韓國MicroPioneer X-射線熒光膜厚儀/測(cè)厚儀，主要應(yīng)用于一般工件、線路板、五金電鍍、半導(dǎo)體支架電鍍、人造飾、端子及電子元器件等產(chǎn)品的各種鍍層行業(yè)的一款儀器，全自動(dòng)軟件操作，多點(diǎn)測(cè)試，由軟件控制儀器的測(cè)試點(diǎn)，以及移動(dòng)平臺(tái)，是一款大的儀器
現(xiàn)在市場(chǎng)上膜厚儀主要有：菲希爾（CHER），精工（SII），韓國（MicroPioneer），牛津（CMI）。國產(chǎn)的有：天瑞，三V儀器。在測(cè)量和性能上，國產(chǎn)的基本上是沒用，只能擺著看。
膜厚儀在穩(wěn)定，故障率，和，方面來講，只能說菲希爾（CHER）韓國（MicroPioneer），牛津（CMI）這四是。
菲希爾（CHER）占有市場(chǎng)的30%，在測(cè)量，還是儀器穩(wěn)定上來說都很不錯(cuò)。但由于價(jià)格高昂，維修，消耗品（如標(biāo)準(zhǔn)片，一片的價(jià)格可以買其他品牌的3片，且無法更換其他品牌的使用）雖然儀器高。穩(wěn)定性好。但市場(chǎng)主要為早期所建立。
精工（SII）主要對(duì)應(yīng)大的日資企業(yè)，軟件應(yīng)用，相比菲希爾要麻煩一些。它所采用的是標(biāo)準(zhǔn)曲線法，來建立測(cè)量檔案。所以需要大量的厚度不一的標(biāo)準(zhǔn)塊。儀器穩(wěn)定性和也還是不錯(cuò)的。不過有一點(diǎn)。日本原裝的，比上海組裝的要好?，F(xiàn)在精工所銷售的。大部份是上海組裝的。品質(zhì)相對(duì)的來說。會(huì)差一點(diǎn)。售后維修也是高昂，且中國人民也是日貨的。
韓國（MicroPioneer）和牛津（CMI），而牛津（CMI）因?yàn)榕渲檬嵌说呐渲萌鏑MI900所以價(jià)格比較低，測(cè)量數(shù)據(jù)沒有四年前機(jī)型穩(wěn)定。主要的是故障率太高了，更換配件的成本很高。CMI也是用標(biāo)準(zhǔn)曲線法來建立測(cè)量檔案的。也需要購買標(biāo)準(zhǔn)塊，雖然價(jià)格低。但后期一但出現(xiàn)故障要更換配件。而且在對(duì)于合金鍍層，和薄金。薄鎳，等一些元素的測(cè)量上，那個(gè)誤差大的相當(dāng)離譜。甚至測(cè)不到。
韓國（MicroPioneer）有高中低3個(gè)款型，測(cè)試的準(zhǔn)直器也有1-5個(gè)可選，除了對(duì)復(fù)雜的電鍍領(lǐng)域（如金厚度為0.01um以下）的不是很準(zhǔn)確，其他鍍層都可以測(cè)試國際標(biāo)準(zhǔn)，主要價(jià)格方面低過菲希爾（CHER），精工（SII），牛津（CMI）許多，在每年的軟件更新后和硬件的升級(jí)。也受到國內(nèi)廠商的大力好評(píng)，如美的（美的順德，武漢，重慶，合肥，蕪湖，都以采購使用），比亞迪（2012投標(biāo)以使用），富士康（2007年使用之今）等多個(gè)客戶群?？梢詠黼娚钲谑腥鹚歼h(yuǎn)科技有限公司索取使用。
產(chǎn)品介紹
X 螢光射線膜厚分析儀是利用 XRF 原理來分析測(cè)量金屬厚度及物質(zhì)成分，可用于材料的涂層/鍍層厚度、材料組成和貴金屬含量檢測(cè)。
XRF-2000系列分為以下叁種：
1.H-Te：密閉式樣品室，方便測(cè)量的樣品較大，高度約100mm以下。
2.L-Te：密閉式樣品室，方便測(cè)量樣品較小，高度約30mm以下。
3.PCB-Te：開放式樣品室，方便大面積的如大型電路板高度約30mm以下的量測(cè)。
應(yīng)用
測(cè)量鍍金、涂層、薄膜、元素的成分或者是厚度，其可偵測(cè)元素的范圍：Ti（22）~U（92）。
行業(yè)
五金類、螺絲類、PCB 類、連接器端子類行業(yè)、電鍍類等。
特色
非破壞，非接觸式檢測(cè)分析，快速精準(zhǔn)。
可測(cè)量六層的鍍層（五層厚度底材）并可同時(shí)分析多種元素。
相容Microsoft微軟作業(yè)系統(tǒng)之測(cè)量軟體，操作方便，直接可用Office軟體編輯。
全系列設(shè)計(jì)樣品與光徑自動(dòng)對(duì)準(zhǔn)系統(tǒng)。
標(biāo)準(zhǔn)配備：溶液分析軟體，可以分析電鍍液成份與含量。
準(zhǔn)直器口徑多種選擇，可根據(jù)樣品大小來選擇準(zhǔn)值器的口徑。
移動(dòng)方式：全系列全自動(dòng)載臺(tái)電動(dòng)控制，減少人為視差。
2D與3D或任意位置表面量測(cè)分析。
雷射對(duì)焦，配合彩色CCD擷取影像使用point and shot功能。
標(biāo)準(zhǔn)ROI軟體搭配內(nèi)建多種格式，亦可將數(shù)據(jù)、圖形、統(tǒng)計(jì)等作成完整。
光學(xué)2 0X 影像放大功能，更能對(duì)位。
測(cè)厚儀，膜厚儀，X射線，XRF，韓國，微，X熒光，鍍層
深圳市瑞思遠(yuǎn)科技有限公司
現(xiàn)在市場(chǎng)上膜厚儀主要有：菲希爾（CHER），精工（SII），韓國（MicroPioneer），牛津（CMI）。國產(chǎn)的有：天瑞，三V儀器。在測(cè)量和性能上，國產(chǎn)的基本上是沒用，只能擺著看。
膜厚儀在穩(wěn)定，故障率，和，方面來講，只能說菲希爾（CHER）韓國（MicroPioneer），牛津（CMI）這四是。
菲希爾（CHER）占有市場(chǎng)的30%，在測(cè)量，還是儀器穩(wěn)定上來說都很不錯(cuò)。但由于價(jià)格高昂，維修，消耗品（如標(biāo)準(zhǔn)片，一片的價(jià)格可以買其他品牌的3片，且無法更換其他品牌的使用）雖然儀器高。穩(wěn)定性好。但市場(chǎng)主要為早期所建立。
精工（SII）主要對(duì)應(yīng)大的日資企業(yè)，軟件應(yīng)用，相比菲希爾要麻煩一些。它所采用的是標(biāo)準(zhǔn)曲線法，來建立測(cè)量檔案。所以需要大量的厚度不一的標(biāo)準(zhǔn)塊。儀器穩(wěn)定性和也還是不錯(cuò)的。不過有一點(diǎn)。日本原裝的，比上海組裝的要好?，F(xiàn)在精工所銷售的。大部份是上海組裝的。品質(zhì)相對(duì)的來說。會(huì)差一點(diǎn)。售后維修也是高昂，且中國人民也是日貨的。
韓國（MicroPioneer）和牛津（CMI），而牛津（CMI）因?yàn)榕渲檬嵌说呐渲萌鏑MI900所以價(jià)格比較低，測(cè)量數(shù)據(jù)沒有四年前機(jī)型穩(wěn)定。主要的是故障率太高了，更換配件的成本很高。CMI也是用標(biāo)準(zhǔn)曲線法來建立測(cè)量檔案的。也需要購買標(biāo)準(zhǔn)塊，雖然價(jià)格低。但后期一但出現(xiàn)故障要更換配件。而且在對(duì)于合金鍍層，和薄金。薄鎳，等一些元素的測(cè)量上，那個(gè)誤差大的相當(dāng)離譜。甚至測(cè)不到。
韓國（MicroPioneer）有高中低3個(gè)款型，測(cè)試的準(zhǔn)直器也有1-5個(gè)可選，除了對(duì)復(fù)雜的電鍍領(lǐng)域（如金厚度為0.01um以下）的不是很準(zhǔn)確，其他鍍層都可以測(cè)試國際標(biāo)準(zhǔn)，主要價(jià)格方面低過菲希爾（CHER），精工（SII），牛津（CMI）許多，在每年的軟件更新后和硬件的升級(jí)。也受到國內(nèi)廠商的大力好評(píng)，如美的（美的順德，武漢，重慶，合肥，蕪湖，都以采購使用），比亞迪（2012投標(biāo)以使用），富士康（2007年使用之今）等多個(gè)客戶群?？梢詠黼娚钲谑腥鹚歼h(yuǎn)科技有限公司索取使用。
產(chǎn)品介紹
X 螢光射線膜厚分析儀是利用 XRF 原理來分析測(cè)量金屬厚度及物質(zhì)成分，可用于材料的涂層/鍍層厚度、材料組成和貴金屬含量檢測(cè)。
XRF-2000系列分為以下叁種：
1.H-Te：密閉式樣品室，方便測(cè)量的樣品較大，高度約100mm以下。
2.L-Te：密閉式樣品室，方便測(cè)量樣品較小，高度約30mm以下。
3.PCB-Te：開放式樣品室，方便大面積的如大型電路板高度約30mm以下的量測(cè)。
應(yīng)用
測(cè)量鍍金、涂層、薄膜、元素的成分或者是厚度，其可偵測(cè)元素的范圍：Ti（22）~U（92）。
行業(yè)
五金類、螺絲類、PCB 類、連接器端子類行業(yè)、電鍍類等。
特色
非破壞，非接觸式檢測(cè)分析，快速精準(zhǔn)。
可測(cè)量六層的鍍層（五層厚度底材）并可同時(shí)分析多種元素。
相容Microsoft微軟作業(yè)系統(tǒng)之測(cè)量軟體，操作方便，直接可用Office軟體編輯。
全系列設(shè)計(jì)樣品與光徑自動(dòng)對(duì)準(zhǔn)系統(tǒng)。
標(biāo)準(zhǔn)配備：溶液分析軟體，可以分析電鍍液成份與含量。
準(zhǔn)直器口徑多種選擇，可根據(jù)樣品大小來選擇準(zhǔn)值器的口徑。
移動(dòng)方式：全系列全自動(dòng)載臺(tái)電動(dòng)控制，減少人為視差。
2D與3D或任意位置表面量測(cè)分析。
雷射對(duì)焦，配合彩色CCD擷取影像使用point and shot功能。
標(biāo)準(zhǔn)ROI軟體搭配內(nèi)建多種格式，亦可將數(shù)據(jù)、圖形、統(tǒng)計(jì)等作成完整。
光學(xué)2 0X 影像放大功能，更能對(duì)位。
測(cè)厚儀，膜厚儀，X射線，XRF，韓國，微，X熒光，鍍層
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