公司自主研發(fā)AOI自動光學(xué)檢測儀-V8／-M8
　　
　　AOI自動光學(xué)檢測儀概述：
　　AOI（Automatic Optic Inspection），中文名自動光學(xué)檢測儀。該儀器是利用光學(xué)方法，采用權(quán)值成像數(shù)據(jù)分析原理，用來檢測T工藝中的錫膏缺陷、件缺陷和焊點缺陷。測量時，將待測PCB置于光學(xué)鏡頭下方，逐個采集每個焊盤或件的圖像，并對圖像進行連續(xù)的數(shù)字化處理分析，然后與預(yù)存的“標(biāo)準(zhǔn)”進行比較分析進而作出缺陷結(jié)論。
　　AOI的實施目標(biāo)：
　　終品質(zhì)：通常置于T生產(chǎn)線的末端，用為檢查T之的的產(chǎn)品缺陷；
　　過程控制：分別置于印刷機、貼片機之后，用來檢查T工序缺陷并反饋數(shù)據(jù)。
　　AOI的的理：AOI應(yīng)用了光學(xué)原理為采集數(shù)據(jù)、應(yīng)用統(tǒng)計學(xué)原理來分析數(shù)據(jù)并將數(shù)據(jù)數(shù)字化、應(yīng)用圖像比對原理將攝取圖像懷“標(biāo)準(zhǔn)”圖像進行運算比對而得出檢測結(jié)論。
　　
　　技術(shù)參數(shù)：
　　視覺識別系統(tǒng)
　　判別方法：權(quán)值成像數(shù)據(jù)差異分析、彩色成像對比
　　攝像機：CCD彩色攝像機分辨率：20微米／點
　　光源：RGB環(huán)形LED結(jié)構(gòu)光源
　　圖像處理速度：0402＜15毫秒每畫面處理時間＜185毫秒
　　檢測內(nèi)容：錫膏印刷—有無、偏斜、少錫多錫、斷路、污染
　　件缺陷—缺件、偏移、歪斜、立碑、側(cè)立、翻件、性反、錯件、破損
　　焊點缺陷—錫多、錫少、連錫
　　
　　軟件系統(tǒng)
　　操作系統(tǒng)：Windows 2000 server Win xp Win 2003 server
　　識別控制系統(tǒng)：特點統(tǒng)計外形建模，自動建立標(biāo)準(zhǔn)、識別數(shù)據(jù)及誤差閥值
　　操作圖像化編程，自帶原件庫，根據(jù)元件形狀選擇標(biāo)準(zhǔn)自動生成檢測框，自動定位，微米位微調(diào)，制程快捷
　　Mark：點數(shù)可選2-4個常用的Mark點
　　識別速度＜0.6秒／個
　　
　　機械系統(tǒng)
　　PCB尺寸：25＊25毫米—430＊320毫米
　　PCB厚度：0.5毫米-2.5毫米
　　PCB翹曲度＜2毫米（有夾具輔助矯正變形）
　　件高度＜25毫米
　　小件0402元件
　　X\Y平臺驅(qū)動設(shè)備交流伺服電機系統(tǒng)
　　X\Y platform 定位＜25毫米移動速度700毫米／秒
　　
　　控制系統(tǒng)
　　電腦主機：工業(yè)控制計算機，奔4雙核2.0G
　　顯示：19英寸液晶寬屏顯示器
　　
　　其他參數(shù)
　　機械外形尺寸（L×W×H）92cm×85cm×127cm
　　重量：約350kg
　　電源：交流220V±10％，頻率50／60HZ額定功率600W自帶UPS不間斷電源。