JY-3128是專門用于測(cè)試邦定IC引腳開短路功能的儀器。隨著邦定內(nèi)部晶片體積越來越小，引腳越來越密，在生產(chǎn)過程很容易中出現(xiàn)引線短路或開路現(xiàn)象，而且目視檢查分辨困難，一般的功能測(cè)試也測(cè)試引腳，而且測(cè)試的時(shí)間長(zhǎng)，本儀器具有樣機(jī)學(xué)習(xí)功能，快速比較在測(cè)試板與樣板之間的內(nèi)部阻差異，通過LCD顯示屏，直接顯示開路或短路的引腳，具有自動(dòng)找點(diǎn)的功能，十分順利的找到不良的地方。全中文的操作界面，還帶有自動(dòng)計(jì)數(shù)功能，良品與不良品分開計(jì)數(shù)，使用為方便！
　　
　　主要功能：
　　測(cè)試IC的引腳是否開路。
　　測(cè)試IC相鄰之間的線是否短路。
　　能自動(dòng)的列出不良品的位置，方便修理。
　　具有找點(diǎn)功能，方便的尋找不良點(diǎn)的位置。
　　具有學(xué)習(xí)功能，自動(dòng)的記錄每個(gè)引腳參數(shù)。
　　具有自動(dòng)重測(cè)功能，當(dāng)測(cè)試機(jī)架的測(cè)試針接觸不良時(shí)，儀器會(huì)自動(dòng)測(cè)試不良的位置
　　可儲(chǔ)存100個(gè)產(chǎn)品的測(cè)試數(shù)據(jù)，相同型號(hào)的產(chǎn)品建立數(shù)據(jù)，再次使用時(shí)可直接調(diào)用，每次測(cè)試前，產(chǎn)品參數(shù)將會(huì)顯示出來。
　　可測(cè)試多達(dá)128個(gè)引腳。
　　具有標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試模式與自動(dòng)測(cè)模式，在自動(dòng)測(cè)試模式下，測(cè)試時(shí)可不對(duì)儀器進(jìn)行任何操作，自動(dòng)測(cè)試，因此測(cè)試速度更快。
　　支持多片同時(shí)測(cè)試，連片同時(shí)測(cè)試。
　　測(cè)試的誤差系數(shù)可調(diào)整。
　　良品與不良品有不同的提示音，在測(cè)試過程中只聽聲音便可得知測(cè)試結(jié)果，測(cè)試更輕松。
　　具有統(tǒng)計(jì)功能，自動(dòng)記錄良品的數(shù)量，良品率，及開路，短路等數(shù)據(jù)。