上海戎戈光電科技有限公司
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X熒光鍍層測(cè)厚儀應(yīng)用領(lǐng)域：
● 鍍層分析：各種基材鍍Au、Ag、Cu、Ni、Sn、Cr、Pd等厚度分析；鍍層元素含量分析
●RoHS /ELV指令測(cè)試元素：Pb（鉛）、Cd（鎘）、Hg（汞）、Cr（鉻）、Br（溴）
●無鹵檢測(cè)：測(cè)試元素：Br（溴）、Cl（氯）；
●合金分析：鋼鐵、銅類、鋅類等成分分析。
X熒光鍍層測(cè)厚儀輻射護(hù)：
● 樣品蓋鑲嵌鉛板屏蔽X射線。
● 輻射標(biāo)志警示。
● 迷宮式結(jié)構(gòu)，射線泄漏。
● 連鎖設(shè)計(jì)；測(cè)試過程中誤打開樣品蓋時(shí)，電路0.1μS快速切斷X射線。
