的菲尼克斯nanotom M是一款適合于科學(xué)和工業(yè)領(lǐng)域的納米焦點(diǎn)系統(tǒng)，3D測(cè)量技術(shù)廣泛適用于各種樣品。采用設(shè)計(jì)的180kV/15W高功率納米焦點(diǎn)X射線管，配備了內(nèi)置水冷系統(tǒng)和溫度穩(wěn)定型數(shù)字探測(cè)器。該系統(tǒng)具備的空間分辨率和對(duì)比度分辨率適用于廣泛的樣品和應(yīng)用領(lǐng)域：小到小型的生物、地質(zhì)樣本；中到中型的工業(yè)模塊，例如塑料射嘴或注塑模型；再到金屬嵌件。全自動(dòng)執(zhí)行掃描、重建和過(guò)程分析了它的易用性、快捷性以及結(jié)果的性。一經(jīng)掃描，全3D的信息為各種分析提供了可能。例如，非破壞性可視化切片、任意截面的觀察、自動(dòng)空洞分析。當(dāng)整個(gè)幾何物體掃描后，就能實(shí)現(xiàn)對(duì)復(fù)雜物體的3D測(cè)量甚至能夠在一小時(shí)內(nèi)自動(dòng)生成一份檢測(cè)。
主要特征
的成像質(zhì)量得益于采用了的溫度穩(wěn)定型DXR數(shù)字平板探測(cè)器，能夠?qū)崿F(xiàn)﹥10，000：1的高動(dòng)態(tài)范圍檢測(cè)；
的高功率、長(zhǎng)壽命、開(kāi)放式納米焦點(diǎn)X射線管，細(xì)節(jié)分辨率為200nm，工作穩(wěn)定；
3D測(cè)量應(yīng)用捆綁的模塊包括：空調(diào)室、高度的花崗巖基座線性測(cè)量系統(tǒng)、振的操作臺(tái)、鉆石窗口、標(biāo)定物、datos｜x 2.0包（點(diǎn)-測(cè)功能、3D測(cè)量功能）
客戶優(yōu)勢(shì)
的空間分辨率和對(duì)比度分辨率適用于廣泛的樣品和應(yīng)用領(lǐng)域，從小型的生物樣本到中型的塑料樣品，覆蓋了三個(gè)數(shù)量級(jí)（樣本尺寸：0.25mm到250mm，重量3kg/6.6lb）
優(yōu)化配置的3D測(cè)量軟件包能提供穩(wěn)定的、可再現(xiàn)的環(huán)境和數(shù)據(jù)采集條件，在幾分鐘內(nèi)就能完成快速重建和測(cè)量結(jié)果再現(xiàn)
系統(tǒng)采用了菲尼克斯datos｜x 2.0軟件使操作變得更簡(jiǎn)便
鉆石窗口能提供更高功率的焦點(diǎn)，相同圖像質(zhì)量的前提下數(shù)據(jù)采集效率了整整一倍（可選）
3D
X射線3D 在工業(yè)中的傳統(tǒng)應(yīng)用范圍無(wú)非是對(duì)金屬和塑料鑄件進(jìn)行檢測(cè)和三維測(cè)量。然而，菲尼克斯的高分辨率X射線技術(shù)卻在傳感技術(shù)、電子、材料科學(xué)及其他自然科學(xué)中開(kāi)辟了的應(yīng)用領(lǐng)域。
傳感和電氣工程
對(duì)于傳感器和電子部件的檢測(cè)而言，高分辨率X射線技術(shù)通常被用于檢測(cè)、評(píng)估觸電、接頭、外殼、緣體和封裝狀況。還能在不破壞器件的前提下檢測(cè)半導(dǎo)體元件和電氣設(shè)備（焊點(diǎn)）。
材料科學(xué)
高分辨率（微米或納米）不能用于檢測(cè)常規(guī)材料、復(fù)合材料，陶瓷材料和燒結(jié)，還能分析地質(zhì)樣本和生物樣本。在微米分辨率下就能對(duì)材料中成分的分布、空洞和裂痕實(shí)現(xiàn)三維可視化。
測(cè)量技術(shù)
X射線3D測(cè)量技術(shù)能夠?qū)?fù)雜工件的內(nèi)部實(shí)現(xiàn)非破壞性測(cè)量。相比于傳統(tǒng)的觸點(diǎn)坐標(biāo)測(cè)量技術(shù)，掃描能夠同時(shí)獲取工件表面的點(diǎn)，包括隱藏的特征。如浮雕，采用其他的測(cè)量方式進(jìn)行非破壞性測(cè)量是不可能實(shí)現(xiàn)的。V｜tome｜x配備的的3D測(cè)量包提供了實(shí)現(xiàn)、可重復(fù)性、界面友好的三維測(cè)量所需的。從校正模塊到表面提取模塊。除了二維壁厚測(cè)量，的體數(shù)據(jù)能夠快速、簡(jiǎn)便地與CAD數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)比。比如可以用來(lái)分析整個(gè)部件的尺寸是否合設(shè)計(jì)的尺寸。
塑料工程
在塑料工程中，高分辨率X射線技術(shù)通過(guò)檢測(cè)收縮腔、水泡、焊接線、裂縫以及缺陷分析來(lái)優(yōu)化鑄件和噴漆工藝。X射線（微米或納米）能夠提供三維圖像以展示工件的特征，諸如晶體流動(dòng)模式，填充物分布和低對(duì)比度缺陷。
地質(zhì)/生物科學(xué)
高分辨率（微米或納米）廣泛應(yīng)用于地質(zhì)樣品的檢測(cè)，例如探測(cè)新能源。高分辨率系統(tǒng)提供的三維圖像能夠展示別的巖石樣本、粘合劑、水泥、孔隙，以便更地判定當(dāng)前樣品的特性，諸如在含油層中空洞的大小及位置。
產(chǎn)品規(guī)格
管電壓 180kV
管功率 15W
細(xì)節(jié)分辨能力 200um
射線源到探測(cè)器距離 150mm到600mm
像素分辨率（依工件尺寸而定）<300nm
幾何放大倍率（3D）1.5倍-300倍
工件尺寸（高度X直徑）250mmX240mm/9.48寸X9.45寸
工件重量 3kg/6.6lb
圖像鏈 7M數(shù)字平板探測(cè)器
2D X射線成像不支持
3D 支持
系統(tǒng)尺寸 1980X1600X900（78X63X35.4）
系統(tǒng)重量 1900kg/4189lb
射線護(hù)全封閉射線護(hù)室，合德國(guó)R？V和美國(guó)績(jī)效標(biāo)準(zhǔn)21th CFR1020.40
輻射劑量率<1 uSv/h
主要特征
的成像質(zhì)量得益于采用了的溫度穩(wěn)定型DXR數(shù)字平板探測(cè)器，能夠?qū)崿F(xiàn)﹥10，000：1的高動(dòng)態(tài)范圍檢測(cè)；
的高功率、長(zhǎng)壽命、開(kāi)放式納米焦點(diǎn)X射線管，細(xì)節(jié)分辨率為200nm，工作穩(wěn)定；
3D測(cè)量應(yīng)用捆綁的模塊包括：空調(diào)室、高度的花崗巖基座線性測(cè)量系統(tǒng)、振的操作臺(tái)、鉆石窗口、標(biāo)定物、datos｜x 2.0包（點(diǎn)-測(cè)功能、3D測(cè)量功能）
客戶優(yōu)勢(shì)
的空間分辨率和對(duì)比度分辨率適用于廣泛的樣品和應(yīng)用領(lǐng)域，從小型的生物樣本到中型的塑料樣品，覆蓋了三個(gè)數(shù)量級(jí)（樣本尺寸：0.25mm到250mm，重量3kg/6.6lb）
優(yōu)化配置的3D測(cè)量軟件包能提供穩(wěn)定的、可再現(xiàn)的環(huán)境和數(shù)據(jù)采集條件，在幾分鐘內(nèi)就能完成快速重建和測(cè)量結(jié)果再現(xiàn)
系統(tǒng)采用了菲尼克斯datos｜x 2.0軟件使操作變得更簡(jiǎn)便
鉆石窗口能提供更高功率的焦點(diǎn)，相同圖像質(zhì)量的前提下數(shù)據(jù)采集效率了整整一倍（可選）
3D
X射線3D 在工業(yè)中的傳統(tǒng)應(yīng)用范圍無(wú)非是對(duì)金屬和塑料鑄件進(jìn)行檢測(cè)和三維測(cè)量。然而，菲尼克斯的高分辨率X射線技術(shù)卻在傳感技術(shù)、電子、材料科學(xué)及其他自然科學(xué)中開(kāi)辟了的應(yīng)用領(lǐng)域。
傳感和電氣工程
對(duì)于傳感器和電子部件的檢測(cè)而言，高分辨率X射線技術(shù)通常被用于檢測(cè)、評(píng)估觸電、接頭、外殼、緣體和封裝狀況。還能在不破壞器件的前提下檢測(cè)半導(dǎo)體元件和電氣設(shè)備（焊點(diǎn)）。
材料科學(xué)
高分辨率（微米或納米）不能用于檢測(cè)常規(guī)材料、復(fù)合材料，陶瓷材料和燒結(jié)，還能分析地質(zhì)樣本和生物樣本。在微米分辨率下就能對(duì)材料中成分的分布、空洞和裂痕實(shí)現(xiàn)三維可視化。
測(cè)量技術(shù)
X射線3D測(cè)量技術(shù)能夠?qū)?fù)雜工件的內(nèi)部實(shí)現(xiàn)非破壞性測(cè)量。相比于傳統(tǒng)的觸點(diǎn)坐標(biāo)測(cè)量技術(shù)，掃描能夠同時(shí)獲取工件表面的點(diǎn)，包括隱藏的特征。如浮雕，采用其他的測(cè)量方式進(jìn)行非破壞性測(cè)量是不可能實(shí)現(xiàn)的。V｜tome｜x配備的的3D測(cè)量包提供了實(shí)現(xiàn)、可重復(fù)性、界面友好的三維測(cè)量所需的。從校正模塊到表面提取模塊。除了二維壁厚測(cè)量，的體數(shù)據(jù)能夠快速、簡(jiǎn)便地與CAD數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)比。比如可以用來(lái)分析整個(gè)部件的尺寸是否合設(shè)計(jì)的尺寸。
塑料工程
在塑料工程中，高分辨率X射線技術(shù)通過(guò)檢測(cè)收縮腔、水泡、焊接線、裂縫以及缺陷分析來(lái)優(yōu)化鑄件和噴漆工藝。X射線（微米或納米）能夠提供三維圖像以展示工件的特征，諸如晶體流動(dòng)模式，填充物分布和低對(duì)比度缺陷。
地質(zhì)/生物科學(xué)
高分辨率（微米或納米）廣泛應(yīng)用于地質(zhì)樣品的檢測(cè)，例如探測(cè)新能源。高分辨率系統(tǒng)提供的三維圖像能夠展示別的巖石樣本、粘合劑、水泥、孔隙，以便更地判定當(dāng)前樣品的特性，諸如在含油層中空洞的大小及位置。
產(chǎn)品規(guī)格
管電壓 180kV
管功率 15W
細(xì)節(jié)分辨能力 200um
射線源到探測(cè)器距離 150mm到600mm
像素分辨率（依工件尺寸而定）<300nm
幾何放大倍率（3D）1.5倍-300倍
工件尺寸（高度X直徑）250mmX240mm/9.48寸X9.45寸
工件重量 3kg/6.6lb
圖像鏈 7M數(shù)字平板探測(cè)器
2D X射線成像不支持
3D 支持
系統(tǒng)尺寸 1980X1600X900（78X63X35.4）
系統(tǒng)重量 1900kg/4189lb
射線護(hù)全封閉射線護(hù)室，合德國(guó)R？V和美國(guó)績(jī)效標(biāo)準(zhǔn)21th CFR1020.40
輻射劑量率<1 uSv/h
