產(chǎn)品品牌：

德國fischer

產(chǎn)品型號：

XDL

測量范圍：

0.15MM

fischer鍍層測厚儀采用了全新設計的發(fā)生器，全新設計的光學編碼定位系統(tǒng)測角儀，全新優(yōu)化設計的光路系統(tǒng)，基于當前先進的電子技術全新設計的電路板，儀器小巧，結構緊湊，靈敏度高，性價比。它完全突破了X射線熒光儀早期技術和相應理論基礎上多年形成的傳統(tǒng)觀念，以全新理念實現(xiàn)了樣品分析自動化、操作簡單化、檢測分析智能化、數(shù)據(jù)結果優(yōu)化、體積小型化、功能化的成功嘗試。

fischer鍍層測厚儀可測元素范圍：
氯(CL) – 鈾(U)
可測量厚度范圍：
原子序22-25，0.1-0.8μm≤≤
26-40，0.05-35μm
43-52，0.1-100μm
72-82，0.05-5μm
X-射線管：油冷,超微細對焦
高壓：0-50KV(程控)
電腦系統(tǒng)：IBM相容,17”顯示器

fischer鍍層測厚儀綜合性能:鍍層分析  定性分析  定量分析  鍍液分析
鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.
鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡單的核對方式,無需購買標準藥液.
定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.
光譜對比功能:可將樣品的光譜和標準件的光譜進行對比,可確定樣品與標準件的差別,從而控制來料的純度.
統(tǒng)計功能:能夠將測量結果進行系統(tǒng)分析統(tǒng)計,方便有效的控制品質(zhì).
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