- 產(chǎn)品品牌：
- 德國fischer
- 產(chǎn)品型號：
- XDL
- 測量范圍：
- 1MM
X射線測厚儀是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線光譜儀.適合無損測量薄鍍層厚度及材料分析,同時還能全自動測量大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板.其比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率,這樣就可以進行高測量.為了使每次測量都能在優(yōu)的條件下進行,儀器配備了可電動調(diào)整的多個準(zhǔn)值器及基本濾片.無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品,都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進行分析和測量.并且有著良好的長期穩(wěn)定性,不用經(jīng)常佼準(zhǔn)儀器,可節(jié)省時間。
X射線測厚儀只需短短數(shù)秒鐘，所有從17號元素氯到92號元素鐳的所有元素都能準(zhǔn)確測定.可測量：
單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。 二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
雙鍍層，其中一個鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。
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