型號(hào)：TC-5062A、TC-5060A、TC-5910B、JC-P8005、JC-P8002、JC-120P、JC-P303、JC-8003、JC-P208、JC-P302、JC-P305、JC-P306、JC-P307、JC-P5153、JC-P590、JC-P212、JC-P217、JC-P511等
　　屏蔽箱將電磁能力限制在空間范圍內(nèi)用于抑制輻射干擾的金屬體，并對(duì)傳導(dǎo)和輻射進(jìn)行處理以實(shí)現(xiàn)給被測(cè)無線通訊設(shè)備提供無干擾的測(cè)試環(huán)境的設(shè)備。
　　采用屏蔽的目的有兩個(gè)：一是限制設(shè)備內(nèi)部的輻射電磁能越出某一區(qū)域，二是外部的輻射電磁能進(jìn)入某一區(qū)域。
　　屏蔽箱的屏蔽效能：擬干擾源置于屏蔽箱外時(shí)，屏蔽箱置放前后的空間某點(diǎn)電場(chǎng)強(qiáng)度、磁場(chǎng)強(qiáng)度或功率之比再取對(duì)數(shù)lgp1/p2，用dB表示。
　　屏蔽箱的具體作用和應(yīng)用：對(duì)于無線通訊產(chǎn)品生產(chǎn)廠商而言，產(chǎn)品不能及時(shí)面市或上量帶來的是大量產(chǎn)值和利潤(rùn)的流失，直接影響后續(xù)業(yè)務(wù)和市場(chǎng)份額的拓展。
　　射頻測(cè)試工藝通常是手機(jī)等無線通訊類設(shè)備產(chǎn)線中為復(fù)雜、影響的流程，通常也是產(chǎn)線的瓶頸。射頻測(cè)試站通常由測(cè)試儀表、屏蔽箱、測(cè)試軟件等幾部分構(gòu)成，通常又可分為校準(zhǔn)測(cè)試、綜合測(cè)試、天線測(cè)試等等幾類。由于產(chǎn)能的要求，通常射頻測(cè)試工藝由多個(gè)相同的測(cè)試站并行運(yùn)行。某個(gè)或某些測(cè)試工位的通過率偏低，產(chǎn)出降低就會(huì)導(dǎo)致產(chǎn)線瓶頸、生產(chǎn)成本劇增，而究其原因大致可分為：產(chǎn)品設(shè)計(jì)或物料原因、誤測(cè)問題、射頻干擾等環(huán)境因素、測(cè)試的不確定問題。
　　
　　經(jīng)營(yíng)：儀器儀表銷售、維修、升級(jí)、回收
　　
　　光學(xué)儀器：投影機(jī)、二次元影像儀、工具顯微鏡、體視顯微鏡、激光測(cè)量?jī)x、電視顯微鏡、金相顯微鏡、X熒光膜厚計(jì)等
　　量?jī)x：圓度儀、粗糙度儀、千分表、三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)/三次元、輪廓儀、高度計(jì)、同心度儀、涂層測(cè)厚儀、偏心測(cè)量?jī)x、鍍層測(cè)厚儀、轉(zhuǎn)矩儀、厚度表、百分表、比測(cè)儀、杠桿表、千分尺、高度尺、卡規(guī)、缸徑規(guī)、角度尺、半徑規(guī)、螺矩規(guī)、標(biāo)準(zhǔn)尺、塊規(guī)、環(huán)規(guī)、牙規(guī)、插捎規(guī)、栓規(guī)、錐度規(guī)、直角規(guī)、塞規(guī)、深度計(jì)、測(cè)長(zhǎng)儀等
　　力學(xué)儀器：推拉力計(jì)、扭力計(jì)、插拔力試驗(yàn)機(jī)、材料強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī)、螺絲強(qiáng)度扭力試驗(yàn)機(jī)、推拉力計(jì)測(cè)試臺(tái)、彈簧測(cè)試儀、阻力測(cè)試儀、張力計(jì)、拉力試驗(yàn)機(jī)等
　　材料/環(huán)境儀器：硬度計(jì)、耐摩擦試驗(yàn)機(jī)、耐腐蝕試驗(yàn)機(jī)、高斯計(jì)、高低溫試驗(yàn)機(jī)、冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)、溫濕度計(jì)等
　　儀器儀表：測(cè)溫儀、溫濕度記錄儀、數(shù)據(jù)處理器等
　　其它產(chǎn)品：放大鏡、水平儀、檢查規(guī)等