詢價
頻率范圍30MHz ～ 6GHz 由4個磁場探頭和1個電場探頭組成 磁場探頭 XF-R 400-1，XF-R 3 – 1，XF-B 3 – 1，XF-U 2,5 - 1 電場探頭 XF-E 10，含SMA-SMA電纜 近場探頭組XF 1各探棒介紹
| 特 性 | 說 明 | 類 型 |
| XF-R 400 – 1：直徑約25mm，高靈敏度，低分辨率，可以距離被測物10cm使用，檢測場的分布，用于磁場源定位，分析干擾源。 頻率范圍 30 MHz－6 GHz。 直徑約25mm。 |
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| XF-R 3 – 1：探頭尺寸小，分辯率為毫米級。 在布線、IC管腳、旁路電容及EMC元件等區(qū)域，通過移動探頭，可以檢測磁場的分布和方向。 頻率范圍30MHz-6GHz。 分辨率約1 mm。 |  |
 | RF-B 3-1：用于檢測扁平單元表面垂直發(fā)射的磁場。 對于PCB有些有遮擋部分的電路，可能無法用XF-R 3 – 1測量場方向，這時可以使用RF-B3-1來測量。 頻率范圍30MHz－6GHz，分辨率約2mm。 |  |
| XF-U 2,5-1：用于有選擇性地檢測細小布線、元件連接處、電容器、IC管腳等的電流頻譜。探頭有1個約0.5mm寬的磁場敏感的缺口，測試時將這個缺口放在布線、IC或電容器的連接點上。 頻率范圍30MHz-6GHz，分辨率約0.5mm。 |  |
| XF-E 10：探頭的有0.5 mm寬，用于測試信號線在其表面發(fā)射的電場。內(nèi)部的屏蔽設計，能鄰近導線對測試結果的影響，能對每根導線進行單獨測量。 頻率范圍30MHz-6GHz，分辨率約0.2mm。 |  |
