產(chǎn)品品牌：

NANOVEA

產(chǎn)品型號(hào)：

S100

美國(guó)NANOVEA納米劃痕測(cè)試儀 飾 美國(guó)NANOVEA公司是一家公認(rèn)的劃痕測(cè)試儀的革新者，生產(chǎn)的劃痕測(cè)試儀是目前國(guó)際上用在科學(xué)研究和工業(yè)領(lǐng)域先進(jìn)的設(shè)備之一，該公司在光學(xué)設(shè)計(jì)、精密機(jī)械和科學(xué)軟件算法方面，擁有長(zhǎng)期不斷發(fā)展的技術(shù)，由于這些專(zhuān)門(mén)技術(shù)的應(yīng)用，NANOVEA為生產(chǎn)和質(zhì)量控制的研究和發(fā)展提供精密準(zhǔn)確的全方位解決方案。 納米劃痕儀主要用于界定涂層薄膜與基底的結(jié)合強(qiáng)度與薄膜的抗劃痕強(qiáng)度，主要應(yīng)用在：

1. 半導(dǎo)體技術(shù)(鈍化層、鍍金屬、Bond Pads)；
2. 存儲(chǔ)材料(磁盤(pán)的保護(hù)層、磁盤(pán)基底上的磁性涂層、CD的保護(hù)層)；
3. 光學(xué)組件(接觸鏡頭、光纖、光學(xué)刮擦保護(hù)層)；
4. 金屬蒸鍍層；
5. 防磨損涂層(TiN, TiC, DLC, 切割工具)；
6. 藥理學(xué)(藥片、植入材料、生物組織)；
7. 工程學(xué)(油漆涂料、橡膠、觸摸屏、MEMS)；

主要特點(diǎn)有： 1. 完全符合ASTM D7187，D7027，D1624，C171，ISO 20502，ISO 1518 2.       光學(xué)顯微鏡自動(dòng)觀察 3.       壓電陶瓷反饋控制 4.       加載載荷與劃痕深度的實(shí)時(shí)測(cè)量 5.       實(shí)時(shí)三維表面輪廓測(cè)量 可選件有：

1. 多種劃痕針頭
2. 微米、顯微模塊
3. 硬度測(cè)試模塊
4. 摩擦磨損測(cè)試模塊
5. 聲發(fā)射模塊
6. AFM模塊
7. 三維顯微模塊