AT-5000型X射線膜厚儀
　　AT-5000是新型的X射線鍍層測厚儀。它采用的半導(dǎo)體探測器，能精準(zhǔn)測試任何復(fù)雜的鍍層結(jié)構(gòu)，使用的定位系統(tǒng)，可以測試直徑很小的樣品。其強(qiáng)大的分析功能，在鍍層測厚領(lǐng)域大顯身手。
　　
　　X射線鍍層測厚儀主要配置
　　半導(dǎo)體探測器
　　微聚焦X光管
　　高壓電源
　　濾光片4組
　　準(zhǔn)直器5個(gè)　5mm、2mm、1mm、0.5mm、0.2mm、0.1mm可選
　　高清CCD
　　打印機(jī)1臺(tái)
　　計(jì)算機(jī)1臺(tái)
　　
　　X射線鍍層測厚儀軟件
　　鍍層測厚分析軟件
　　元素含量分析軟件（可選）
　　
　　X射線膜厚儀技術(shù)參數(shù)
　　可測鍍層類型：金屬鍍層（基材可為金屬或非金屬）
　　金屬基材上的無機(jī)鍍膜
　　測鍍層數(shù)：5層
　　鍍層種類：單金屬鍍層/合金鍍層/無機(jī)鍍膜
　　可測元素：硫（S）－鈾（U）
　　厚度測量范圍：輕金屬（如Ti、Cr等）0.05～20um
　　中金屬（如Ni、Cu、AG等）0.01～30um
　　屬（如PT、Au等）0.005～10um
　　測試：可達(dá)納米級(jí)
　　厚度相對誤差：單層<5%，多層5~10%
　　小測量直徑：0.5mm
　　輸入電壓：AC220V/50Hz
　　功耗：150W（儀器主機(jī)）
　　樣品腔尺寸：550mm*450mm*180mm
　　儀器尺寸：580mm*480mm*450mm
　　重量：56Kg