鍍層膜厚分析儀1.用的X射線技術,可率,小型的X-射線熒光光譜儀,操作簡易但大。
2.可分析元素由鋁(13)到鈾(92),并且具備視像顯微鏡及可測量小到ppm的范圍,即使是較大的測量樣品也可放在XY(Z)測量臺上。
3.拾載的WinFTM v6軟件,使儀器可以在沒有標準片的情況下進行測量。
4.能夠檢測各種大小的樣品，滿足鍍層厚度測量和材料分析。
5.新型號設計，快速分析（幾秒）1-4層鍍層厚度。
6.多款規(guī)格，例如標準樣品臺、加深樣品臺或自動程控樣品臺。
7.滿足樣品類型，開槽式樣品艙可檢測大面積樣品，例如印制線路板等。
2.可分析元素由鋁(13)到鈾(92),并且具備視像顯微鏡及可測量小到ppm的范圍,即使是較大的測量樣品也可放在XY(Z)測量臺上。
3.拾載的WinFTM v6軟件,使儀器可以在沒有標準片的情況下進行測量。
4.能夠檢測各種大小的樣品，滿足鍍層厚度測量和材料分析。
5.新型號設計，快速分析（幾秒）1-4層鍍層厚度。
6.多款規(guī)格，例如標準樣品臺、加深樣品臺或自動程控樣品臺。
7.滿足樣品類型，開槽式樣品艙可檢測大面積樣品，例如印制線路板等。
8.合ISO3487和ASTM B568檢測方法
鍍層膜厚分析儀作為一種在線測量厚度的精密儀器，在電鍍工藝生產中占有重要的，直接影響到電鍍產品的質量。鍍層控制系統(tǒng)接收到膜厚儀提供的實事厚度偏差信號對物料擠出機、物料加熱器進行控制。信號的準確和靈敏程度直接影響了鍍層產品厚度的。
x射線膜厚儀通過吧高壓直流電壓加在x射線的兩，產生不同能級的x射線穿過被測物，比較被測物兩端x射線的強度來進行在線厚度測量。
