產(chǎn)品應(yīng)用
　　實驗內(nèi)容及相關(guān)科目：
　　調(diào)整光路，觀察分波面干涉的干涉條紋，體會分波面的干涉原理和干涉理論。
　　測量干涉條紋的間隔，推算激光波長。
　　
　　儀器特點：
　　采用半導(dǎo)體激光器（650nm、4mw）作為光源，功率穩(wěn)定度1%。
　　用一維位移架＋十二檔光探頭進行數(shù)據(jù)測量，更加客觀、可達0.02mm
　　光學(xué)實驗導(dǎo)軌為1200mm.
　　
　　設(shè)備成套性：
　　光學(xué)實驗導(dǎo)軌、半導(dǎo)體激光器、雙棱鏡、透鏡、激光功率指示計、一維位移架＋十二檔光探頭等。
　　技術(shù)指標
　　光學(xué)實驗導(dǎo)軌1200mm.
　　半導(dǎo)體激光器650nm，4mW.
　　透鏡（帶框）f-100mm，f＝60mm，通光直徑：38mm.
　　激光功率指示計：三位半數(shù)字表頭，量程：200μW，2mW，20mW，200mW，可調(diào)檔。小分辨率0.1u　W.
　　大一維位移架＋12檔光探頭：位移范圍100mm，0.02mm，光欄直徑：0.5、1、2、3、4、6mm.光欄寬度：0.2、0.3、0.4、0.8、1.2mm.
　　一維可調(diào)導(dǎo)軌滑塊：調(diào)制范圍：10mm.