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章   概論   - - - - - - - - - - - - - - 2

   第二章   應(yīng)用方法  - - - - - - - - - - - -4

第三章   維護(hù)與檢修 - - - - - - - - - - 10

   附一裝箱單    - - - -- - - - - - - - - - - 11

章  概論

一、儀器特點(diǎn)：

LYT-2001型涂（鍍）層測(cè)厚儀是高新技術(shù)的結(jié)晶,它采用單片機(jī)技術(shù)，高、數(shù)字顯示、示值穩(wěn)定、功耗低、操作簡(jiǎn)單方便、觸摸按鍵、單探頭全量程測(cè)量、體積小、重量輕；且具有存儲(chǔ)、讀出、統(tǒng)計(jì)、低電壓指示、系統(tǒng)/點(diǎn)/兩點(diǎn)校準(zhǔn)，其性能當(dāng)代國(guó)際同類(lèi)儀器的水平。

二、應(yīng)用范圍：

本儀器采用磁性測(cè)厚法，可以方便地測(cè)量鐵磁材料上非磁性涂層的厚度，如鋼鐵表面上的鋅、銅、鉻等鍍層或油漆、搪瓷、玻璃鋼、噴塑、瀝青等涂層的厚度。該儀器廣泛應(yīng)用于機(jī)械、汽車(chē)、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業(yè)。

三、工作原理：

LYT-2001型涂（鍍）層測(cè)厚儀采用電磁感應(yīng)法測(cè)量涂（鍍）層的厚度。位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以地測(cè)量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂（鍍）層厚度。

四、技術(shù)參數(shù)

1、測(cè)量范圍：　　0~1200um

2、測(cè)量誤差：　　<3%&plun;1um

3、小示值：　　1um

4、顯示方式：   4位液晶數(shù)字顯示

5、主要功能：

  (1).測(cè)量：   單探頭全量程測(cè)厚

  (2).存儲(chǔ)、刪除：可存入測(cè)量數(shù)據(jù)254個(gè)，對(duì)測(cè)量中的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可以刪除存儲(chǔ)區(qū)內(nèi)的數(shù)據(jù)。

  (3).讀：　讀出已存入的測(cè)量數(shù)據(jù)

  (4).統(tǒng)計(jì)：設(shè)有三個(gè)統(tǒng)計(jì)量，平均值值小值

  (5).校準(zhǔn)：可進(jìn)行點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)及系統(tǒng)校準(zhǔn)

  (6).電量：具有欠壓顯示功能

  (7).蜂鳴提示：操作過(guò)程中有蜂鳴提示

  (8).打?。嚎纱蛴y(cè)量值，選配微型打印機(jī)

  (9).關(guān)機(jī)：具有自動(dòng)關(guān)機(jī)和手動(dòng)關(guān)機(jī)兩種方法

6、電源：    兩節(jié)1.5v電池

7、功耗：    　　　功耗100mw

8、外形盡寸：   50mm*121mm*24mm

9、重量：　　　　　90g

10、使用環(huán)境溫度：　0℃~+40℃ 相對(duì)濕度：不大于90%

11、基體小厚度：    0.2mm

12、基體小平面：    7mm

13、小曲率半徑：    凸:1.5mm     凹:6mm

14、欠電壓指示：      右上角顯示＂＂

*臨界厚度小：工件鐵基厚度大于1mm時(shí),其涂（鍍）層厚度的測(cè)量不受鐵基厚度影響.     

 第二章  應(yīng)用方法

閱讀本章內(nèi)容時(shí)，應(yīng)結(jié)合儀器，對(duì)照附圖，熟悉儀器外部結(jié)構(gòu)及各部位名稱(chēng)。

一、開(kāi)機(jī)前準(zhǔn)備：根據(jù)電池倉(cāng)蓋指示的方向打開(kāi)電池倉(cāng)，然后按照機(jī)殼后面的正負(fù)指示裝入兩節(jié)1.5V電池，壓好電池倉(cāng)蓋。

二、按鍵名稱(chēng)及作用

A."ON/OFF"鍵:為復(fù)合鍵。在關(guān)機(jī)狀態(tài)時(shí)，為開(kāi)機(jī)鍵；在開(kāi)機(jī)狀態(tài)時(shí)，為關(guān)機(jī)鍵。儀器在自動(dòng)關(guān)機(jī)后應(yīng)按此鍵開(kāi)機(jī)。

B."MENU"鍵:為菜單鍵。

C."▲"、"▼"鍵:為加/減復(fù)合鍵。

D."CAL"鍵:具有校準(zhǔn)/清除功能。

E."ENTER"鍵:用來(lái)確認(rèn)某一功能狀態(tài)。

三、使用方法

1.開(kāi)機(jī):先取開(kāi)探頭線插在儀器上，然后按動(dòng)“ON/OFF”鍵（探頭與鐵基或磁場(chǎng)的距離保持10cm以上)開(kāi)機(jī)聽(tīng)到蜂鳴聲后儀器進(jìn)入測(cè)量狀態(tài)，可以直接進(jìn)行測(cè)量。如果測(cè)量數(shù)據(jù)偏差較大,可以進(jìn)行鐵基校準(zhǔn)后再測(cè)量。

測(cè)量時(shí)要注意測(cè)量指示,箭頭消失后才能再次測(cè)量，如右圖

   2.校準(zhǔn):本儀器分為系統(tǒng)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)和鐵基校準(zhǔn)三種。在一般情況下進(jìn)行鐵基校準(zhǔn)即可進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)量。當(dāng)儀器鐵基與被測(cè)件鐵基的磁性和表面粗糙度差別較大時(shí),可以進(jìn)行系統(tǒng)校準(zhǔn)以測(cè)量度。

(1)鐵基校準(zhǔn)

儀器標(biāo)準(zhǔn)基體金屬的磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與待測(cè)試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。為了測(cè)量的性,可以在測(cè)量測(cè)試件之前行鐵基校準(zhǔn)。

校準(zhǔn)方法:儀器開(kāi)機(jī)后，先將探頭放在被測(cè)試件的基體上進(jìn)行測(cè)量,測(cè)量兩次，測(cè)完第二次按住探頭不動(dòng)按下"CAL"鍵，伴隨著兩聲蜂鳴即可完成鐵基的校準(zhǔn)。如果沒(méi)發(fā)出兩聲蜂鳴說(shuō)明操作有誤，重新按以上步驟操作直至發(fā)出兩聲蜂鳴即可。

(2)兩點(diǎn)校準(zhǔn)

在測(cè)量過(guò)程當(dāng)中，如果發(fā)現(xiàn)個(gè)別測(cè)量值偏差較大可以通過(guò)兩點(diǎn)校準(zhǔn)方法進(jìn)行調(diào)整。

校準(zhǔn)方法：把一個(gè)已知厚度的被測(cè)試件作為標(biāo)準(zhǔn)樣片進(jìn)行測(cè)量，如果顯示值與真實(shí)值不一致，可以通過(guò)"▲"、"▼"鍵進(jìn)行加1或減1操作。按住"▲"、"▼"鍵不放可以進(jìn)行連續(xù)加、減，直到顯示值和真實(shí)值相同為止。校準(zhǔn)完成后即可進(jìn)行正常測(cè)量。

注意:兩點(diǎn)校準(zhǔn)時(shí)選用的被測(cè)試件厚度不要與系統(tǒng)校準(zhǔn)時(shí)的五個(gè)樣片值接近，否則操作無(wú)效。

(3)系統(tǒng)校準(zhǔn)

儀器在出廠前已經(jīng)經(jīng)過(guò)技術(shù)人員系統(tǒng)校準(zhǔn),為度

也可在工作現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行二次系統(tǒng)校準(zhǔn)。

系統(tǒng)校準(zhǔn)過(guò)程:

在關(guān)機(jī)狀態(tài)下同時(shí)按住"ON/OFF"鍵和"MENU"鍵，先放開(kāi)"ON/OFF"鍵然后放開(kāi)"MENU"鍵即可進(jìn)入系統(tǒng)校準(zhǔn)模式。

本系統(tǒng)校準(zhǔn)共需要校準(zhǔn)五個(gè)標(biāo)準(zhǔn)樣片,進(jìn)入系統(tǒng)后先顯示"鐵基"界面,此時(shí)要把探頭放到被測(cè)件的基體上進(jìn)行測(cè)量。測(cè)量兩次后如果測(cè)量沒(méi)有錯(cuò)誤操作,伴隨著兩聲蜂鳴便進(jìn)入個(gè)樣片的測(cè)量。屏幕顯示出廠時(shí)提供的個(gè)樣片值。如果顯示的樣片值和真實(shí)值不,可以通過(guò)"▲▼"鍵來(lái)進(jìn)行加1或減1操作。按住"▲″或"▼"鍵不動(dòng)可以連續(xù)加或減,直到調(diào)整到顯示值和真實(shí)值相同為止。調(diào)整完樣片值之后即可對(duì)個(gè)樣片進(jìn)行測(cè)量,測(cè)量兩次無(wú)誤后,伴隨著兩聲蜂鳴,儀器進(jìn)入下一個(gè)樣片的校準(zhǔn)。若測(cè)量?jī)纱魏笕詿o(wú)兩聲蜂鳴,說(shuō)明操作有誤，重新測(cè)量即可。接下來(lái)四個(gè)樣片的調(diào)整方法同上。

   當(dāng)?shù)谖鍌€(gè)樣片校準(zhǔn)完成后屏幕顯示"0000''，進(jìn)入開(kāi)機(jī)界面如圖A，儀器此時(shí)即完成了系統(tǒng)校準(zhǔn)過(guò)程。以后就可以對(duì)被測(cè)件直接進(jìn)行測(cè)量。

   注意：這五個(gè)樣片可以使用提供的標(biāo)準(zhǔn)片也可以使用已知厚度的樣片作為標(biāo)準(zhǔn)片。樣片校準(zhǔn)時(shí)要按照由小到大的順序進(jìn)行，相鄰樣片間應(yīng)該有的差值。

    3.在測(cè)量狀態(tài)下存儲(chǔ)

在測(cè)量狀態(tài)下屏幕顯示為新測(cè)量值,如需存儲(chǔ)按動(dòng)儀器上面的“ENTER”鍵,存儲(chǔ)地址自動(dòng)加1。例如當(dāng)前地址為0004,測(cè)量厚度值為1054um,存儲(chǔ)后地址變?yōu)?/span>0005顯示界面如圖示。

屏顯結(jié)果只能被存儲(chǔ),如需另外存儲(chǔ)可重新測(cè)量。如果要從初始地址重新開(kāi)始存儲(chǔ)可以在存儲(chǔ)讀出菜單下長(zhǎng)按"ENTER"鍵,儲(chǔ)存序列號(hào)就會(huì)回歸至初始地址0001,即可開(kāi)始重新儲(chǔ)存。

4．設(shè)置菜單使用：

無(wú)論在什么狀態(tài)下按住＂MENU＂鍵,儀器顯示四項(xiàng)功能菜單為：存儲(chǔ)讀出------打印-----通訊-----統(tǒng)計(jì)，按"▲▼"鍵可調(diào)節(jié)箭頭的位置來(lái)選擇不同的功能。(如圖示)例如要設(shè)置＂存儲(chǔ)讀出＂功能，在箭頭指向"存儲(chǔ)讀出"標(biāo)志時(shí)按住"ENTER"鍵,儀器就進(jìn)入存儲(chǔ)讀出狀態(tài)。

   (1)、存儲(chǔ)讀出

    本儀器可以連續(xù)存入254個(gè)測(cè)量數(shù)據(jù)，在進(jìn)入存儲(chǔ)讀出菜單后即可看到原來(lái)存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)。通過(guò)"▲▼"鍵可以把不同存儲(chǔ)單元中的內(nèi)容顯示出來(lái)。

(2)、打印

先把打印機(jī)準(zhǔn)備好,把打印機(jī)插好連線,裝入打印紙,接上電源。此時(shí)紅燈綠燈都亮,若是綠燈沒(méi)有亮,則按動(dòng)打印機(jī)上的"SEL"鍵,綠燈亮起說(shuō)明打印機(jī)已準(zhǔn)備好。把打印機(jī)連線另一頭三針插頭根據(jù)套紅管插針儀器帶紅點(diǎn)一側(cè)的方向,儀器"PCI"接口,儀器在"打印"功能狀態(tài)時(shí)按"▲"鍵,儀器開(kāi)始打印，長(zhǎng)按"▼"鍵結(jié)束打印。

(3)、通訊

   打開(kāi)通訊軟件,把軟件上的"打開(kāi)串口"打開(kāi),其它設(shè)置都是默認(rèn)設(shè)置。儀器在"通訊"功能狀態(tài)時(shí)按"▲"鍵,儀器開(kāi)始通訊，長(zhǎng)按"▼"鍵結(jié)束通訊。

(4)、統(tǒng)計(jì)

 為了的處理分析測(cè)量數(shù)據(jù),本儀器帶有數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)功能。進(jìn)入統(tǒng)計(jì)菜單后,會(huì)顯示測(cè)量數(shù)據(jù)的值、小值和平均值。在測(cè)量狀態(tài)下屏幕顯示為新測(cè)量值,儀器對(duì)測(cè)量值進(jìn)行自動(dòng)存儲(chǔ)。屏幕上方"S"后面顯示的數(shù)字是進(jìn)入統(tǒng)計(jì)的數(shù)據(jù)個(gè)數(shù)，為統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)的性,在測(cè)量少于8次時(shí)不顯示平均值，過(guò)8次只統(tǒng)計(jì)后測(cè)量的8個(gè)數(shù)據(jù)。

在測(cè)量過(guò)程當(dāng)中，如果發(fā)現(xiàn)有個(gè)別數(shù)據(jù)的偏差明顯較大，可以拿開(kāi)探頭在非測(cè)量狀態(tài)下按住"CAL"鍵來(lái)刪除，以免該數(shù)據(jù)進(jìn)入數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)運(yùn)算。此時(shí)屏幕出現(xiàn)“0000µm”，即可重新測(cè)量數(shù)據(jù)。在統(tǒng)計(jì)狀態(tài)下直接測(cè)量數(shù)據(jù)就能返回到測(cè)量狀態(tài)。

四、注意事項(xiàng)：

（１）測(cè)量曲面及圓柱體，曲率半徑較小時(shí)，應(yīng)在未涂覆的工件上校準(zhǔn)，以測(cè)量。

（２）在曲率半徑較小的凹面內(nèi)測(cè)量時(shí)，應(yīng)重新校正。

五：影響測(cè)量的若干因素

基體金屬磁化

磁性法測(cè)量受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的）。為了避免熱處理、冷加工等因素的影響，應(yīng)使用與鍍件金屬具有相同性質(zhì)的鐵基片上對(duì)儀器進(jìn)行校對(duì)。

基體金屬厚度

每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度，大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體厚度的影響。

 邊緣效應(yīng)

本儀器對(duì)試片表面形狀的陡變敏感，因此在靠近試片邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不的

 曲率

試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響，這種影響是隨著曲率半徑減小明顯。因此不應(yīng)在試件過(guò)允許的曲率半徑的彎曲面上測(cè)量。

表面粗糙度

基體金屬和表面粗糙度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙度，影響。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差。每次測(cè)量時(shí)，在

不同位置上增加測(cè)量的次數(shù)，克服這種偶然誤差。

如果基體金屬粗糙還須在未涂覆的粗糙相類(lèi)似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的點(diǎn)；或用沒(méi)有腐蝕性的溶液除去在基體金屬上的覆蓋層，再校對(duì)儀器點(diǎn)。

磁場(chǎng)

周?chē)鞣N電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng)，會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性測(cè)量厚度的工作。

附著物質(zhì)

本儀器對(duì)那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感。因此須清除附著物質(zhì)，以探頭與覆蓋層表面直接接觸。

探頭的放置

探頭的放置方式對(duì)測(cè)量有影響，在測(cè)量中使探頭與試樣表面保持垂直。

試片的變形

探頭使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上會(huì)出現(xiàn)不太的數(shù)據(jù)。

讀數(shù)次數(shù)

通常儀器的每次讀數(shù)并不相同。因此須在每一測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)測(cè)量值，覆蓋層厚度的局部差異，也要求在給定的面積內(nèi)進(jìn)行測(cè)量.表面粗糙時(shí)更應(yīng)如此。

 第三章  維護(hù)與檢修

1.儀器應(yīng)潮濕、過(guò)熱和接觸腐蝕性氣體和液體。

2.不可晃動(dòng)或揪扯探頭線。

3.儀器應(yīng)保持清潔。

4.儀器長(zhǎng)期不用時(shí)應(yīng)取出電池。

5.測(cè)量不正常時(shí)應(yīng)作下述處理:

Ａ：查電壓是否正常，電池正負(fù)是否接觸良好。

Ｂ：測(cè)量方法是否得當(dāng)。

Ｃ：重大故障送廠或廠維修部修理。

 D：每次使用須先插上探頭然后再開(kāi)機(jī),否則儀器不自檢。

附一  裝箱單

 一、涂層測(cè)厚儀主機(jī)（LYT-2001）        一臺(tái)

 二、1.5v電池(7號(hào))                     二節(jié)

 三、探頭                               一支

 四、標(biāo)準(zhǔn)樣片             一盒

 五、小鋁箱                             一個(gè)

 六、說(shuō)明書(shū)、合格證                     一套

 選配件：微型打印機(jī)，數(shù)據(jù)線，操作軟件內(nèi)腐探頭

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