- 類(lèi)型：
- 熔點(diǎn)測(cè)定儀
| 產(chǎn)品名稱： X4數(shù)字顯微熔點(diǎn)測(cè)定儀 | ||||||||||||||
| 產(chǎn)品簡(jiǎn)介： X4數(shù)字顯微熔點(diǎn)測(cè)定儀廣泛適用于化工、醫(yī)藥、制藥、紡織印染、橡膠等行業(yè)的化驗(yàn)、樣品檢測(cè)及中高等院校化學(xué)、化工的教學(xué)實(shí)驗(yàn)。本產(chǎn)品能夠進(jìn)行有機(jī)單晶、有機(jī)共晶物質(zhì)的形態(tài)分析；觀察晶體的熔化過(guò)程、測(cè)定晶體的熔點(diǎn)溫度；研究物質(zhì)的三態(tài)轉(zhuǎn)化及形變、色變。為工程材料、固體物理等領(lǐng)域的科研和教學(xué)提供實(shí)用高效的手段。 | ||||||||||||||
| 詳細(xì)資料：
主要技術(shù)參數(shù)： 1、樣品測(cè)量溫度范圍：室溫-320℃ 2、樣品測(cè)量溫度誤差：滿量程±0.5% 室溫-200℃，±1.0℃ 室溫-300℃，±1.5℃ 3、樣品測(cè)試用量：≤0.1mg 4、雙目變倍體視顯微鏡： （1）光學(xué)性參能
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