- 產(chǎn)品品牌：
- 華通檢測(cè)
- 產(chǎn)品型號(hào)：
- 溫度循環(huán)試驗(yàn)
確定元件、設(shè)備和其它產(chǎn)品經(jīng)受環(huán)境溫度快速變化的能力；試驗(yàn)是以常溫→低溫→低溫停留→高溫→高溫停留→常溫作為一個(gè)循環(huán)，執(zhí)行溫度循環(huán)試驗(yàn)之嚴(yán)厲度系以高/低溫度范圍，停留時(shí)間以及循環(huán)數(shù)來決定。為避開溫度沖擊影響，溫度循環(huán)試驗(yàn)時(shí)的溫度變化率必須小于20 ℃/分鐘。溫度循環(huán)主要影響:喪失電性功能，焊點(diǎn)裂化、PCB脫層、結(jié)構(gòu)喪失機(jī)械強(qiáng)度與塑性變形,玻璃與光學(xué)制品破裂, 零件特性能退化,斷裂,移動(dòng)件松弛，材料收縮膨脹，氣密與絕緣保護(hù)失效等。
溫度循環(huán)與溫度沖擊試驗(yàn)的區(qū)別:
1、溫變率不同：溫試驗(yàn)沖擊的升溫/降溫速率不低于30℃/分鐘；溫度循環(huán)升溫/降溫速率小于20℃/分鐘；
2、應(yīng)力負(fù)荷機(jī)理不同：溫度沖擊試驗(yàn)主要考察由于蠕變及疲勞損傷引起的失效，而溫度循環(huán)主要考察由于剪切疲勞引起的失效;
3、試驗(yàn)裝置不同：溫度沖擊試驗(yàn)容許使用二槽式試驗(yàn)裝置；溫度循環(huán)試驗(yàn)使用單槽式試驗(yàn)裝置。在二槽式箱體內(nèi)，溫度變化率要大于50℃/分鐘。
溫度循環(huán)試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):
1、MIT-STD-883E Method 1010.7
2、JESD22-A104-A
3、EIAJED- 4701-B-131
4、GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn)；
5、GB/T 2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則
6、EIA 364-32熱沖擊（溫度循環(huán)）測(cè)試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評(píng)估
我公司可靠性實(shí)驗(yàn)室根據(jù)客戶的不同需求，提供快速溫變測(cè)試服務(wù)。
