- 產(chǎn)品品牌：
- 日本ADEX
- 產(chǎn)品型號：
- AX-127B 高速、高100kHz 數(shù)位ESR/Z 測試儀
適于檢查和測量低阻抗電容的ESR/Z值
● 100kHz的低等效串聯(lián)電阻及低阻抗能高穩(wěn)定度．
高．高速測量
● 低ESR/低阻抗測量量程(100mΩ～100Ω量程)
● 小分辨率：10μΩ(ESR)
●能監(jiān)視接觸及檢查探針接觸的接觸狀態(tài)
● 4位顯示，LO/GO/HI/接觸錯誤輸出
● GP-IB和RS-232C，全機能能外部控制(選購)
● 打印機輸出(選購)
技術(shù)參數(shù)
測試范圍&（at 23℃±5℃）
量程
測量范圍
小分辨率
測量電流
ESR度
Z度
100mΩ
0.00mΩ～109.99mΩ
0.01mΩ
100mA
± 0.5％of rdg ± 10digit± 100μΩ以內(nèi)
± 2％of rdg ± 10digit±100μΩ以內(nèi)
1Ω
0.0mΩ～1099.9mΩ
0.1mΩ
10mA
± 0.5％of rdg ± 10digit以內(nèi)
± 1％ of rdg ± 10digit以內(nèi)
10Ω
0.000Ω～10.999Ω
1mΩ
1mA
100Ω
0.00Ω～109.99Ω
10mΩ
0.1mA
測量方式
5端子測量方式(帶C-E檢測功能)
測量頻率
100kHz±0.1％，正弦波形
測量時間
[自動運行] FAST：約10次/秒 SLOW：2.5次/秒 [標準設定時]
[外部觸發(fā)][ESR]約(4.2+N)×2ms[N=FAST：1～99]/SLOW：[4+電源周×1～9]×2ms
（C-E檢測時加 1 ms）
[外部觸發(fā)][Z]約(3.5+N)×3ms[N=FAST：1～99]/SLOW：[3.5+電源周×1～9]×3ms
（C-E檢測時加加 1 ms）
比較器設定范圍
HI/LO一致 9999
使用周圍環(huán)境
溫度：0℃～+50℃，濕度：85％以下
所要電源
AC100V / 117V / 220V / 240V 轉(zhuǎn)換，50/60Hz，約30VA
外形尺寸
333(W) × 99(H) × 300(D)mm (不含有橡膠腳等的突起物。)
重量
約4kg
