38DL PLUS超聲測厚儀主要特性
? 可與雙晶和單晶探頭兼容。
? 寬泛的厚度范圍:0.08毫米~635毫米,根據(jù)材料和所選探頭而定。
? 使用雙晶探頭進行腐蝕測厚。
? 穿透涂層和回波到回波測量功能,用于測量表面帶有漆層和涂層的材料。
? 內(nèi)部氧化層/沉積物軟件選項。
? 對于所有探頭,標準分辨率為0.01毫米。
? 使用頻率范圍為2.25 MHz~30 MHz的單晶探頭,高分辨率軟件選項可進行分辨率為0.001毫米的厚度測量。
? 多層軟件選項可對多達4個不同層同時進行測量。
? 高穿透軟件選項用于測量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。
? 厚度、聲速和渡越時間測量。
? 差分模式和縮減率模式。
? 時基B掃描模式;每次掃查可獲得10000個可查讀數(shù)。
? 帶有數(shù)字式過濾器的Olympus高動態(tài)增益技術(shù)。
? 用于自定義V聲程補償?shù)腣聲程創(chuàng)建功能。
? 設(shè)計符合EN15317標準。









