用途：特性阻測(cè)試系統(tǒng)是采用時(shí)域反射技術(shù)設(shè)計(jì)的，能夠批量化、自動(dòng)化、快速、準(zhǔn)確測(cè)試PCB跡線的特性阻，并提供測(cè)試波形分析、統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)分析、自動(dòng)記錄測(cè)試數(shù)據(jù)、自動(dòng)出具檢測(cè)并打印等功能。適用于電路板制造廠商的研發(fā)、設(shè)計(jì)、生產(chǎn)及品管單位。為高頻線路板特性阻測(cè)試提供了一套快速、準(zhǔn)確、標(biāo)準(zhǔn)和經(jīng)濟(jì)的解決方案。

　　特點(diǎn)：
　　1、批量化、自動(dòng)化測(cè)試，操作簡(jiǎn)單、測(cè)試快捷，適合PCB工廠快速測(cè)試。
　　2、Windows操作環(huán)境，友好的人機(jī)界面，自動(dòng)出具測(cè)試結(jié)果。
　　3、提供單端和差分阻測(cè)試。
　　4、支持2通道、4通道及8通道測(cè)試。
　　5、快速定制測(cè)試任務(wù)及批量化、自動(dòng)化測(cè)試功能。
　　6、集成測(cè)試文件編輯器，快速設(shè)置測(cè)試參數(shù)。
　　7、自動(dòng)記錄測(cè)試數(shù)據(jù)，生成報(bào)表并保存在磁盤上。
　　8、顯示測(cè)試波形、統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)分析及測(cè)試結(jié)果。
　　9、打印測(cè)試報(bào)表、波形及測(cè)試結(jié)果。
　　10、合-TM-650和2141標(biāo)準(zhǔn)。