HP8753C網(wǎng)絡(luò)分析儀為實驗室和生產(chǎn)測試領(lǐng)域提供了的RF網(wǎng)絡(luò)測量設(shè)備。當組合一套測試裝置，它為分析300kHz~6GHz的有源和無源網(wǎng)絡(luò)、器件與元件的線性特性提供了完滿的解決途徑。網(wǎng)絡(luò)分析儀有兩個的顯示通道，你可以同時測量待測器件的反射和傳輸特性，并以重疊或分離屏面的形式觀察測量結(jié)果。便于使用的預編程按鍵使你能快速測量待測器件的幅度、相位或群延遲特性
儀器型號>>射頻網(wǎng)絡(luò)分析儀HP8753C，300kHz~6GHz| ★頻率范圍：300kHz~ 6GHz ★集成化1Hz分辨率合成信號源 ★用外部磁盤驅(qū)動器直接存儲/調(diào)用 ★時域分析 ★用測試序列功能實現(xiàn)復雜的測試過程 ★達100dB的動態(tài)范圍 ★可測量群延遲和與線性相位的偏離 ★0.001dB,0.010,0.01ns的標記分辨率 ★內(nèi)置 ★掃描諧波測量描述 HP8753C網(wǎng)絡(luò)分析儀為實驗室和生產(chǎn)測試領(lǐng)域提供了的RF網(wǎng)絡(luò)測量設(shè)備。當組合一套測試裝置，它為分析300kHz~6GHz的有源和無源網(wǎng)絡(luò)、器件與元件的線性特性提供了完滿的解決途徑。網(wǎng)絡(luò)分析儀有兩個的顯示通道，你可以同時測量待測器件的反射和傳輸特性，并以重疊或分離屏面的形式觀察測量結(jié)果。便于使用的預編程按鍵使你能快速測量待測器件的幅度、相位或群延遲特性。 測試時序功能允許鍵入來、反復執(zhí)行復雜的任務(wù)。在時序工作方式下，從面板測量，分析儀便能儲存鍵入，以至無需額外編程。還可以利用測試時序經(jīng)HP-IB端口對其它裝置進行控制。另一些效率的措施包括繪圖儀/打印機緩沖區(qū)、限測試、任意頻率測試和標記跟蹤功能。分段校準和內(nèi)插誤差修正能HP8753C分析儀已校頻率范圍的某一區(qū)段上的矢量。 集成化的合成信號源提供大于100mW的輸出功率、1Hz頻率分辨率和線性、對數(shù)、列表、功率和連續(xù)波掃描類型。三個調(diào)諧接收機在300kHz ~ 3GHz(選件006擴展到6GHz)上在過100dB的動態(tài)范圍內(nèi)進行功率測量或同時進行比值測量。當HP8753C連接HP85047A測試裝置時，可以從300kHz~3GHz或從3MHz~6GHz(測試裝置帶有倍頻器)研究待測設(shè)備的反射和傳輸特性。非線性器件測試 HP8753C具有測量非線性器件特性的能力，當增加了諧波測量功能（選件002），可以直接或相對于基本載波（dBc）顯示放大器的掃描、二次和三次諧波電平。當一個作為基本信號的掃描頻率低于16MHz時，可以快速和方便的測量達40dBc放大器諧波，使用同樣的測試設(shè)備通常還用來測量增益。功率計校準相對輸入或輸出電平敏感的器件提供穩(wěn)幅的功率。HP8753C自動對HP436A、HP437B、或HP438A功率計進行控制，使在測試系統(tǒng)中任何處的功率都調(diào)到具有功率計的。分析儀還完成混頻器統(tǒng)調(diào)和變頻損耗測量。還能進行固定IF和掃描IF測量。時域分析 HP 8753C（帶選件010）具有顯示網(wǎng)絡(luò)時域響應(yīng)的功能，分析儀計算頻域響應(yīng)的傅立葉逆變換，顯示網(wǎng)絡(luò)的反射或傳輸系數(shù)與時間的關(guān)系。 HP 8753C提供了兩種時域模式，低通模式提供傳統(tǒng)的時域反射計(TDR)測量能力，并給出網(wǎng)絡(luò)的階躍響應(yīng)和沖擊響應(yīng)。這種模式給出在不連續(xù)狀態(tài)的阻(R，L，C)類型的信息。帶通時域模式，只有脈沖激勵，沒有頻率限制，并給出頻率選擇設(shè)備的時域響應(yīng)，比如SAW濾波器或天線。選通功能可以用來選擇性隔離一個信號響應(yīng)，并觀察一個沒有自身線路干擾的部件的單個部分的頻域響應(yīng)。HP 8753C一般技術(shù)指標 信號源 頻率特性 范圍：300kHz ~ 3GHz 分辨率：1Hz 準確度(25℃)：&plun;10ppm 輸出特性 功率范圍：-5 ~ +20dBm 電平(50MHz, +10dBm)：&plun;0.5dB 電平線性： -5~0dBm：&plun;0.5dB 0~15dBm：&plun;0.2dB +15~+20dBm：&plun;0.5dB 阻：50Ω 諧波： ≤-25dBc(20dBm輸出電平) ≤-50dBc(0dBm輸出電平) 非諧波 與混頻器有關(guān)的非諧波寄生信號： ≤-32dBc(20dBm輸出電平) ≤-55dBc（0dBm輸出電平) 其它寄生信號： f<135MHz：-60dBc f≥135MHz：-60dBc+20*log(f/135MHz)dBc 相位噪聲(1Hz帶寬，10kHz偏置)： f<135MHz：-90dBc f≥135MHz：90dBc+20*log(f/135MHz)dBc接收機 頻率范圍：300kHz~6GHz 輸入：A，B 100dB動態(tài)范圍<3GHz,95dB動態(tài)范圍3~6GHz 靈敏度(噪聲電平)： 3kHz帶寬： -90dBm<3GHz, -85dBm 3~6GHz 10Hz帶寬： -100dBm<3GHz, -95dBm 3~6GHz 輸入電平：0dBm 阻：50Ω 輸入交叉干擾： 300kHz~1GHz：-100dB 1GHz~3GHz：-90dB 3GHz~4.5GHz：-85dB 4.5GHz~6GHz：-75dB 動態(tài)：&plun;0.05dB,&plun;0.3o群延遲特性 范圍：1/(2×小孔徑) 孔徑：可選擇的 ：頻率間隔的20% ?。?頻率間隔)/(點數(shù)-1) 分辨率：27.8/孔徑（Hz） 典型值0.01ns ：相位/360×孔徑（Hz） 射頻連接器：50ΩN型（陰）結(jié)構(gòu)特性 尺寸：178mm(高)×425mm(寬)×498mm(長) 重量：凈重22公斤S參數(shù)測試裝置 這個S參數(shù)測試裝置提供用連接便能測量二端口器件在任何一個方向上的反射和傳輸特性（包括S參數(shù)）的功能。測試裝置由分析儀控制，并包括程控步進衰減器。HP85046A/B S參數(shù)測試裝置 HP85046A/B測試裝置能同時分別測量50Ω和75Ω器件的傳輸和反射特性。技術(shù)指標摘要
傳輸幅度，相位 0.3MHz~2.0MHz &plun;1.5dB, &plun;200 &plun;1.5dB, &plun;200 2.0MHz~Fmax &plun;1.5dB, &plun;100 &plun;1.5dB, &plun;100 反射幅度，相位 0.3MHz~2.0MHz &plun;1.5dB, &plun;250 &plun;1.5dB, &plun;250 2.0MHz~Fmax &plun;1.5dB, &plun;100 &plun;1.5dB, &plun;100信號源匹配(測試端口) 0.3MHz~2.0MHz 14dB 14dB 2.0MHz~1.3GHz 20dB 17dB 1.3GHz~Fmax 16dB 16dB射頻連接器 測試接口 精密7mm 75ΩN型(陰) 其它端口 50Ω N型(陰) 50ΩN型(陰)包括：4根長190mm，帶N型（陽）連接器的電纜用于連接HP8753C。一根HP8753C測試裝置互連電纜。結(jié)構(gòu)特性 尺寸：90mm(高)×426mm(寬)×553mm(長) 重量：凈重9.1公斤HP85047A S參數(shù)測試裝置 HP85047A測試裝置包括一個倍頻器，該倍頻器在接通時單次掃描進行3MHz~6GHz的測量或在斷開時單次掃描進行300kHz~3GHz的測量。HP8753C對倍頻器進行控制。為了啟動HP85047A而要求使用選件006(6GHz接收機)。技術(shù)指標摘要 阻：50Ω 頻率范圍： 300kHz~3GHz 3MHz~6GHz 方向性： 300kHz~1.3GHz: 35dB 1.3GHz~3GHz: 30dB 3GHz~6GHz: 25dB 典型的跟蹤 傳輸幅度、相位： 300kHz~3GHz: &plun;1.5dB, &plun;100 3GHz~6GHz: +0.5, -2.5dB, &plun;200 反射幅度、相位： 300kHz~3GHz: &plun;1.5dB, &plun;100 3GHz~6GHz: &plun;1.5dB, &plun;200 信號源匹配： 300kHz ~1.3GHz: 20dB 1.3GHz~3GHz: 16dB 3GHz~6GHz: 14dB 射頻連接器 測試端口：精密7mm 其它端口：50Ω N型(陰) 包括：4根長190mm，帶N型(陽)連接器的電纜用于連接 HP8753C，1根HP8753C測試裝置互連電纜。 結(jié)構(gòu)特性 尺寸：90mm（高）×426mm（寬）×508mm（長） 重量：凈重10公斤固態(tài)開關(guān) 固態(tài)開關(guān)能同時測量正向和反向參數(shù)以及不斷更新四個S參數(shù)，以適應(yīng)二端口誤差修正的要求(用來獲得可能的)。選件009用機械射頻開關(guān)代替標準固態(tài)射頻測試端口開關(guān)。HP8753系統(tǒng)的技術(shù)指標對標準件和選件009是一樣的。固態(tài)開關(guān)的額定損耗比機械開關(guān)低2dB(在3GHz處)或3dB(在6GHz處)。HP86389A/B固態(tài)開關(guān)升級配件 HP86389A/B配件用固態(tài)射頻開關(guān)代替機械射頻測試端口開關(guān)的方法來改進現(xiàn)有的HP85046A/B和HP85047A S參數(shù)測量裝置。這種固態(tài)開關(guān)允許同時測量正向和反向參數(shù)以及連續(xù)測量四個S參數(shù)（二端口誤差修正所要求）。 HP86389A更新HP85046A/B測試裝置，HP86389B則更新HP85047A測試裝置。具有固化軟件版本3.0或更新版本的HP8753C網(wǎng)絡(luò)分析儀支持固態(tài)測試裝置。附件 HP86205A/86207A射頻電橋 HP86205A/86207A高方向性射頻電橋在各種各樣的通用應(yīng)用場合中能提供的性能。它們適用于的反射測量和信號穩(wěn)幅應(yīng)用。技術(shù)指標摘要
尺寸：93mm(高)×160mm(寬)×23mm(長) 重量：凈重0.57公斤HP11850C/D三路功分器 技術(shù)指標摘要
每套配件包括1個N型(陰)短路器、1個N型(陽)短路器、2根N型(陽)空心線、2根N型(陰)空心線和存放箱。HP11853A 50Ω N型輔助配件 HP11853A輔助配件提供利用HP11850C、85044A、85046A或85047A對具有50Ω N型接頭的器件進行測量所需的射頻元件。測試端口電纜 HP11857D 50Ω APC-7測試端口電纜 HP11857D包括2根在1.3GHz上相位匹配到20的長61cm的精密電纜，用于與HP85046A S參數(shù)測試裝置聯(lián)用。接頭均采用50Ω APC-7。校準配件 HP8753C的校準配件包含在過程中使用的一些精密標準件，用以表征HP8753C測量系統(tǒng)的系統(tǒng)誤差。HP85032B 50Ω N型校準配件 HP85032B校準配件包括用來校準HP8753C的50ΩN型標準件及其用于測量具有50ΩN型接頭器件的50Ω測試裝置的精密50ΩN型標準件。還包括對不可器件進行測量的精密相位匹配的7mm轉(zhuǎn)50ΩN型適配器。標準件包括具有陰、陽接頭的固定終端負載、開路器和短路器。HP85036B 75Ω N型校準配件 HP85036B 75Ω N型校準配件包括用來校準HP8753C的精密75Ω N型標準件及用于測量具有75ΩN型接頭器件的75Ω測試裝置。標準件包括具有陰、陽接頭的固定終端負載、開路器和短路器。還包括對不可器件進行測量的精密相位匹配的適配器。訂貨信息 HP8753C 網(wǎng)絡(luò)分析儀 Opt 002 諧波測量功能 Opt 006 6GHz頻率擴展 Opt 010 時域功能 HP85047A 50Ω S參數(shù)測試裝置―6GHz HP85046A 50Ω S參數(shù)測試裝置―3GHz HP85046B 75Ω S參數(shù)測試裝置―300kHz~2GHz HP85032B 50ΩN型校準配件 HP85036B 75ΩN型校準配件 HP86205A 50Ω電橋 HP86207A 75Ω電橋 HP11850C 50Ω功分器 HP11850D 75Ω功分器 HP11853A 50ΩN型輔助配件 HP11857D 50Ω APC-7測試端口電纜 |
