標(biāo)準(zhǔn)磁探試片 C型
本品用于磁粉探傷時(shí)對(duì)幾何形狀復(fù)雜,不同材質(zhì)的工件檢驗(yàn)時(shí),可以正確地選擇磁化規(guī)范,并可檢驗(yàn)探傷設(shè)備、磁粉或磁懸液的性能,在磁粉探傷操作中,可以避免漏檢,正確地知道探傷工作需要的電流峰值和方向,并對(duì)顯示缺陷的磁場(chǎng)強(qiáng)度有所估量,是磁粉探傷必備的調(diào)試工具。
標(biāo)準(zhǔn)磁探試片 C型 符合JB/T6060-2004標(biāo)準(zhǔn)
當(dāng)探傷面窄小或表面曲率半徑較小時(shí),用A1型試片不能貼在工件表面的時(shí)候,請(qǐng)使用C1型標(biāo)準(zhǔn)試片,6片套。
規(guī)格:1#:8/50靈敏度相當(dāng)于A-7/50
2#:15/50靈敏度相當(dāng)于A-15/50








