|
CMI165是一款人性化設(shè)計(jì)、堅(jiān)固耐用的世界首款帶溫度補(bǔ)償功能的手持式銅箔測(cè)厚儀。
- 可測(cè)試高溫的PCB銅箔 - 顯示單位可為mils,μm或oz - 可用于銅箔的來料檢驗(yàn) - 可用于蝕刻或整平后的銅厚定量測(cè)試 - 可用于電鍍銅后的面銅厚度測(cè)試 - 配有SRP-T1,帶有溫度補(bǔ)償功能的面銅測(cè)試頭 - 可用于蝕刻后線路上的面銅厚度測(cè)試
牛津儀器公司新推出的CMI165,是世界首 款帶溫度補(bǔ)償功能的面銅測(cè)厚儀,手持式設(shè)計(jì) 符合人體工學(xué)原理。
面銅測(cè)量的結(jié)果往往受到樣品溫度的影 響。CMI165的溫度補(bǔ)償功能解決了這個(gè) 問題,確保測(cè)量結(jié)果而不受銅箔 溫度的影響。這款多用途的手 持式測(cè)厚儀配有探針防 護(hù)罩,確保探針的耐用 性,即使在惡劣的使用條件 下也可以照常進(jìn)行檢測(cè)。
• 可測(cè)試高/低溫的PCB銅箔 • 免去了試樣成本 • 顯示單位可為μm, mils 或 oz • 可在PCB鉆孔、剪裁、電鍍等工序前進(jìn)行相關(guān) 銅箔來料檢驗(yàn) • 可用于蝕刻或整平后的銅厚定量測(cè)試 • 可用于電鍍銅后的面銅厚度測(cè)量
牛津儀器 檢測(cè)探頭SRP-T1
SRP-T1探針可由客戶自行替換,替換 后無需再校準(zhǔn)即可使用 備用的SRP-T1探頭減少了用戶設(shè)備的 停工期 探針的照明功能有助于線型銅箔檢測(cè) 時(shí)的準(zhǔn)確定位
操作界面有英文 和簡(jiǎn)體中文兩種 語言供選擇。
規(guī)格
利用微電阻原理通過四針式探頭進(jìn)行銅 厚測(cè)量,符合EN 14571 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn) 厚度測(cè)量范圍 • 化學(xué)銅: (0.25-12.7) μm, (0.01-0.5) mils • 電鍍銅: (2.0-254) μm, (0.1-10) mils 儀器再現(xiàn)性:σ≈ 0.08 μm at 20 μm (0.003 mils at 0.79 mils) 強(qiáng)大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析功能,包括數(shù)據(jù)記 錄、平均數(shù)、標(biāo)準(zhǔn)差和上下限提醒功能。
數(shù)據(jù)顯示單位可選擇mils、μm 或oz 儀器的操作界面有英文和簡(jiǎn)體中文兩種 語言供選擇 儀器無需特殊規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)片,同樣可實(shí)現(xiàn) 蝕刻后的線型銅箔的厚度測(cè)量,可測(cè)線 寬范圍低至204 μm (8 mils) 儀器可以儲(chǔ)存9690 條檢測(cè)結(jié)果(測(cè)試日 期時(shí)間可自行設(shè)定) 測(cè)試數(shù)據(jù)通過USB2.0 實(shí)現(xiàn)高速傳輸,也 可保存為Excel格式文件 儀器為工廠預(yù)校準(zhǔn) 客戶可根據(jù)不同應(yīng)用靈活設(shè)置儀器 用戶可選擇固定或連續(xù)測(cè)量模式 儀器使用普通AA電池供電 |