X射線衍射儀可在大氣中分析樣品，進行物質(zhì)的定性分析、晶格常數(shù)確定和應(yīng)力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析。
　　可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結(jié)晶度/精密X射線結(jié)構(gòu)解析等各種分析。
　　X射線發(fā)生部　2kw或3kw（CPU控制）
　　測角儀θ/2θ聯(lián)動，θ、2θ
　　掃描范圍-6°~163°（2θ），-180°~180°（θ）
　　數(shù)據(jù)處理部　windows　2000/XP對應(yīng)
　　X射線衍射儀可在大氣中分析樣品，進行物質(zhì)的定性分析、晶格常數(shù)確定和應(yīng)力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析。
　　可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結(jié)晶度/精密X射線結(jié)構(gòu)解析等各種分析。
　　垂直型測角儀
　　配備高垂直型測角儀，適用于粉末、薄膜、難于固定的樣品、易溶樣品等各種樣品的測定。
　　XRD-6000具有本質(zhì)結(jié)構(gòu)。
　　只有門連鎖機構(gòu)閉鎖時，X射線管才能開啟，具備高性。
　　配備運轉(zhuǎn)（1000°/min）及高角度重現(xiàn)性（&plun;0.0001°）的垂直型測角儀，可進行各種樣品的測定。
　　驅(qū)動機構(gòu)為2軸驅(qū)動，可選擇θ-2θ聯(lián)動或θ、2θ軸驅(qū)動，對薄膜測定行之。
　　備有豐富的附件（軟件/硬件）來滿足多種需要。
　　對應(yīng)工業(yè)環(huán)境測定標準/工業(yè)環(huán)境評價標準修訂
　　X射線衍射儀XRD-6000環(huán)境測定包
　　適合工業(yè)環(huán)境中的游離硅及石棉的定性/定量分析?！?