供應E5070B E5070B E5070B譚艷飛  

E5070B Agilent E5070B網(wǎng)絡分析儀

Agilent E5070B網(wǎng)絡分析儀提供了快、的射頻器件測量能力。其先進的體系結(jié)構通過減少掃描次數(shù)來完成多端口測量，進一步提高了測試吞吐率。
300 kHz 至 3GHz
在測試端口處保持125 dB動態(tài)范圍（典型值）
掃描速度：9.6微秒/點
跡線噪聲：0.001 dB rms
集成的2、3和4端口，帶有平衡測量能力
夾具嵌入/反嵌和端口特性阻抗轉(zhuǎn)換
用于變頻設備的頻率偏置模式
內(nèi)置Visual Basic ® for Applications（VBA）
測量向?qū)е周浖?span lang="EN-US">

主要技術指標
在測試端口處保持125 dB動態(tài)范圍（典型值）
掃描速度：9.6微秒/點
跡線噪聲：0.001 dB rms
集成的2、3和4端口，帶有平衡測量能力
夾具嵌入/反嵌和端口特性阻抗轉(zhuǎn)換
用于變頻設備的頻率偏置模式
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測量向?qū)е周浖?span lang="EN-US">
要技術指標
在測試端口處保持125 dB動態(tài)范圍（典型值）
掃描速度：9.6微秒/點
跡線噪聲：0.001 dB rms
集成的2、3和4端口，帶有平衡測量能力
夾具嵌入/反嵌和端口特性阻抗轉(zhuǎn)換
用于變頻設備的頻率偏置模式
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要技術指標
在測試端口處保持125 dB動態(tài)范圍（典型值）
掃描速度：9.6微秒/點
跡線噪聲：0.001 dB rms
集成的2、3和4端口，帶有平衡測量能力
夾具嵌入/反嵌和端口特性阻抗轉(zhuǎn)換
用于變頻設備的頻率偏置模式
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