸基體的測試面上進行測試
（注意，這里的裸基體要和實際被測物的材料和形狀
相同。不要使用隨機配備的標準金屬基塊，那只能用
來驗證儀器本身工作是否正常，不能用來校正儀器）?？?br />以測試幾下，待儀器上顯示的數(shù)值基本穩(wěn)定后，按一下
校正CAL 鍵，儀器的點便校正完畢，它會顯示一個
新的數(shù)值。
步驟二
接上一步驟，用個試片來校正?？匆幌聝x器上顯
示的數(shù)值和隨機配備薄的試片的實際厚度是否一致，該
片所標注的實際厚度在20um左右。用 ︿ 或 ﹀ 鍵，
使儀器上顯示的數(shù)值和該試片的實際厚度值一致。然后將
該試片平放在裸基體上，探頭再壓在上面進行測試，可以
重復幾次。待儀器顯示的測量值穩(wěn)定后，按一下 校正
CAL 鍵，個試片的校正結(jié)束，儀器又顯示下一個校正
片的厚度值。
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步驟三
用步驟二相同的方法，只是所用試片要換成厚度200um
左右的那一片。
步驟四
依然和步驟二相同，但所用的試片要換成1200um左右
的那一片。到這個步驟的后階段，按一下 校正CAL
鍵，儀器屏上還會繼續(xù)顯示一個校正片的厚度值，如
1999 ，不用再做下去了，再按一下 校正CAL 鍵，
校正便結(jié)束了。這時的儀器便可以進行高準確度的實
際測量了。
在以后使用時，如果有要，可以再次做上面四個步
驟的校正。儀器會記住了上次的點和每個試片的厚度
值，這樣就可以根據(jù)儀器提示，不用再修正試片厚度值，
便能輕松完成各個步驟。
2） 上下限校
在大多數(shù)情況下，用戶使用本儀器測試的對象有
的共性，如材料和形狀相同，涂層厚度也局限在某個范圍
內(nèi)，此時用戶關心的也許是被測對象的涂層是否差。如
果這些條件成立，那么就沒有要使用上面多步驟的傳統(tǒng)
校，而要運用上下限校正便能很好地完成使命。
本方法要兩個步驟校正兩點，當然，這兩點
直接選用用戶被測件涂層允許范圍中的小和厚度。
這樣校正的結(jié)果，儀器在這兩個校正點上的高，
甚至比上面?zhèn)鹘y(tǒng)的校正還要好。要實現(xiàn)這一點，用戶先
要設法獲得合這兩個校正點厚度的試片，可以向本公司
提出購買試片的要求，也可以自行尋找合條件的樣
片。