AT-3800型X熒光測厚儀利用X射線快速、、的測試鍍層/涂層厚度，可以測試多層鍍層、合金鍍層等復(fù)雜模式。是一款高端的X射線膜厚儀。
　　X熒光測厚儀性能指標
　　鍍層種類：單金屬、合金、無機薄膜
　　可測鍍層：多5層金屬鍍層、金屬基體上單層無機薄膜
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　　厚度相對誤差：單層5%，多層5～10%
　　厚度范圍：0.01～50um
　　含量檢出限：2ppm
　　含量相對誤差：5～10%
　　小測量直徑：0.1mm
　　分析時間：30～200S
　　X射線膜厚儀技術(shù)參數(shù)
　　探測器：半導(dǎo)體探測器，分辨率達139eV
　　X光管：鎢（W）靶，電壓50kV，電流1.5mA
　　高壓電源：精密X射線電源，輸出電壓50kV
　　對焦系統(tǒng)：激光對焦
　　濾光片：6組濾光片電動切換，降低背景干擾
　　準直器：采用新的高科技X射線聚焦晶體，小分析面積至0.1*0.1mm＾2
　　樣品臺：高步進電機驅(qū)動，XY軸二維移動，步長至0.05mm
　　樣品觀察：高清晰彩色CCD射線頭
　　輸入電壓：AC　220V/50Hz
　　功耗：300W
　　樣品腔尺寸：660×400×135mm
　　外型尺寸：680×460×475mm
　　重量：45Kg
　　X熒光測厚儀功能特點
　　的光路系統(tǒng)，X射線強度，減少散射背景；
　　緊密封閉的腔體設(shè)計、電路控制、機械控制三重X射線護；
　　對分析樣品的狀態(tài)、形狀、大小、厚度自動進行校正，減少因制樣不足而帶來的誤差。
　　自動的高壓護電路設(shè)計；
　　高步進電機移動樣品臺，實現(xiàn)um級的移動；
　　的激光定位系統(tǒng)，定位細小局部；
　　X熒光測厚儀應(yīng)用范圍
　　電鍍、真空鍍、化學(xué)鍍、納米噴鍍
　　電子、電器、五金、線材、汽車、珠寶飾等行業(yè)的金屬鍍層、無機鍍膜X射線鍍層測厚儀分析