晶體管快速篩選系列產(chǎn)品對(duì)電子元器件指標(biāo)測(cè)試、性篩選完成。
　　
　　PTQ-8晶體管綜合快速篩選臺(tái)  
　　◎本篩選方法已列入SJ/T10415-93、G128A-97標(biāo)準(zhǔn)，可取代直流滿(mǎn)功率老煉，卻比直流滿(mǎn)功率老煉更加科學(xué)合理。
　　◎每只器件整個(gè)測(cè)試篩選過(guò)程5秒左右，只測(cè)常溫參數(shù)1秒多。
　　◎能測(cè)試篩選NPN、PNP三管（光偶） VBE、VBC、hFE1、hFE2、ICEO、ICBO、IEBO、V（BR）CEO、V（BR）CBO、VC、V（BR）EBO、VB的常溫、高溫值及變化量。
　　◎上述參數(shù)能自動(dòng)性或選項(xiàng)部分檢測(cè)。
　　◎測(cè)試口更換器件自動(dòng)識(shí)別、連續(xù)檢測(cè)，標(biāo)器件自動(dòng)聲光報(bào)警。
　　◎可儲(chǔ)存上百種器件測(cè)試條件，失效判據(jù)，并能任意修改、調(diào)用。
　　◎122×92mm大屏幕背光液晶顯示，中文菜單式界面，操作簡(jiǎn)便，選擇器件型號(hào)即可進(jìn)入連續(xù)測(cè)試。
　　◎可選配：打印機(jī)接口及打印機(jī)。
　　◎計(jì)算機(jī)接口及上微機(jī)軟件
　　新升級(jí)功能：
　　※ 篩選剔除軟擊穿器件。
　　※ 增加保護(hù)功能，擅自篹改儀器設(shè)置信息。
　　※ 增加放大特性曲線測(cè)試及打印功能。