- 產(chǎn)品品牌：
- 天光
- 產(chǎn)品型號：
- PM-1
*平面平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的平面度。
*平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度。亦可用于檢定高的平面零件，例如，平面光學(xué)零件、平臺、平板、導(dǎo)軌、密封件等。平面平晶特別適用于計量單位、實驗室作為標(biāo)準(zhǔn)平面和樣板。 平面平晶的技術(shù)參數(shù)
| 平面直徑d(mm) | 基本參數(shù) | ||||
| 1級 | 價格 | 2級 | |||
| d范圍內(nèi) | 2/3d范圍內(nèi) | d范圍內(nèi) | 2/3d范圍內(nèi) | ||
| 30 | 0.03 | ---- | 275 | 0.1 | 0.05 |
| 45 | 325 | ||||
| 60 | 375 | ||||
| 80 | 0.05 | 0.03 | 575 | ||
| 100 | 1125 | ||||
| 150 | 5000 | ||||
| 200 | 0.08 | 0.05 | 9200 | 0.12 | 0.06 |
| 250 | 0.1 | 0.05 | 18400 | 0.15 | 0.08 |
| 300 | 0.15 | 0.09 | 55000 | 0.2 | 0.1 |
